Контактное устройство для контроля микросхем с планарными выводами Советский патент 1992 года по МПК H05K1/18 

Изобретение относится к области импульсной измерительной техники, в частности, к устройствам для измерения и контроля статических и динамических параметров многовыйодных БИС (больших интегральных схем) с пленарными выводами с шагом между ними 0,625 мм.

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является контактное устройство для контроля микросхем с пленарными выводами, содержащее корпус, прижим с упругими прокладками и закрепленные в корпусе универсальные прямоугольные контактные узлы с Г-образными зондами, размещенными соосно с выступами первой и второй гребенок, оснащенных

снаружи диэлектрическими пластинами о экранами.

Недостатком устройства является то, что основная несущая деталь универсального контактного узла выполнена из диэлектрического материала, что может привести к деформации Г-образных зондов во время взаимодействия с прижимом, кроме того, в указанном устройстве не достигается полное экранирование помех между Г-образными зондами, помимо этого, данная конструкция недостаточно технологична при сборке,

Целью изобретения является повышение помехозащищенности и надежности.

Поставленная цель достигается тем, что в контактное устройство для контроля мик«™л

XI со сл

г

росхем с пленарными выводами введен дополнительный экран с гребенками, размещенными на его противоположных сторонах, размещенный между первой и второй гребенками, при этом, зубья первой и второй гребенок размещены во впадинах гребенок экрана.

На фиг.1 изображен разрез контактного устройст а для TcoTTfроля микросхем с пла- нарными выводами; на фиг.2 - разрез уни- версального прямоугольного контактного узла с Г-образными зондами;фна фиг.З - вид устройства сверху без прижима.

Устройство содержит корпус 1, в котором установлены четыре универсальных прямоугольных контактных узла 2, образуя в плане квадрат. Каждый универсальный прямоугольный контактный узел 2 содержит дополнительный экран 3 с гребенками, во впадинах которой расположены Г-образные зонды 4, прижатые с обеих сторон первой гребенкой 5 и второй гребенкой 6. Прижим 7 с упругими прокладками 8 установлен на микросхему 9 для осуществления контакта с Г-образными зондами 4, к которым подпа- яны коаксиальные кабели 10 для сопряжения с измерительной аппаратурой, оканчивающиеся высокочастотными разь- емами 11, жестко зафиксированным в корпусе 1.

Прижим 7 содержит диэлектрический корпус 12, в котором установлен подпружиненный контактный теплопроводный узел 13, с входным и выходными штуцерами 14 и 15, соответственно. В диэлектрическом кор- пусе сделаны углубления 16 для фиксации штырей 17 подпружиненного контактного теплопроводного узла 13. На универсальные прямоугольные контактные узлы 2, укрепленные в корпусе 1 в форме квадрата установлена диэлектрическая пластина 18, металлизированная с обеих сторон, с окнами 19 под универсальные прямоугольные контактные узлы 2. В зоне контактирования прижим 7 установлен с помощью траверсы 20, которая зафиксирована в рабочем положении с помощью фиксатора 21.

Дополнительный экран 3 с гребенками выполнен из электропроводящего материала (латунь, дюраль, медь) и оснащен о двух сторон диэлектрическими первой гребенкой 5 и второй гребенкой 6, имеющими металлизацию с наружной стороны. Выполнение несущей детали (дополнительного экрана 3 с гребенками) универсального пря- моугольного контактного узла 2 из металла позволяет прлностью устранить деформацию Г-образных зондов 4 во время взаимодействия с прижимом 7; существенно снизить взаимные помехи Г-образных зондов4, которые формируются при прохождении электрических сигналов через них,

Для изоляции дополнительного экрана 3 с гребенками от Г-образных зондов 4 применяют диэлектрическое покрытие (лак, полимеры, оксидные пленки), обладающие механической прочностью и устойчивостью к тепловому воздействию в диапазоне температуры плавления припоя.

Металлизация с наружных сторон первой гребенки 5 и второй гребенки 6 обеспечивает возможность распайки оплеток коаксиальных кабелей 10 для сопряжения с измерительной аппаратурой, оканчивающиеся высокочастотным разъемом 11, жестко зафиксированным в корпусе 1,

Прямоугольные контактные узлы 2, сгруппированные в форме квадрата, накрыты диэлектрической пластиной 18, металлизированной с обеих сторон, с окнами 19 под прямоугольные контактные узлы 2 и запаянной по контуру прямоугольных окон 19. К нижней металлизированной поверхности диэлектрической пластины 18 подпаяны концы Г-образных зондов 4, предназначенных для подключения напряжения питания к корпусу микросхемы 9.

Прижим 7 с помощью траверсы 20, подаваемой в зону контактирования, прижимает выводы микросхемы 9 к Г-образным зондам упругими прокладками 8, тем самым, обеспечивая надежное контактирование каждого вывода микросхемы 9 и соответствующего ему Г-образного зонда 4,

Прижим 7 снабжен подпружиненным тепловодным узлом 13, выполненным в виде полого металлического параллелепипеда с входным и выходным штуцерами 14 и 15, соответственно, для подвода жидкого теплоносителя.

В диэлектрическом корпусе 12 сделаны углубления 16 для фиксации штырей 17 под-., пружиненного контактного теплопроводного узла 13.

Такая конструкция прижима 7 позволяет осуществлять надежный контакт выводов микросхемы 9 с Г-образными зондами 4 и, кроме того, вести качественное охлаждение микросхемы 9 с учетом неплоскостности ее установки. Применение жидкостного элемента охлаждения позволяет, практически полностью устранить шум в процессе отвода тепла (по сравнению с воздушным).

Контактное устройство для контроля параметров микросхем с пленарными выводами работает следующим образом,

Микросхему 9 устанавливают в универсальные контактные узлы таким образом, чтобы каждый ее вывод попал в соответствующий паз между коническими зубцами

первой гребенки 5 и второй гребенки 6. Затем с помощью траверсы 20 прижим 7 подают в зону контактирования и прижимают выводы микросхемы 9 к Г-образным зондам 4 упругими прокладками 8, обеспечивая на- дежное контактирование каждого вывода и соответствующего ему Г-образного зонда 4. Охлаждение микросхемы 9 осуществляется с помощью жидкости, пропускаемой через подпружиненный контактный теплопровод- ный узел 13 прижима 7.

После окончания измерения параметров объекта траверсу 20 выводят из зацепления и вместе с прижимом 7 поднимают вверх, позволяя произвести замену микро- схемы 9.

Таким образом, использование устройства позволяет существенно повысить точность измерений параметров микросхем за счет практически полного устранения вза-

имных помех и, тем самым, повысить надежность устройства.

Формула изобретения Контактное устройство для контроля микросхем с пленарными выводами, содержащее корпус, прижим с упругими прокладками и закрепленные в корпусе прямоугольные контактные узлы с Г-образ- ныи зондами, размещенными соосно с выступами первой и второй гребенок, оснащенных диэлектрическими пластинами с экранами, отличающееся тем, что, с целью повышения помехозащищенности и надежности устройства, в него введен дополнительный экран с гребенками.аз- мещенными на его противоположных сторонах, расположенный между первой и второй гребенками, при этом зубья первой и второй гребенок размещены во впадинах гребенок экрана

Использование - в области импульсной измерительной техники, в частности в устройствах для измерения и контроля многовыводных интегральных схем. Сущность изобретения: в контактном устройстве для контроля микросхем с пленарными выводами, содержащем корпус, прижим с упругими прокладками и закрепленные в корпусе универсальные прямоугольные контактные узлы с Г-образными зондами, размещенными соосно с выступами первой и второй гребенок, оснащенных снаружи диэлектрическими пластинами, металлизированными с внешней стороны, в каждый универсальный прямоугольный контактный узел введена дополнительная двухсторонняя гребенка, выполненная из металла, покрытого диэлектриком, а в прижим введен подпружиненный контактный теплопроводный узел, выполненный в виде полого металлического параллелепипеда с входным и выходным штуцерами, причем дополнительная двухсторонняя гребенка расположена между первой и второй гребенками, а ее впадины соосны с Г-образными зондами. 3 ил. сл с

Фиг.

Фиг.З

Редактор Н.Коляда

Составитель Н.Шмелев Техред М.Моргентал

Л

Ф№.2

Корректор С.Пекарь