Изобретение относится к вычислительной технике, а именно к системам запоминания информации.
Цель изобретения - повышение надежности запоминающего элемента.
Оптоэлектронный запоминающий элемент состоит из омического и запорного электродов и запоминающей среды, расположенной между ними и выполненной из фоточувствительного органического полупроводника (например, пентацена, легированного кислородом), содержащего глубокие уровни захвата неравновесных носителей заряда.
Устройство работает следующим образом.
При освещении элемента импульсом света в объеме органического полупроводника возрастает концентрация основных носителей тока, что вызывает инжекцию неосновных носителей тока из запорного электрода и их захват на глубокие уровни, образуемые кислородом, в приповерхност ной области органического полупроводника, где концентрация кислорода (глубоких
уровней) максимальна. Вследствие этого возникает фотоЭДС захвата, которая и после прекращения освещения сохраняется длительное время (2-106 с), так как освобождение неосновных носителей тока из глубоких центров захвата незначительно даже при 300 К, а процессы их рекомбинации с основными носителями тока вследствие их диффузии из объема ничточны из-за их ма лой концентрации и наличия для них потенциального барьера у границы раздела с запорным электродом.
Считывание информации предлагаемого элемента производится путем измерения остаточной ЭДС При этом информация не стирается и поэтому не требуется систематической перезаписи информации Целенаправленное стирание информации возможно путем кратковременного замыкания электродов или подачей импульса напряжения с полярностью.противоположной полярности остаточной ЭДС (фотоЭДС) и величиной равной или немного больше ер значения.
(Л
С
ч|
о
ю N
8
Пример изготовления запоминающего элемента.
На стеклянную подложку с прозрачным проводящим слоем SnOa (изготавливается серийно в заводских условиях) наносили термическим испарением в вакууме 10 4 Па слой органического полупроводника - пен- тацена толщиной 100-500 нм, а затем пленку алюминия, образующую с пентаценом выпрямляющий (запорный) контакт Информация записывалась при нормальных условиях путем кратковременного освещения элемента, например, от лампы накаливания через интерференционный фильтр с полосой пропускания порядка 20 нм в спектральной области 700-900 нм или от светодиода АЛ 307Б, излучающего в той же области спектра. При таком освещении элемента через прозрачный Sn02 электрод возникала фотоЭДС величиной 750 мв (положительный потенциал на освещаемом электроде). После выключения освещения регистрировалась электронным вольтметром типа 82-34 остаточная ЭДС, медленно уменьшающаяся в течение 10 сут до 500 мВ приблизительно по экспоненциальному закону. На основании этих данных получено значение постоянной времени спада т 2-10 с, что немного больше т элементов прототипа, охлажденных до 77 К.
Диапазон оптических толщин слоя лен- тацена, приведенный выше, определяли из условий rS 10 с v«p 600мВ на основании измерений, приведенных в таблице
Видно, что нижний предел указанного диапазона толщин обусловлен, глазным образом, уменьшением г вследствие ухудшения кристаллической структуры пленки пентаценв.аверхний-уменьшением вследствие уменьшении интенсивности света, дошедшего до области пространственного эа- ряда у алюминиевого верхнего электрода. При коротком замыкании электродов
изготовленного элемента или подачи иа него постоянною напряжения величиной 550- 800 мВ попожительной полярности на алюминиевом электроде, величина остаточной ЭДС быстро уменьшалась до 50 мВ,
информация стиралась.
Таким образом, при использоьании предлагаемого оптоэлектронного запоминающего элемента расширяется область применения в сторону более высоких температур.
так кэк все операции проводятся при нор- м льных условиях и не требуется охлаждения и хранения запоминающих элементов при низких температурах, увеличивается надежность хранения информации, так как при
аварийном отключении лекгросети или от- сутгтпии хладагента инфоомация сохраняется длительное время
Ф р м у , я и т обретения
1. Оптоэпеч рочный запоминающий
элемент, содгиж.эщий омический и запорный эл чтрол , между которыми расположена пс- Ч ТМРО.тникооая запоминающая ор-.. Л т Г1 чающийся тем, чго. с
повышения надежности отиэлек тройного зле.иьнтч, .- псминакзщая среда выполнена из фуичуьгл 1 ителм-югп органического полупроводника .noi иров-чнно f кислородом и ее.держащего ;i, захв.эт носи
телей заряд
2. Оптоэлектронный эь ,мен, по п. 1. о т- л и ч а га LH и и г я тем, что фоточувствитсль- ный органический полупроводник выполнен из пентчиена.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВ | 2005 |
|
RU2330300C2 |
ФОТОЛЮМИНЕСЦЕНТНЫЙ ИЗЛУЧАТЕЛЬ, ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ФОТОЭЛЕМЕНТ И ОПТРОН НА ИХ ОСНОВЕ | 2004 |
|
RU2261502C1 |
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ УЛЬТРАФИОЛЕТОВОГО ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЯ | 1992 |
|
RU2034372C1 |
Солнечный элемент | 1990 |
|
SU1790015A1 |
СПОСОБ УПРАВЛЕНИЯ РАБОТОЙ МЕМРИСТИВНОЙ КОНДЕНСАТОРНОЙ СТРУКТУРЫ МЕТАЛЛ-ДИЭЛЕКТРИК-ПОЛУПРОВОДНИК | 2018 |
|
RU2706197C1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВ | 1994 |
|
RU2080611C1 |
Матричный накопитель для фотоэлектрического запоминающего устройства | 1975 |
|
SU734805A1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ КОНДЕНСАТОРНОЙ СТРУКТУРЫ МЕМРИСТОРА, ХАРАКТЕРИЗУЮЩИХ ПРОЦЕСС ФОРМОВКИ | 2015 |
|
RU2585963C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ТВЕРДОТЕЛЬНОГО ФОТОГАЛЬВАНИЧЕСКОГО ЭЛЕМЕНТА С p-i-n-СТРУКТУРОЙ | 2005 |
|
RU2282272C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ТВЕРДОТЕЛЬНОГО ФОТОГАЛЬВАНИЧЕСКОГО ЭЛЕМЕНТА ДЛЯ ПРЕОБРАЗОВАНИЯ ЭНЕРГИИ СВЕТА В ЭЛЕКТРИЧЕСКУЮ ЭНЕРГИЮ | 2000 |
|
RU2170994C1 |
Изобретение относится к вычислитлеь- ной технике, а именно к системам запоминания информации. Цель изобретения - расширение области применения оптоэлек- тронного запоминающего элемента в сторону более высоких температур и повышение его надежности. Элемент содержит омический и запорный электроды, между которыми расположена запоминающая среда, выполненная из фоточувствительного органического полупроводника, легированного кислородом и содержащего глубокие уровни захвата носителей заряда, например пентацена. 1 з.п. ф-лы, 1 табп.
Зависимость основных параметров оптоэлектронного запоминающего эпемента- фотоЭДС р и постоянной времени спада г от толщины слоя пента-дена п
500
643
2-Ю6
Т
эдо
508
У 3-Ю5 J
Оптоэлектронный элемент памяти | 1979 |
|
SU797406A1 |
Походная разборная печь для варки пищи и печения хлеба | 1920 |
|
SU11A1 |
Приспособление для установки двигателя в топках с получающими возвратно-поступательное перемещение колосниками | 1917 |
|
SU1985A1 |
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
кл | |||
Походная разборная печь для варки пищи и печения хлеба | 1920 |
|
SU11A1 |
Авторы
Даты
1991-12-30—Публикация
1989-09-07—Подача