Контактное устройство для контроля микросхем с планарными выводами Советский патент 1991 года по МПК H05K1/18 H05K1/11 

/

Фиг.I

Изобретение относится к импульсной измерительной технике, в частности к устройствам для измерения и контроля статических и динамических параметров многовыводных БИС с пленарными выводами с шагом между ними 0.625 мм Цель изобретения - повышение надежности контсэкти- рования, помехозащищенности и технологичности. Микросхему размещают в корпусе устройства так, чтобы каждый вывод попал в свой паз между двумя призматическими- зубьями гребенка 2. Затем с помощью траверсы 18 прижим 3 подается в зону контактирования и прижимает выводы микросхемы к контактам упругими прокладками 10. 2 з.п. ф-лы, 3 ил.

5

Выдод микросхема

Jue,o