Способ определения параметров напряженно-деформированного состояния объекта Советский патент 1991 года по МПК G01B11/16 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при исследованиях напряженно-деформированного состояния объектов из оптически чувствительных материалов.

Целью изобретения является повышение информативности путем определения суммы главных напряжений.

Способ осуществляется следующим образом.

К объекту из оптически чувствительного материала прикладывают механическую нагрузку. Просвечивают объект поляризованным излучением и регистрируют интерференционную картину, по которой определяют разность главных напряжений и разность главных деформаций. Одновременно с регистрацией интерференционной картины регистрируют фотоприемником интенсивность отраженного или прошедшего излучения. Экспериментально установлено, что величины этих

интенсивностей однозначно связаны с суммой главных напряжений. Определяют сумму главных напряжений, а также сумму главных деформаций. На основе полученных данных определяют значения главных напряжений и деформаций,

Формула изобретение Способ определения параметров напря- женно-деформированного состояния объекта, заключающийся в том, что просвечивают объект поляризованным излучением, регистрируют интерференционную картину и по ней определяют параметры напряженно-деформированного состояния, отличающийся тем, что, с целью повышения информативности путем определения суммы главных напряжений, одновременно с регистрацией интерференционной картины регистрируют интенсивность отраженного или прошедшего излучения и по ее величине определяют сумму главных напряжений.

О 4

О OJ 00 00

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при исследованиях напряженно-деформированного состояния объектов из оптически чувствительных материалов. Целью изобретения является повышение информативности путем определения суммы главных напряжений. К объекту из оптически чувствительного материала прикладывают механическую нагрузку. Просвечивают объект поляризованным излучением и регистрируют интерференционную картину, по которой определяют разность главных напряжений. Одновременно с этим регистрируют интенсивность отраженного или прошедшего излучения и по ней находят сумму главных напряжений. По полученным данным вычисляют значения главных деформаций и напряжений.