Устройство для контроля качества объективов Советский патент 1991 года по МПК G01M11/02 

К,

где у - расстояние в плоскости модулятора от оптической оси

55

мериА сотит w (arccosx

tco.(.)

Rft

cos

)1

nuj

arccos (

Измерения производятся над сигналами поступающими с фотоприемйиков J2 и 13. Процесс измерений в конечном счете необходим для сравнения измеренных значений с пороговыми значениями. Если хоть один из трех суммарных сигналов окажется меньше порогового значения, испытуемый объектив считается негодным и электронный блок подает соответствующий сигнал.

Формула изобретения

. Устройство для контроля качества объективов, содержащее последовательно расположенные источник света, тест-объект, коллиматорный объектив, отклоняющее зеркало, блок анализа изображения, включающий дисковый модулятор и фотоприемник, элек.трон- ный блок, содержащий измерительный и логический блоки и индикатор годности, отличающееся тем, что, с целью сокращения времени и повышения точности контроля, перед отклоняющим зеркалом под углом 45 и оптической оси коллиматорного объектива установлено полупрозрачное зеркало, тест-объект выполнен в .виде стеклянной пластины, на которую нанесены две взаимно перпендикулярные прозрачные щели на непрозрачном фоне, в блоке анализа изображения введены 3 фотоприемника и измеритель угла поворота модулятора, на диске модулятора нанесены три прозрачные дорожки на непрозрачном фоне, представляющие собой совокупность рав- ноотстоящих параллельных узких прозрачных щелей, нанесенных по концентрическим окружностям с радиусами R

R „ .zliJiE F.

5 &

-Ј

5

/

где у - расстояние в плоскости модулятора от оптической оси испытуемого объектива до , контролируемой точки поля зрения;

1 - длина щели на диске модулятора;

R. - расстояние от оси вращения модулятора до оптической оси испытуемого объектива.

причем в двух дорожках модулятора с радиусами R- и R направление каждой из щелей ориентировано под углом 45й к направлению на ось вращения мо- Q дулятора и под углом друг к другу в третьей с радиусом RT направления щелей составляет угол tf с направлением на ось вращения модулятора,

25 гДе

f V

причем модулятор установлен на оси вращения под углом Od к ней, т.е.

где Д L

. &1Г arctg - ,

- погрешность положения фо- калькой плоскости испытуемого объектива

ось вращения модулятора параллельна оптической оси и расположена относительно ее так чтобы угол в плоскости диска модулятора с верти- ной в контролируемой точке поля Эре-,

ния между осью вращения модулятора и оптической осью испытуемого объектива был равен 45°, фотоприемники расположены за плоскостью диска модулятора вблизи соответствующих дорожек, а электронный блок включает в себя три идентичных канала, связанных с соответствующими фотоприем- никами.

Ж 1Ж-1

Изобретение относится к контролю качества оптических систем и мо- использовано для быстрого контроля качества объективов по их оптической передаточной Функции. 1 ель изобретения - сокращение времени и повышение точности контроля за счет исключения необходимости использования микрообъектива. Изображения тест- объекта 2 строятся коллиматорным 3 и испытуемым 6 объективами с помотЫп полупрозрачного 4 и отклоняющего 5 зеркал в контролируемых точках центра и угла поля зрения фокальной плоскости объектива и аналитизируются с помощью модулятора 7 и фотоприемников 8, 12 и 13, Модулятор равномерно вращается с помощью двигателя 11, одновременно осуществляя глубинное сканирование изображений за счет установления его на оси вращения под углом к ней. Обработка сигналов и поиск фокальной плоскости осуществляется с помощью измерителя 10 угла поворота положения модулятора в элек. тронном блоке 9. 4 ил. (Л

12

Фиг. 2

фцг.З