ДЕРЖАТЕЛЬ ЭЛЕКТРОДОВ ДЛЯ СПЕКТРАЛЬНОГО МИКРОАНАЛИЗА ОБРАЗЦОВ МАТЕРИАЛА И ДЕТАЛЕЙ Советский патент 1966 года по МПК G01J3/10 

Описание патента на изобретение SU179495A1

Известен держатель электродов для спектрального микроанализа образцов материала и деталей, жестко связанный с тубусом микроскопа.

Предложенный держатель выполнен в виде фигурной втулки с двумя диаметрально противоположными вильчатыми ушками, в которых укреплены электродержатели. Держатель установлен на тубусе микроскопа с возможностью поворота. Такая конструкция держателя позволяет упростить процесс исследования, производить одновременно выбор места прижога, установку электродов в выбранной точке, а затем обжог без дополнительных перемещений исследуемого образца и электродов.

Предложенный держатель электродов обеспечивает проведение спектральных микроанализов металлических включений в токонепроводящих материалах, а специальная конструкция зажимных губок позволяет проводить анализ материала толщиной и диаметром в несколько десятков микрон.

На фиг. 1 изображен предложенный держатель электродов; на фиг. 2 - столик микроскопа.

ми 5 и 6. Втулка фиксируется в требуемом положении с помощью стопора 7. В ушках смонтированы на полуосях 8 и 9 два электродержателя 10 и //, которые могут поворачиваться и фиксироваться в требуемом положеиии.

Каждый электродержатель содержит наружную втулку 2, внутри которой расположены изолирующая втулка 13 с центральным

стержнем 14, имеющие возмол ность перемещаться в продольном направлении при помощи регулировочной гайки 15 и возвратной пружины /6. Верхний конец стержня 14 снабжен клеммой 17, на которой закрепляется

провод электропитания, в нижнем конце стержня закреплен электрод 18, который фиксируется винтом 19.

Для исследования образцов и деталей с микроскопическими толщинами столик 20

микроскопа снабжен зажимными губками 21, выполненными из того же материала, что и электроды, а между губками помещают исследуемый образец. При проведении спектрального анализа на

металлических включениях в токонепроводящих материалах используются оба электродержателя, при этом второй провод отсоединяется от клеммы 22, находящейся на основании 23 столика, и присоединяется к клемме

Предмет изобретения

Держатель электродов для спектрального микроанализа образцов материала и деталей, отличающийся тем, что, с целью упрощения 5

процесса исследования, держатель выполнен г. виде фигурной втулкн, поворотно установленной на тубусе микроскопа с двумя диаметрально противоположными вильчатыми ушками, в которых укреилены электродержатели.

Похожие патенты SU179495A1

название год авторы номер документа
Держатель электрода прибора для спектрально микроанализа материалов 1947
  • Беркович Е.С.
  • Хрущев М.М.
SU84536A1
Электронный микроскоп-микроанализатор 1975
  • Кисель Георгий Дмитриевич
SU568985A1
СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ СОСТОЯНИЯ ПАРОДОНТА 2006
  • Иванова Ирина Алексеевна
  • Лепилин Александр Викторович
  • Захарова Наталия Борисовна
  • Рыжков Виктор Борисович
  • Фомина Ольга Леонтьевна
RU2299437C1
ПРИБОР ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МИКРОТВЕРДОСТИ 1970
SU266317A1
Устройство для изготовления микротермопар 2017
  • Алифанов Олег Михайлович
  • Будник Сергей Александрович
  • Клименко Борис Михайлович
  • Самарин Валерий Викторович
  • Яроцкий Виктор Николаевич
RU2681859C2
СТОЛИК-ТЕРМОСТАТ ДЛЯ ПРИЖИЗНЕННОГО МИКРОСКОПИРОВАНИЯ 1970
SU281743A1
КАЛИБРОВОЧНЫЙ ЭТАЛОН ДЛЯ ПРОФИЛОМЕТРОВ И СКАНИРУЮЩИХ ЗОНДОВЫХ МИКРОСКОПОВ 2013
  • Мешков Георгий Борисович
  • Яминский Дмитрий Игоревич
  • Яминский Игорь Владимирович
RU2538029C1
Электронный микроскоп-анализатор 1977
  • Зелев Станислав Филиппович
  • Кисель Георгий Дмитриевич
  • Баталин Виктор Павлович
  • Волнухин Борис Климентьевич
  • Удальцов Вениамин Иосифович
SU721868A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПЛОМБИРОВАНИЯ 1995
  • Зверев В.С.
RU2104858C1
КАЛИБРОВОЧНЫЙ ЭТАЛОН ДЛЯ ПРОФИЛОМЕТРОВ И СКАНИРУЮЩИХ ЗОНДОВЫХ МИКРОСКОПОВ 2013
  • Мешков Георгий Борисович
  • Яминский Дмитрий Игоревич
  • Яминский Игорь Владимирович
  • Оленин Александр Владимирович
RU2538024C1

Иллюстрации к изобретению SU 179 495 A1

Реферат патента 1966 года ДЕРЖАТЕЛЬ ЭЛЕКТРОДОВ ДЛЯ СПЕКТРАЛЬНОГО МИКРОАНАЛИЗА ОБРАЗЦОВ МАТЕРИАЛА И ДЕТАЛЕЙ

Формула изобретения SU 179 495 A1

Фиг.1

15

ff

J3

/3

2}

SU 179 495 A1

Даты

1966-01-01Публикация