Способ контроля контактирования микросхем Советский патент 1991 года по МПК G01R31/28 G01R31/04 

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля контактирования микросхем в коммутирующем приспособлении.

Целью изобретения является расширение области применения за счет возможности контроля коммутационных матриц, содержащих М рядов и N столбцов .

Сущность способа поясняется на примере работы устройства, изображенного на фиг.1, временные диаграммы работы которого представлены на фиг.2.

Устройство (фиг.1) содержит коммутационную матрицу 1, содержащую М

рядов и N столбцов, клеммы для подключения объекта контроля 2, формирователь входных воздействий 3, блок 4 обработки и управления электронно- вычислительной машины, УхN-резисто-v ров 5.1 1-5.NM, N суммиругсп,их резисторов 6.1-6.N, N компараторов 7.1-7.N, цифроаналоговый преобразователь (ЦАП) 8, выход которого соединен со входом эталонного сигнала всех N компараторов 7, информационный вход которых соединен с общей точкой резисторов 5.11-5.NM и резисторов 6.1- 6.N, а выход - со входами блока 4 обработки и управления электронно-вычислительной машины (ЭВМ), первые выходы которого соединены со входао

00 Јь 1

ся

Ј

ми 11АП 8, а вторые - со входами формирователя входных воздействий 3, выходы которого соединены со входными клеммами для подключения объекта контроля. Вторые выводы резисторов 5 соединены между собой и с первыми выводами суммирующих резисторов 6.1-6.N, вторые выводы которых соединены с нулевой точкой устройства.

Устройство работает следующим обр зом„

Устанавливаются контролируемые микросхемы в коммутационное устройство, задается Uon на компараторы 7.1-7.N по входу эталонного сигнала от цифроаналогового преобразователя 8. Затем последовательно подаются входные воздействия на ряды микросхем от блока 4 через формирователь 3 (согласно временным диаграммам на фиг.2а,б,в), получают выходные реакции на выходных клеммах для подклчения объекта контроля (фиг.2,г, д.е,ж на резисторах ft. 1-6 .N получают суммарный информативны параметр результата контроляN-столбца (Hir.2 э ,и,к) , который сравнивается на компараторах 7.1-7.N с эталонным значением, результат сравнения с последних поступает на входы блока 4 обработки и управления ЭВМ, где они преобразуются в М+1 информационных N-разряд- ных слов, полученный массив информации анализируют и по результатам

5

0

5

0

5

анализа судят о дефектных позициях в контактируизцем приспоссблении. Формула изобретения

Способ контроля контактирования микросхем, в соответствии с которым подают входные воздействия на клеммы для подключения объекта контроля, снимают выходные реакции, сравнивают полученный информативным параметр с эталонным, преобразуют результат контроля в N-раэряд- ное слово, анализируют полученный массив информации, по результатам анализа судят о дефектных позициях в контактирующем приспособлении, отличающийся тем, что, с целью расширения области применения за счет возможности контроля коммутационных матриц, содержащих М рядов и К столбцов, объединяют группы входных и выходных клемм для подключения объекта контроля в М рядов и N столбцов, соединяют электрические М выходы объекта контроля в каждом из N столбцов через резисторы между собой, к общей точке которых присоединяют первый выход суммирующего резистора столбца, второй вывод которого соединяют с нулевой точкой, подают входные воздействия последовательно на М рядов и параллельно на N столбцов, принимают падение напряжения на суммирующем резисторе столбца за суммарный информативный параметр, получают М+1-информационных слов, содержащих N разрядов.

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля контактирования микросхем в коммутирующих приспособлениях. Целью изобретения является расширение области применения за счет возможности контроля коммутационньк матриц, содержащих М рядов и N столбцов. Для достижения цели объединяют группы входных и выходных клемм для подключения объекта контроля в М рядов и N столбцов, соединяют электрические М выходы объекта контроля в каждом из N столбцов через резисторы между собой, к общей точке которых присоединяют первый выход суммирующего резистора столбца, второй вывод которого соединяют с нулевой точкой, подают входные воздействия последовательно на М рядов и параллельно на N столбцов, принимают падение напряжения на суммирующем резисторе столбца за суммарный информативный параметр, получают М-М информационных слов, содержащих N разрядов. 2 ил. с Ј (Л

I I

Л|Ml

l

ж I

и i Mill f Ј/TI Ш b-я

I ... Е%Я Я7л I I

U

и

2-ti | I 2-23

и

т

№

Сигнал на б ходе компаратора 7-2 (суммарный сигнал от м/сх 2-21,2-22,2-23)

л WA

, I I Сигнал на входе компаратора 7-3 2-32 ет | | (суммарный сигнал от н/сл

%%

U 2-31,2-32,2-33)

t

lil

&l L l||

t

i i i jj

I4 К

I вх. сигналы м/с 2-11,2-21,2-31

I Вл сигналы ч/сх Z-12,2-22,2-32

Т Вх. сигналы м/сх 2-13,2-23,2-33

7

| &//. сигналы н/сх 2-11,2- 21 t вых. сигналы м/сх Z-12t 2-3Z

t Вых. сигнал м/сх 2-23, 2-33

вых. сиг нал м/сх 2-22

Вых. сигнал м/сх 2-13,2-31

Сигнал на Sxafie компаратора

. (суммарный сигнал от м/сх

Irt

2-11,2-12,2-13)

- Сигнал на б ходе компаратора (суммарный сигнал от м/сх 2-21,2-22,2-23)

I I Сигнал на входе комп | | (суммарный сигнал о

U 2-31,2-32,2-33)

t