И ряде с.чучаси, особенно при исследовании ciinaison. необходимо OTIределить химический состав отдельного химического :1лемеита сила па на оирсделенном участке микроскопического размера is за)апее выбранном на шлифе месте.
Предлагаемый держатель электрода жестко скяяан с тубусом микроскопа, сиабженного поворотным столиком, фиксируемым к двух положениях; в одном из которых требуемая точка итлпфа jiacnoriaraoTCJi па оптической оси микроскопа, а при другом-под электродом.
На фиг. 1 и 2 изображен предлагаемый держатель в двух проекциях.
Держатель представляет собою вертикальпыГ: пастольн) лшкроскоп тииа металломикроскоиа., снабжеииый поворотным столиком 1. На обт ектпвном конце тубуса 2 микроскопа укреплепа держаика 3, п которой установлен шпиндель 4, могунщй перемещаться поступательно liiscpx н вниз. К нижнему концу шпинделя 4 крепится ;)лектрод о ностоянп{нч) состава.
Образец, подлежаш;нй испытанию, кладут ia предметный столнк 1, который предварительно поворачивают в Kpaiinee п:оложепие до упора. Рассматривая поверхность шлифа образца 6 в микроскоп и передвигая столпк при номощи двух ВИНТ013 коордииатпо пол;ачи, находят место пробы н совмеш,ают его с перекрестием нитей. Затем иа нглиф накладывают тонкую нластннку 7 нзолируюш;его вещест (слюда) с отверстием 10-15 мк так, чтобы центр отверстия совпадал с перекрестием, и и отом ноложении пластинку 7 посредством объектоДоржателя 8 фиксируют на шлифе. Затем столик поворачивают до уиора так, что с выбраниотт точкой иа шлифе будет совмещена ось электрода 5. Такттм образом, искра оказывается строго нанравленной на выбранный лпткроучасток, что дает возможность исследовать методом спектрального апа:п1за отдельно
№ 84536-- 2 структурные элементы снлавов, имеющих в поперечнике размер не меньше диаметра отверстия в изолирующем лнсте.
Показациое на фиг. 1 зеркало 9 представляет собой зеркало стилоскопа.I ..
V
Предмет изобретения
Держатель электрода прибора для спектрального микроанализа материалов, о т л и ч а ю щ и и с я тем, что для возможности устаиовки электрода в требуемую точку Н1лифа исследуемого материала держатель жестко связан с тубусом микроскопа, сиабяхениого поворотным столиком, могущим быть фиксированным в двух ноложениях, в одиом из которых требуемая точка гплпфа располагается па оптпческой оси микроскоиа, а при другом-иод электродом.
