Растр и способ определения деформаций с помощью растра Советский патент 1991 года по МПК G01B11/16 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при измерении деформаций с помощью оптических средств

Целью изобретения является повышение точности измерений за счет раздельной регистрации муаровых картин и обеспечение возможности управле™ ния чувствительностью измерении путём ее дискретного изменения

На изображен растр содержащий системы полос, ориентированные друг относительно друга под углом 90°(а, г) и 0° (б,в); на - устройства для реализации предлагаемого способа

Устройства для реализации способа определения деформаций с помощью растра содержат растр 1, источник 2 света, анализатор 3, фотокамеру 4.

Полосы выполнены из материала, обладающего поляризационными свойст- вами, такими, что плоскости поляри- 3ации полос, относящихся к разным системам, ориентированы по разным направлениям Шаг полос в разных системах различен (фиг.1 б,в,). Растр может быть выполнен из полос с одина-- ново ориентированными плоскостями поляризации, пространство между которыми заполнено материалом с другой

4W

СП

00

(фиг02в)9 Растр 1 с параллельными си-; стенами полос устанавливают вблизи поверхности объекта При освещении объекта белым светом от источника 2 возникают муаровые картины интерференции полос растра 1 с полосами, спроецированными на поверхность объекта., Начальные картины фотографируют фотоТаким образом, фотографируют муаровые картины после деформирования 15 объекта При этом получают муаровые картины, соответствующие различным шагам полос, т,е„ разной чувствительности системы,,

ориентацией плоскости поляризации

(фИГ01г)о

Способ определения деформаций с помощью растра осуществляют следующим образомо

Растр 1 размещают на поверхности объекта или вблизи нее, освещают .. растр 1,регистрируют его изображения

до и после деформации и получают муа-jQ камерой 4 при совмещении плоскостей ровые картины.поляризации анализатора 3 и каждой

Освещение растра 1 производят с по- системы полос растра в отдельности мощью источника 2 света0 На пути света, прошедшего растр 1, устанавливают (фиго 26, в) анализатор 3 с возможностью поворота плоскости поляризациио Регистрацию изображений растра производят раздельно при совмещении плоскостей поляризации каждой системы полос и ана- 20 ф ° Р м У л а изобретения лизатора 3„ Таким образом получают10 Растр, содержащий системы подве раздельные картины муаровых по-лос, ориентированные одна относилос, несущие информацию о перемеще-тельно другой под углом, кратным /2,

циях точек исследуемого объекта вотличающийся тем, что,

двух различных направлениях По муа- 25 с целью повышения точности измерений, ровым картинам определяют деформации0полосы выполнены из материала, облаСлособ -может быть реализован с по- дающего поляризационными свойствами, мощью различных устройств (фиг02а,б,вА такими, что плоскости поляризации поИо схеме (фиг,2а) анализатор 3 мо- лос, относящихся к разным системам, жет быть размещен между растром 3 и 0 ориентированы по разным направлениям,, источником 2 света, а регистрация муа-20 Растр по п01, о т л и ч а ю ровых картин ведется раздельно двумя фотокамерами 40 Каждая фотокамера 4 регистрирует свою систему полос при совмещении плоскостей поляризации этой системы и анализатора 30 В результате наложения изображений недеформированного и деформированного растров I на негативах фотокамер 4 ТОм, что растр размещают на поверх- образуются две раздельные картины муа-4о ности объекта или вблизи нее, осве- ровых полос, несущие информацию о де- растр, регистрируют его изобра- формацилх по двум направлениям:,жения до и после деформации, получаНо схеме (фиг02б) растр 1 нане-ют муаровые картины и по ним опредесен на объект и на прозрачную плас-ляют деформации, отличающийтину, помещенную вблизи поверхности 45 с я тем, что, с целью повышения точ- объектас На поверхности объекта - из- ности измерений и обеспечения воз- вестный растр на пластине - пред- можности управления чувствительностью лагаемыно После деформации объектаизмерений путем ее дискретного измевозникают муаровые картины, которыенения, на пути света, прошедшего

фотографируют раздельно фотокамерой растр, устанавливают анализатор с воз- 4 при совмещении плоскостей поляриза- . можностью поворота плоскости поляри- ции анализатора 3 с плоскостями поля- зации, совмещают плоскости поляриза- рнзации каждой системы полос растра 10 щщ каждой системы и анализатора и

Предлагаемый способ может быть pea- производят раздельную регистрацию лизован но схеме теневого муара изображений растра0

щ и и с я тем, что, с целью обеспечения возможности управления чувствительностью измерений путем ее дис- 35 кратного изменения, шаг полос в разных системах различено

30 Способ определения деформаций с помощью растра, заключающийся в

(фиг02в)9 Растр 1 с параллельными си-; стенами полос устанавливают вблизи поверхности объекта При освещении объекта белым светом от источника 2 возникают муаровые картины интерференции полос растра 1 с полосами, спроецированными на поверхность объекта., Начальные картины фотографируют фотоТаким образом, фотографируют муаровые картины после деформирования объекта При этом получают муаровые картины, соответствующие различным шагам полос, т,е„ разной чувствительности системы,,

системы полос растра в отдельности ф ° Р м У л а изобретения 10 Растр, содержащий системы поТОм, что растр размещают на поверх- ности объекта или вблизи нее, осве- растр, регистрируют его изобра- жения до и после деформации, получащ и и с я тем, что, с целью обеспечения возможности управления чувствительностью измерений путем ее дис- кратного изменения, шаг полос в разных системах различено

30 Способ определения деформаций с помощью растра, заключающийся в

г

s

Z

m

/

ЙЙ2222)

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при измерении деформаций с помощью оптических средство Цель изобретения - повышение точности измерений за счет раздельной регистрации муаровых картин и обеспечение возможности управления чувствительностью измерений путем ее дискретного изме- нения. Растр из материала, обладающего поляризационными свойствами, размещают на поверхности объекта или вблизи нее, освещают растр, регистрируют его изображения до и после деформации и получают муаровые картины На пути света, прошедшего растр, размещают анализатор с возможностью поворота плоскости поляризацииt а регистрацию изображений растра производят фотокамерами раздельно при совмещении плоскостей поляризации разных систем полос растра и анализато- s ра„ По муаровым картинам определяют деформации. 1 э0п0ф-лы, 2 ил. Ј2 &

ZZ2ZZZZZZZ

Л

CT

8

фиг.1