СПОСОБ РАЗБРАКОВКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ ВЕЛИЧИНЕ ТЕПЛОВОГО СОПРОТИВЛЕНИЯПО Советский патент 1965 года по МПК G01R31/26 

При известных способах разбраковки полупроводниковых приборов по величине их теплового сопротивления, основанных на определении теплового сопротивления по величине температурозависимого параметра, например по величине падения иапрялсения на исследуемом полупроводниковом нриборе при пропускании через него -постоянного по величине тока в прямом направлении, предварительно производят снятие зависимости величины измеряемого параметра от температуры, что усложняет разбраковку и затрудняет автоматизацию этого npiouecca.

Отличие предложенного способа заключается в том, что снижение трудоемкости разбрако вки и у1прош,ение автоматизации этого процесса определяют отклонения величины этого сопротивления от номинала по разности двух значений температуроза1висимого параметра, первое из которых определяют при некоторой фиксированной температуре, а второе - при более «иэкой температуре и заданной величиие мощности и а исследуемом полупроводниковом приборе.

На чертеже изображена бло К-схема предложенного устройства.

Через исследуемый полупроводниковый прибор ) в прямОМ направлении пропускают постоянный по величине ток от генератора 2. С помощью золотника 3 из термостата 4 к

полупроводниковому прибору / подводится жидкость, нагретая до 60°С. От генератора 5 через переключатель 6, управляемый генератором 7 импульсов, на измеряемый полупроводниковый прибор / подаются импульсы напряжения. Импульсы, ампл1итуда которых Пропорциональна падению напряжения в прямом направлении через разделительную ячейку 8, импульсный усилитель 9 п коммутатор 10, подаются на схему 11 запоминания измеipeHHoro значения температурозавкспмого параметра.

После окончапия первого цикла измере 1ИЯ

золотник 3 прекращает подачу жидкости из термостата 4 и к прибору / подается жидкость из термостата 12, нагретая до 40°С. Одновременно от генератора 5 к прибору / подводится заданное значение мощности и

при помощи схемы 13 запоминается новое значение температурозависимого параметра. Значения падения напряжения на полупроводниковом приборе /, соответствующне двум измеренным значениям температурозависимого

параметра сравниваются в блоке 14 сравнения. По знаку разностного напряжения, подаваемого на блок индикации 15, судят о знаке отклонения величины теплового сопротивления полупроводникового прибора / от номиПредмет изобретения

Способ разбраковки толупроводниковых приборов по величине теплового сопротивления, основанный на определении теплового сопротивления по величине температурозависимого параметра, например по падению напряжения на исследуемом приборе при пропускании через него в .прямом направлении

1г. я постоянного но величине тока, отличающийся тем, что, с целью снижения трудоемкости

процесса разбраковки и упрощения автоматизации этого процесса, знак и величину отклонения температурного сопротивления определяют по разности двух значений температурозависимого параметра, из которых первое значение определяют ири некоторой фиксированной температуре, а второе - ори более низкой также фиксированной температуре и заданной величине мощности, рассеиваемой на исследуемом полупроводниковом приборе.