УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ И РАЗМЕТКИ КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКОЙ ОСИ У КРУГЛЫХ КВАРЦЕВЫХПЛАСТИН Советский патент 1965 года по МПК G02B21/26 G01N21/13 G01N21/23 

Описание патента на изобретение SU177114A1

Известные устройства для определения и разметки кристаллографической оси у круглых кварцевых пластин, содержащие поляризационный микроскон типа МИН-8 с новоротным столом для ориентирования кварцевой пластины относительно оптической оси объектива и приспособлением для нанесения на пластины пятен коллоидного серебра, не обеспечивают необходимой точности разметки и нанесения пятен относительно проекции кристаллографической оси z пластин разного диаметра и различной толш,ины.

В предложенном устройстве повышение точности разметки и нанесения пятен относительно проекции кристаллографической оси z пластин разного диаметра и различной толщины достигается тем, что на тубусе объектива микроскопа смонтирован поворотный механизм ориентировки пластины относительно его оптической оси, выполненный в виде втулки, в верхней части которой закреплен диск с лимбом, а в нижней - эластичное кольцо, для фрикционной связи с пластиной, находящейся в тефлоновой кассете. На плите микроскопа установлен кронштейн, несущий на себе механизм разметки и нанесения на пластины пятен коллоидного серебра заданных размеров и конфигураций, выполненный из верхнего и нижнего штоков со сменными иглами и ванной дозатора. Для обеспечения

точной установки и фиксации пластпны своим геометрическим центром но оптической оси микроскопа и правильного ориентирования пластины.под иглами механизма разметки

пятен устройство снаблчено поворотным горизонтальным диском, несущим на себе тефлоновьте кассеты с закрепленными в них и ориентированными по кристаллографической оси пластинами. Для точной ориентации игл с вертикальным штрихом окуляра микроскопа устройство снабжено двумя шаблонами, один из которых выполнен в виде контрольной иглы с ножом, а другой - в виде шайбы с нродольными пазами на ее поверхности, для ввода в них ножа контрольной иглы.

На фиг. 1 изобралсено предлагаемое устройство в аксонометрической проекции; па фиг. 2 - поворотный горизонтальный диск с тефлоноьыми кассеталш, в нлане; на фиг. 3- контрольная игла с нолсом; на фиг. 4 - шайба с продольными пазами; на фиг. 5 - тефлоновая кассета.

Поляризационный микроскоп / укреплен на кронштейне 2, установленном на плите 3,

иа которой размешен также мехащ зм 4 разметки и нанесения на кварцевые пластины пятен коллоидного серебра. На каретке 5 микроскопа укреилеи кронштейн 6, на котором установлен поворотный горизонтальный

для размещения;в чних тефлоновых кассет 9 (фиг. 2 и 5) с кварцевыми пластинами. Поворотом диска 7 кварцевая пластина устанавливается под объективом микроскопа, на тубусе 10 которого смонтирован поворотный механизм // ориентировки пластины относительно оптической оси микроскопа. Поворотный механизм выполнен в виде втулки 12, в верхней части которой закреплен диск 13 с лимбом, а в нижней - эластичное кольцо М, служащее для фрикционной связи с пластиной, находящейся в тефлоновой кассете. Конденсатор 15 подводится к пластине, а диск 7 с пластинами к объективу микроскопа так, что эластичное кольцо поворотного механизма касается пластины. Вращением втулки находят ось 2 («темную балку) и совмещают ее с вертикальным штрихом окуляра микроскопа.

Соориентированная пластина зажимается рычагом 16 и поворотом диска 7 устанавливается между иглами 17, закрепленными на штоках механизма 4. Иглы разворачиваются в сторону от диска и опускаются через дозирующие отверстия 1/5 крышки 19 в ванну 20 дозатора, содержащую пасту коллоидного серебра. При подъеме игл лишняя паста снимается краями отверстий и на иглах остается необходимая доза коллоидного серебра для нанесения пятна определенных размеров. Иглы разворачиваются в исходное положение и вводятся через пазы 21 тефлоновой кассеты в соприкосновение с пластиной. Форма игл обеспечивает нанесение пятен сверху, снизу и сбоку пластины. После нанесения пятен кварцевые пластины удаляются из тефлоновых кассет с помощью рычагов.

Для предварительной точной ориентации игл с вертикальным щтрихом окуляра микроскопа устройство снабжено двумя шаблонами (фиг. 3 и 4), один из которых выполнен в виде контрольной иглы 22 с ножом 23, вставляемой в штоки механизма 4 вместо иглы 17, а другой - в виде шайбы 24 с продольными пазами 25, которая вставляется вместо тефлоновой кассеты в отверстие диска. Пазы шайбы выставляются в направлении вертикального штриха окуляра, а затем поворотом диска 7 подводятся под контрольную иглу механизма 4, которая своим ножом должна войти в паз шайбы.

Предлагаемое устройство позволяет наносить пятна коллоидного серебра в узловые точки кварцевой пластины с точностью +1° относительно проекции кристаллографической оси 2.

Предмет изобретения

1.Устройство для определения и разметки кристаллографической оси у круглых кварцевых пластин, содержащее поляризационный микроскоп типа МИП-8 с поворотным столом для ориентировки кварцевой пластины относительно оптической оси объектива и приспособлением для нанесения на пластины пятен коллоидного серебра, отличающееся тем, что, с целью повышения точности разметки и нанесения пятен относительно проекции кристаллографической оси пластин разного диаметра и различной толщины, на тубусе объектива микроскопа смонтирован поворотный механизм ориентировки пластины относительно его оптической оси, выполненный в виде втулки, в верхней части которой закреплен

диск с лимбом, а в нижней - эластичное кольцо, для фрикционной связи с пластиной, находящейся в тефлоповой кассете, а на плите микроскопа установлен кронштейн, несущий па себе механизм разметки и нанесения

на пластину пятен коллоидного серебра заданных размеров и конфигураций, выполненный из верхнего и нижнего штоков со сменными иглами и ванной дозатора.

2.Устройство по п. 1, отличающееся тем, что, с целью точной установки и фиксации

пластины своим геометрическим центром по оптической оси микроскопа и правильного ориентирования пластины иод иглами механизма разметки пятен, оно снабжено горизонтальным диском, несущим на себе тефлоновые кассеты с закрепленными в них и ориентированными по криста.гглографической оси пластинами.

3.Устройство но пп. 1 и 2, отличающееся тем, что, с целью точной ориентации игл с

вертикальным щтрихом окуляра микроскопа, оно снабжено двумя шаблонами, один из которых выполнен в виде контрольной иглы с , а другой - в виде шайбы с продольными пазами на ее поверхности, для ввода в них ножа контрольной иглы.

Фиг /

Похожие патенты SU177114A1

название год авторы номер документа
Способ изготовления препаратов для исследования структуры непрозрачных материалов, например металлов, в электронном микроскопе и приспособление к оптическому микроскопу для осуществления этого способа 1948
  • Шрайбер Д.С.
SU85111A1
МИКРОСКОП для ИЗМЕРЕНИЯ ВЕЛИЧИНЫ ИЗНОСА РЕЖУЩЕГО ИНСТРУМЕНТА НЕПОСРЕДСТВЕННО НА РАБОЧЕМ МЕСТЕ БЕЗ СНЯТИЯ ЕГО СО СТАНКА 1973
  • Б. Б. Лдадуров
SU408139A1
ФЛЮОРОГРАФ 1948
  • Бенский Я.С.
  • Дмоховский В.В.
  • Жегалкин Г.А.
  • Пружанский С.В.
  • Тумаркин Е.С.
SU74296A1
Фотокоординатограф 1984
  • Грекович Анатолий Викентьевич
  • Лебедев Валерий Павлович
  • Савицкий Владимир Антонович
  • Шварцбург Владимир Петрович
SU1247820A1
ПРИБОР ДЛЯ АНАЛИЗА ВОЗДУХА НА СОДЕРЖАНИЕ МИКРОЧАСТИЦ 1969
  • Ю. Г. Соколов, В. Т. Садковский, В. И. Зев, В. В. Прибылков,
  • А. Б. Васин Г. Н. Хрульков
SU238870A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВИЗУАЛЬНОГО ИССЛЕДОВАНИЯСКВАЖИН 1971
SU309122A1
ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЙ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МИКРОСКОП 1967
SU200224A1
Учебный прибор для демонстрации дифракционной природы изображения в микроскопе 1977
  • Наумчик Виктор Николаевич
  • Саржевский Александр Михайлович
SU737981A1
СПОСОБ УСТРАНЕНИЯ ОШИБКИ УВЕЛИЧЕНИЯ ОТСЧЕТНОГО МИКРОСКОПА 1991
  • Павлов П.М.
RU2024822C1
ОПТИЧЕСКИЙ ПРИЦЕЛ 2013
  • Дейснер Александр Александрович
  • Комбаров Михаил Сергеевич
RU2534504C1

Иллюстрации к изобретению SU 177 114 A1

Реферат патента 1965 года УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ И РАЗМЕТКИ КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКОЙ ОСИ У КРУГЛЫХ КВАРЦЕВЫХПЛАСТИН

Формула изобретения SU 177 114 A1

Фиг.З

24

2

SU 177 114 A1

Даты

1965-01-01Публикация