о оо
-U
1 го 1
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ калибровки куметра по добротности | 1987 |
|
SU1615649A1 |
МОСТОВОЙ ИЗМЕРИТЕЛЬ ПАРАМЕТРОВ ПАССИВНЫХ МНОГОЭЛЕМЕНТНЫХ RLC ДВУХПОЛЮСНИКОВ | 2012 |
|
RU2509311C1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ПОЛНОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ДВУХПОЛЮСНИКА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | 2018 |
|
RU2698072C1 |
Способ контроля моточных элементов и устройство для его осуществления | 1980 |
|
SU938207A1 |
ИЗМЕРИТЕЛЬ ПАРАМЕТРОВ ДВУХПОЛЮСНЫХ RLC ЦЕПЕЙ | 2012 |
|
RU2499269C1 |
Способ определения динамических параметров активных четырехполюсников и устройство для его осуществления | 1988 |
|
SU1642412A1 |
Стенд для измерения частотных характеристик свойств веществ | 1982 |
|
SU1114981A1 |
Измеритель комплексного сопротивления с компенсацией паразитных параметров | 1989 |
|
SU1626190A2 |
Измеритель добротности варикапов | 1982 |
|
SU1051469A1 |
Автоматический измеритель компонент проводимости рс-двухполюсников | 1977 |
|
SU661409A1 |
Изобретение относится к радиоизмерительной технике и может быть испопь- зовано для измерения активных R- и реактивных С- и L-параметров двухполюсников. Цель изобретения - повышение точности измерения на нысоких частотах и обеспечение подключения исследуемых двухполюсников, ifMcmuuix коаксиллып.ш нход. Устройство содержит ишериюль добротности 1 с измориiемьным конденсатором 2 переменной OMKonii с кпем- млми 3, пспомогтельныи индуктиипыг элемент 4, выполненныи в виде корот- козамкнутои двухпроноднои линии с клеммами 5, к которым подсоединяется измеряемый двухполюсник 6(7). Вспомогательный ИНДУКТИВНЫЙ ЧД(МГНТ ( в виде короткозамк(утоп двухпроводной линии или в виде колксилмьнои линии, на которой расположены клеммь- 5 для подключения исследуемого двухполюсника, находящиеся на максимальней расстоянии от ее входа, опредетяемом из выражения, прнведенног с в формуле изобретения. 1 з п. ф-лы, 1 ил. ю (Л
Фиг1
316
Изобретение относится к радиоизмерительной технике и может быть использовано для измерения активных R- и резистивных С- и L-параметров двухпо- люсников.
Цель изобретения - повышение точности измерения на высоких частотах и обеспечение подключения исследуемых двухполюсников, имеющих коаксиальный вход.
На фиг„ 1 приведена структурная электрическая схема устройства для измерения RC-, RL-параметров двухполюсников; на фиг. 2 и 3 - варианты подключения короткозам кнутой двухпроводной линии к клеммам измерительного конденсатора, а также варианты подключения измеряемых двухполюсников к короткозамкнутой линии,,
Устройство для измерения RC и RL параметров двухполюсников содержит измеритель 1 добротности с измерительным конденсатором 2 переменной емкости, с клеммами 30 К клеммам 3 подклю- чена короткозамкнутая двухпроводная линия 4 с первой и второй клеммами 5 для подключения исследуемого двухпо- Ьтюсника 6(7) .
Устройство для измерения RC-, RL- параметров двухполюсников работает следующим образомс
Из теории колебательных цепей, в частности, длинных линий известно, что полная проводимость входного сопротивления измерительной линии определяется следующим выражением
откуда
1 + tg (Я
Х
1 8Х
аБ (1 , tgP1, Wjg г
( w,tgp,l,Htf ) R«rf
W tgftl . Й1W W w, . Wtggl Wtg/3l
UgPW.tgft.1, %TsMI W,tgfi,lt aag ;
(1
+ Ц +
Wjtg/5,1,
W tg filW tgz /ГГ
XaS
Для упрощения расчетных операций
Т
при Q t у- Ю в пределах допустиZB W
1
za& z
1+J(W/Za6)-tgfrl W/ZaS + J tgfbl 11
(D
fT J (ri Vrt 1 + 3-) (2) KaЈ (tgfVi as
aЈ полное сопротивление в точках а, б части коротко- замкнутой линии,расположенной справа от указанных точек (длина линии 1 ) с учеирм активных потерь R влинийр а также параметров R и С (L) - измеряемого двухполюсника; ,, W - волновые сопротивления участков измерительной линии с длинами 1 и 1;
f},, (3 постоянные сдвига фазы учн- стков измерительной линии
1
Г-а& R.
R с длинами It и 1;
L + i
R, R
(3)
сопротивление активных потерь линии в параллельном замещении, пересчитанное в точки а, сопротивление активных потерь измеряемого двухполюсника в параллельном замещении
5
1 1 1 АрГ. Хп
(4)
V
Д.п - паразитное реактивное сопротивление в точках а, %и реактивное сопротивление
измеряемого двухполюсника. Из выражений (1) и (2) получают
-.(7)
мой методической погрешности в выражениях (6) и (7) можно пренебречь зна5
W2tg2 f5 1 W tg /3 1 ,, чениями и f.l- f (7
KaЈ К Qgрезультате чего выражения (6) и примут вид
11i -ty.fli
Rex RaET (1+WtS3l Wtgfll
ftar
1
1 Ij.tgfrb
5 Принимая во внимание (согласно nu ражениям (3) и (4), что при R oo, u оо (условие, при котором измеряемый двухполюсник не подключен к клем мам 3 измерительного конденсатора
10
v:
+ Wtg (51 ( WttgjfrT
w,tg|Mi Яа{г
of
RA n Г
6X1 + - «--P - (g
При этом методическая погрешность определения RBK и Xg определяется длиной 1 участка измерительной линии.
Учитывая, что при резонансе входное реактивное сопротивление измерии Р
Се С, Ы СК(
OKI / „ п -- .(где СК), QM (О
,8
значения емкости измерительного кон 1- деггсатора и добротности колебательного контура измерителя добротности без измеряемого двухполюсника); при подключении измеряемого двухполюснительной линии равно емкостному сопро- 0 ка к клеммам 3 значения Ра$ и а$ тивлению измерительного конденсатора соответствуют выражениям (3) и (4) измерителя добротности, из выражения v v L „ R - °кг
/04 /гоХА. Хл1/ ГТТ: И К.
(.о; и (9) имеем
1 вх
R toe,,
CK ACI йЭС|сг - it (где CK2, Qic4 емкость измерительно го конденсатора и добротность колеба тельного контура измерителя добротности при подключенном измеряемом двухполюснике.
w
41-Stil,.)w
aCKV w,tg /5.T(; ц tg py teftx
w(i i#LJLL
-СЦ
(10)
Таким образом, из выражений
(4), (10) и (11) имеем QK.QuO -COCKfW tgfil)2 (1 O CtczW tg ftp
R G)(ei + tg fil)QK, -CO,CK(W tg|5l) - .q.w tg/iD
:
u
1s 1 + tg2 (3 1/13-j
ea),(CK4- Ck() 0 -Дск,И tg pl)(1 -CO(C,,4W
Измерение RC- и RL-параметров двухполюсников производят следующим образом.
К клеммам 3 измерительного конденсатора 2 подключают короткозамкнутую линию 4, образуя колебательную систему,
Изменяя емкость измерительного конденсатора 2, настраивают указанную колебательную систему в резонанс. Момент резонанса соответствует максимальному показанию индикатора измерителя 1 добротности, равному QK.. Подключают к подключающим клеммам 5 линии 4 измеряемый двухполюсник 6 (7), образуя колебательную систему: измерительный конденсатор 2 - короткозам- кнутая линия 4 - двухполюсник 6(7). Изменяя емкость измерительного кон- , денсатора 2, вновь настраивают ука- I эанную колебательную систему в резонанс.
684727
(1 R
aЈ
R
6 W t к , 1
V К
J 1 + tg p
(11)
5 Принимая во внимание (согласно nu- ражениям (3) и (4), что при R oo, u оо (условие, при котором измеряемый двухполюсник не подключен к клеммам 3 измерительного конденсатора
10
of
RA n Г
и Р
Се С, Ы СК(
OKI / „ п -- .(где СК), QM (О
,8
ка к клеммам 3 значения Ра$ и а$ соответствуют выражениям (3) и (4) v v L „ R - °кг
ХА. Хл1/ ГТТ: И К.
1 вх
R toe,,
CK ACI йЭС|сг - it (где CK2, Qic4 емкость измерительного конденсатора и добротность колебательного контура измерителя добротности при подключенном измеряемом двухполюснике.
Таким образом, из выражений (3),
(12)
Момент настройки колебательной системы в резонанс соответствует мак- симальному показанию индикатора измерителя добротности, равному Qicg- Согласно выражениям (12( и (13) определяют активную R- и реактивную 9Сuсоставляющие в параллельном заме- щении полного сопротивления измеряемого двухполюсника 6 (7).
При отрицательном значении реактивной %и составляющей полного сопротивления определяют значение ем- кости измеряемого двухполюсника по формуле
J
. V
С
(14)
а при положительном значении реактивной У составляющей полного сопротивления определяют значение индуктивности измеряемого двухполюсника по формуле
линии и подключен параллельно конб(71
Корпус измер конденсат op Q
короткозамкнутой коаксиальной линии.
пус измерь добротности
Корпус изнер.
онденсаго- ра
Фиг.З
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
Авторы
Даты
1991-10-15—Публикация
1989-07-24—Подача