Ki
Yi
Хо Xi
С4 У„-{-1)Х4
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Устройство для контроля диаметров изделий | 1990 |
|
SU1744447A2 |
Способ получения интерферограмм контроля качества линз и объективов | 1991 |
|
SU1800302A1 |
Способ контроля качества атмосферного воздуха | 1989 |
|
SU1695251A1 |
Устройство для передачи поляризованного оптического излучения | 1989 |
|
SU1728832A1 |
Способ измерения толщины листовых изделий | 1988 |
|
SU1728647A1 |
Датчик линейных перемещений | 1989 |
|
SU1652812A1 |
УСТРОЙСТВО АВТОМАТИЧЕСКОЙ ЮСТИРОВКИ ДВУХЗЕРКАЛЬНОЙ ТЕЛЕСКОПИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ С ЗАДАННЫМ НАПРАВЛЕНИЕМ ВЫХОДНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ | 2015 |
|
RU2611604C1 |
СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ТОПОГРАФИИ ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | 2001 |
|
RU2208370C2 |
Устройство автоматической юстировки двухзеркальной телескопической системы с заданным направлением выходного излучения относительно направления визирования | 2023 |
|
RU2820599C1 |
Способ измерения пространственного распределения внутренних неоднородностей объекта | 1982 |
|
SU1074207A1 |
Изобретение относи гея к измерительной технике и прецказна ено гпля измерения геометрических размеров золокон, в частности их диаметров м эллиптичности при возможном смещении волокна в плоскости измерения, Цель изобретения - повышение надежности измерения. Источники 1 и 2 света формируют расходящиеся световые пучки с шириной, превышающей диаметр голокна 3 Определяю координаты точек переселения касателоных к волокну or источника 1 с экраном 4. Определяют координаты точек пересечения касательных к волокну 3 лучей от источника 2 света с экраном 5. Определяют расчетн и путем диаметр волокна, его смещение относительно оси измерения, s также эллиптичч ст; сечения волокна. 1 ил.
45
Кз
Уз
+ С4
оси X:50
Хо - Хз
К2
tg /у arctg ( Ki ) f arctg ( Кз ) J,
Y2 Yo - К2(Х0 - X)
Y5 KiX5 + Yi;
Ys - Х5 + С4.
R V(X4-X5)2 + (Y4 Y5)2
X Х о - Y Yo - Y4.
Предложенный метод позволяет определить величины перпендикуляров, опущенных из центра сечения волокна 0(Х4, Y) на лучи 6,7,8,9 и вычислить четыре раза значение диаметра волокна.
Полученные результаты можно использовать, во-первых, для повышения точности вычисления диаметра волокна, как среднеарифметического четырех значений, во-вто- рых, можно определить эллипсность сечения волокна как отношение минимального из четырех измерений к максимальному:
Ј ймин/д
макс.
Для практической реализации предложенного метода использовалась следующая аппаратура. В качестве точечных источников света для расходящихся пучков применялись газовые Не--| е-лазеры с двояковогнутыми линзами. В качестве регистрационных экранов использовались линейные фоточувствительные схемы с зарядовой связью (Л ФСЗС). Обработка полученных сигналов с ЛФСЗС осуществлялась программно на ЭВМ. Диаметр стекловолокна 125 мкм определялся с погрешностью не более ± 1,0 мкм при смещении центра волокна от оптической оси на ± 3 мм.
Предлагаемый способ может применяться для прецизионного измерения геометрических размеров прозрачных и непрозрачных волокон, нитей и проводов в процессе их изготовления.
Использование предлагаемого способа измерения диаметра волокна обеспечивает по сравнению с существующими следующие преимущества:
счет четырехкратного вычисления диаметра волокна с усреднением.
заключающийся в том, что формируют два взаимно перпендикулярных световых пучка и направляют их на волокно так, что оси пучков перпендикулярны к геометрической оси волокна, измеряют координаты точек
пересечения лучей, касательных к поверхности волокна с двумя взаимно перпендикулярными и параллельными геометрической оси волокна плоскостями, и определяют диаметр волокна, отличающийся тем,
что, с целью повышения надежности измерения, световые пучки формируют расходящимися, с размерами, превышающими диаметр волокна в месте пересечения с пучками лучей, измерение в двух взаимно перпендикулярных плоскостях производят одновременно, а величину диаметра волокна определяют из выражения
30
j 2 Лс
;х4-х5)2 + с ч, -Y5)2
vv()
35
V -V
I V -а О . V .V
iVxTx;
Хо-Х, „ .v . o-Xi.x
Vo-V,
Х0-Х, v V vTv- W
где Х0, Yo, Х о, Y o - координаты первого и второго соответственно источников света; Xi, Yi, Хз, Y3 - координаты точек пересечения касательных к волокну лучей от первого источника света с первой плоскостью; X i, Y i, Х з, Y a - координаты точек пересечения касательных к волокну лучей от второго источника света с второй плоскостью;
Хз, Y4 - координаты центоя сечения вс- локна;
Xs, Y5-координаты точки касания лучок волокна
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
Аппарат для очищения воды при помощи химических реактивов | 1917 |
|
SU2A1 |
Авторы
Даты
1992-11-07—Публикация
1989-05-11—Подача