ПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ РАЗМЕРОВ ИЗДЕЛИЙ ОТ НОМИНАЛА Советский патент 1966 года по МПК G01B11/02 

Описание патента на изобретение SU177634A1

Известны бесконтактные оптические микрометры для измерения размеров, например толщины деталей, в которых изменение толщины контролируемого изделия измеряется по расстоянию между изображениями щелей по щкале, нанесенной на матовом стекле, после совмещения двух изображений щели с помощью микрометрического винта. Известны также фотоэлектрические устройства автоматического контроля размеров, в которых световой поток, отражаясь от зеркал, модулируется с помощью обтюраторного диска и поступает на фотоэлементы.

Предложенный прибор для измерения отклонений размеров изделий от принятого при настройке номинала представляет собой сочетание бесконтактного оптического микрометра и фотоэлектрического преобразователя с двухканальным фазометром. Получаемые от бесконтактного оптического микрометра изображения светящихся щелей проектируются через оптическую систему на обтюратор, а затем на фотоумножители, электрические сигналы с которых поступают в двухканальный электронный фазометр, снабженный стрелочным прибором. Электрический выход позволяет автоматизировать процесс измерения.

Прибор содержит бесконтактный оптический микрометр и фотоэлектрический преобразователь с двухканальным фазометром.

Оптический микрометр содержит лампочки 1, конденсорные линзы 2, диафрагмы 3 со щелями, объективы 4, 5, совместно с зеркалами 6 проектирующие изображение щелей на верхнюю и нижнюю поверхности контролируемого изделия 7; объективы 8, нризму 9, зеркало 10, объектив 11, в фокальную плоскость которого проектируется вторичное изображение щелей. Этой плоскости касается поверхность обтюратора 12 (непрозрачный тонкостенный цилиндр со щелями, прорезанными

вдоль его образующей). Внутри цилиндра расположены зеркала 13, нанравляющие пучок лучей от щелей на призму 14 и фотоумножители 15 и 16. Электрические сигналы с фотоумножителей поступают в двухканальный

электронный фазометр 17, снабженный стрелочным прибором 18.

Прибор юстируется по эталонной детали так, чтобы изобралчения щелей располагались на одной линии, при этом фазометр фиксирует нулевой сдвиг фаз , импульсами, поступающими от двух фотоумножителей.

Предмет изобретения

Прибор для измерения отклонений размеров изделий от номинала, отличающийся совокупным ирименением бесконтактного онтического микрометра, связанного с помощью фотоэлектрического преобразователя с двухканальным фазометром, с целью автоматизации процесса измерения.

Похожие патенты SU177634A1

название год авторы номер документа
Фотоэлектрический спектроанализатор 1959
  • Брунс А.В.
SU127052A1
Автоматический рефрактометр 1968
  • Желудов Борис Алексеевич
  • Журавлев Михаил Алексеевич
SU517836A1
Фотоэлектрический пирометр 1976
  • Безвуляк Анатолий Степанович
  • Гельфанд Илья Маркович
  • Торчинский Ефим Майорович
  • Пушкин Сергей Борисович
  • Ведерников Рудольф Кронидович
  • Кулаченков Геннадий Петрович
  • Ткачук Петр Федорович
  • Карягин Виктор Федорович
SU744249A1
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКАЯ АВТОКОЛЛИ.МАЦИОННАЯ ТРУБА 1965
SU170707A1
СЕЛЕКТИВНЫЙ ФАЗОМЕТР 1968
SU218341A1
Бесконтактное фотоэлектрическое устройство для измерения отклонения линейных размеров изделий от номинала 1975
  • Жилкин Александр Михайлович
  • Романов Дмитрий Алексеевич
  • Васильев Виктор Дмитриевич
  • Здобников Евгений Тимофеевич
SU560134A1
Способ определения радиусов кривизны сферических поверхностей и устройство для его осуществления 1988
  • Парняков Евгений Серафимович
  • Парняков Юрий Серафимович
SU1562691A1
Фотоэлектрический микрометр 1956
  • Бусыгин В.Е.
  • Меламед Л.Р.
SU109214A1
Микрофотометр 1975
  • Асланов Ингилаб Асад Оглы
  • Касимов Натик Гаджи-Баба Оглы
  • Рольников Александр Григорьевич
  • Русаков Григорий Григорьевич
SU826201A1
ТЕНЕВОЙ ПРИБОР 1966
SU189604A1

Иллюстрации к изобретению SU 177 634 A1

Реферат патента 1966 года ПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ РАЗМЕРОВ ИЗДЕЛИЙ ОТ НОМИНАЛА

Формула изобретения SU 177 634 A1

SU 177 634 A1

Даты

1966-01-01Публикация