Устройство контроля формы асферической поверхности линзы в процессе ее обработки Советский патент 1991 года по МПК G01M11/00 

Изобретение относится к оптическому приборостроению.

Целью изобретения является повышение производительности контроля в процессе обработки в серийном производстве.

На чертеже представлена принципиальная схема устройства, которое содержит патрон 1 с закрепленным на нем гильзой 2 с прикрепленной на смоле обрабатываемой асферической линзой 3, которая обращена к гильзе предварительно обработанной асферической поверхностью, являющейся ее базой. Линзы 4 компенсатора закреплены в полой части патрона так, чтобы в полученной оптической системе была исправлена волновая аберрация, а также обеспечивался

автоколлимационный ход лучей Кроме того устройство содержит анализатор 5

Устройство работает следующим образом.

Оно устанавливается на обрабатывающем станке на котором производится обработка асферической поверхности После обработки от нее отводится режущий инструмент и со стороны обработанной поверхности линзы 3 к устройству подводится анализатор 5 В качестве анализатора испо ть- зуется осветительная (рабочая) эталонная и регистрирующая ветви интерферометра Оптические элементы 3 и 4, закрепленные в патроне, являются рабочей ветвью полученного интерферометра типа Тваймз на-Гри- на Сравнивая волновой фронт выходящий

о о

а о

из рабочей ветви, с эталонным фронтом, определяют разность хода лучей интерференционной картины, которую наблюдают визуально или регистрируют на фотоприемнике, и по анализу интерференционной картины судят о качестве обработки асферической поверхности. В случае необходимости обработку целиком или по зонам можно продолжить после отвода анализатора из зоны действия обрабатывающего инструмента.

Формула изобретения Устройство контроля формы асферической поверхности линзы в процессе ее об0

работки, включающее точечный источник излучения, установленный перед контролируемой асферической линзой, компенсатор с зеркальной поверхностью и анализатор волнового фронта, отличающееся тем, что, с целью повышения производительности контроля, контролируемая линза закреплена в гильзе, жестко соединенной с патроном, установленным в шпинделе обрабатывающего станка, причем компенсатор установлен за контролируемой линзой в полой части патрона, а оптические оси контролируемой линзы и компенсатора совмещены с осью вращения патрона.

Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для контроля формы асферических поверхностей линз в процессе их обработки. Целью изобретения является повышение производительности контроля в процессе обработки в условиях серийного производства. Устройство содержит контролируемую асферическую линзу 3, компенсатор 4, обеспечивающий автоколлимационный ход лучей после отражения от зеркальной поверхности, и анализатор 5, содержащий осветительную, эталонную и регистрирующие ветви интерферометра. Контролируемая асферическая линза закреплена в гильзе, жестко соединенной с патроном, установленным в шпинделе обрабатывающего станка. Компенсатор установлен в полой части патрона, а оптические оси контролируемой линзы и компенсатора совмещены с осью вращения патрона. Контроль формы поверхности заключается в анализе интерференционной картины, получаемой в результате интерференции эталонного и рабочего волновых фронтов. Рабочий волновой фронт формируется после прохождения излучения дважды через оптические элементы, закрепленные в патроне. 1 ил.

П-,