(Л
С
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
КОНТАКТНОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ТЕСТИРОВАНИЯ БЕСКОРПУСНОЙ ИНТЕГРАЛЬНОЙ МИКРОСХЕМЫ С ГИБКИМИ ПРОВОЛОЧНЫМИ ВЫВОДАМИ В ТАРЕ-СПУТНИКЕ | 2023 |
|
RU2810624C1 |
Контактное устройство | 1980 |
|
SU934577A1 |
КОНТАКТНОЕ УСТРОЙСТВО | 1991 |
|
RU2042993C1 |
КОНТАКТНОЕ УСТРОЙСТВО | 1993 |
|
RU2076474C1 |
Контактное устройство | 1976 |
|
SU576680A1 |
Контактное устройство | 1988 |
|
SU1536462A1 |
Контактное устройство | 1978 |
|
SU790050A1 |
Устройство для измерения электрических параметров интегральных схем | 1980 |
|
SU906045A1 |
Контактное устройство | 1987 |
|
SU1478387A1 |
Контактный зонд | 1983 |
|
SU1155952A1 |
Сущность изобретения: устройство содержит диэлектрическое основание с закрепленными в нем контактными элемента-, ми в виде гибких пластин-держателей и кон- тактов-нэконечников,каждый контакт-наконечник выполнен в виде пластины, изогнутой под углом от 0 до 90°, причем линия перегиба делит пластину на две части, одна из которых, торцом контактирующая к выводу микросхемы, имеет отношение стороны, перпендикулярной плоскости симметрии контактного элемента, к другой стороне торца более 2:1, а другая часть пластины имеет площадь части, присоединяемой к гибкой пластине-держателю, большую не менее чем в 5 раз площади торца, контактирующего к выводу микросхемы, что повышает надежность контактирования. 2 ил,
Изобретение относится к области электроники, в частности к конструкциям контактных устройств для подключения интегральных схем.
Целью изобретения является повышение надежности контактирования к выводам микросхемы за счет одновременного уменьшения контактного переходного сопротивления иувеличения прочности соединения контакта-наконечника с упругой пластиной,
На фиг.1 изображено контактное устройство в сборе: 1 - основание, 2 - контактные элементы, 3 - контактируемая микросхема. На фиг.2 изображен контактный элемент: 4 - гибкая пластина-держатель, 5 - наконечник. Число контактных элементов соответствует числу выводов измеряемой микросхемы, контактные элементы размещаются в пазах диэлектрических пластин основания, после чего пластины
стягиваются, В собранном КУ с одной стороны диэлектрического основания (из трех пластин) размещаются части контактных элементов, которые контактируют к выво- .дам микросхемы, с другой - части КЭ, которые подключаются к согласующему устройству. Контактные элементы могут быть подпружинены дополнительными плоскими пружинами, если необходимо увеличить усилие прижатия,
В конкретном исполнении КУ гибкие пластины контактных элементов выполнены из стали 65Г толщиной 0,2 мм, шириной 1,9 мм и закалены до 48-52 HRC. Контакты выполнены из никеля толщиной 0,4 мм, шириной 1,9 мм в месте контакта на вывод микросхемы и 1,2 в месте соединения с гибкими пластинами/ Соединение контакта и пластины произведено пайкой припоем ПОС-61.
vi о
с ю со ю
Использование заявляемого изобретения позволяет, как показывают результаты опытной эксплуатации:
Формула изобретения Контактное устройство для подключения интегральных схем с DIP корпусом, содержащее диэлектрическое основание с закрепленными в нем контактными элемен
фи, i
тами, выполненными в виде гибких пластин держателей с присоединенными к ним кон тактами-наконечниками, отличающее с я тем, что, с целью повышения надежно сти контактирования к выводам микросхе мы, каждыйконтакт-наконечник выполнен в виде/пластины, изогнутой под углом от 0 до 90°, причем торец пластины контактирующий к выводу микросхемы, имеет отношение стороны, перпендикулярной плоскости симметрии контактного элемента, к другой стороне торца более 2:1, а площадь части пластин, плоскостью присоединяемая к гибкой пластине-держателю, больше площади торца, контактирующего к выводу микросхемы, не менее чем в пять раз.
U
Pt/e 2
°
о/т О - Ж
Шабанов А.А., Хамидулмен P.P | |||
Контактные устройства для контроля изделий микроэлектроники, М. | |||
Р | |||
и С., 1985 | |||
Способ изготовления звездочек для французской бороны-катка | 1922 |
|
SU46A1 |
G,01 R31/28, 1971. |
Авторы
Даты
1993-02-28—Публикация
1990-09-19—Подача