Устройство для измерения электрических параметров интегральных схем Советский патент 1982 года по МПК H05K13/08 

Описание патента на изобретение SU906045A1

(5) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ

1

Изобретение относится к микроэлект ронике и радиотехнике и может быть использовано при межоперационном контроле и разработке интегральных микросхем на полупроводниковой пластине с программированным контрактированием.

Известны устройства для измерения электрических параметров интегральных схем с одним или множеством измерительных зондов, механизмов регулировки усилия прижатия измерительных зондов к контактной площадке ральной схемы, содержащие измерительный зонд в виде иглы, держатель зонда, систему винтового регулирования положения зонда относительно проверяемой микросхемы, контакты контроля касания пластины 1 .

Однако в известном устройстве не обеспечивается регулировка усилия прижатия зонда к пластине в процессе измерений, что приводит к выходу из строя интегральных схем и затрудняПАРАМЕТРОВ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ

ет автоматизацию процесса измерения. Кроме того, при измерении удельного поверхностного сопротивления полупроводниковых пластин, изготовленных из различных материалов, необходимо индивидуально подбирать материал полупроводникового электрода, который совместим с материалом измеряемой пластины (тип проводимости, микротвердость). В данных устройствах не

10 предусмотрена автоматизация регули.ровки усилия прижатия электродов к измеряемой пластине, что не позволяет получить достаточно высокую воспроизводимость результатов измерений.

15 Известно также устройство для измерения электрических параметров интегральных схем, содержащее основание для закрепления узлов и механизмов, систему контактирования, имею20щую держатель с закрепленными на нем подпружиненными зондодержателями с зондами, электромагниты, блок регулировки 21. 3 к недостаткам известной конструк ции относится невозможность регулировки усилия прижатия зондов к поверхности пластины в процессе измерения электрических параметров, т.е все зонды давят на контактные площадки с с различными усилиями. Кроме того, процесс выставления зондов весьма кропотливый и трудоемкий в связи с различными механическими свойствами зондодержателей, его необходимо многократно повторять. В результате этого на поверхность контактных площадок наносятся царапины глубиной до 0,)5 мкм, что приводит к выводу интегральной схемы зон да к поверхности пластины, обуславливает разброс величины контактного переходного сопротивления зонд - кон тактная площадка 0,010-10,0 м, что связано с низкой точностью измерения за счет низкой воспроизводимости результатов измерений. Цель изобретения - повышение точности измерения и выхода годных. Цель достигается тем, что устройство для измерения электрических параметров интегральных схем, содержащее основание, подпружиненные зон-. додержатели с зондами в виде стержне и электромагнитами, соединенными с блоком регулировки величины давления зондов, снабжено диффузионным тонзорезистором, соединенным с блоко регулировки величины давления зондов - .. - а каждый зонд выполнен из двух частей: контактной в виде электропровод ного наконечника и диэлектрической, на которой размещен диффузионный тен зорезистор. На фиг.1 изображено предлагаемое устройство сОДНИМ зондом, схема; на фиг.2 - конструкция зонда. Устройство для измерения электрических параметров интегральных схем содержит основание 1, на пластине 2 которого закреплен Зондодержатель 3 с зондом Ц на одном конце и сердечником электромагнита 5 на другом. Зондодержатель 3 подпружинен пружинами 6. Катушка электромагнита 5 сое динена с блоком регулировки величины давления зондов, включающим после довательно соединенные пороговый эле мент 7, вычислительный блок 8, блок управления 9 и измерительный блок 10. Зонд k выполнен в виде стержня и состоит из двух частей;контактной 11 в виде высоколегированного металЗлического наконечника, выполненного, например, методом планарно-пленочной технологии, и диэлектрической 12, на которой в месте максимальной деформации размещен диффузионный тензорезистор 13, соединенный электрически со входом порогового элемента 7 блока регулировки величины давления зондов. Зондодержатель 3 шарнирно закреплен при помощи оси и скобы 15 к пластине 2, а винты 1б, 17 и 18 служат для регулировки положения зондодержателя 3Устройство работает следующим образом. При касании контактной частью 11 зонда пластины с интегральными схемами 19, лежащей на предметном столике 20, зонд А деформируется, при этом установленный в месте максимальной деформации зонда 4 тензорезистор 13, преобразуя деформациюв электрический сигнал, выдает его на вход порогового элемента 7- В случае повышения или уменьшения этого сигнала в заданных пределах разностный сигнал с выхода порогового элемента 7 поступает на вход вычислительного блока 8, который динеаризует зависимость величины усилия прижатия зонда if к пластине с интегральными схемами 19 от угла вращения зондодержателя 3 относительно оси 1, и стабилизирует по величине усилие прижатия, отключает систему при отклОнении зондодержателя 3 на максимально заданный угол против часовой стрелки и включает сигнализацию при отклонении зондодержателя в направлении по часовой стрелке до максимально заданного значения, включает механизм подачи предметного столика 20 после окончания цикла от сигнала, поступающего от измерительного блока 10. По сигналу, поступающему с выхода вычислительного блока 8 на вход блока управления 9 который изменяет ток а катушке электромагнита 5 сердечник, связанный шарнирно с зондодержателем 3, поворачивает его на некоторый угол относительно оси 1, изменяя давление контактирующей части 11 зонда Ц на пластину 19- Пружины 6 демпфируют колебаний зондодержателя 3 и уменьшают инерционность колебательной системы. Винтом 16 регулируется положение зондодержателя в плоскости, параллельно плоскости пластины, винтом 18 - по вертикали

а винтом 17 производят фиксацию зонда 4 в нужном положении.

Деформация зонда и величина его сечения связаны между собой обратнопропорциональной зависимостью. Для определения соотношения между ними необходимо произвести расчет.

Напряжение определяется по известному соотношению:

6 -ев,

где - величина деформации зонда; Е - модуль упругости для кремния ,0.6-10 кг/см1); и формуле d з где: Р - изгибающая сила;

X - расстояние от поверхности

зонда до нейтральной линии; Z - длина зонда, см; I - момент инерции, определяемый по формуле:

i-bh где Ь - толщина сечения зонда, см;

h - ширина сечения зондаj см. Расчет деформации производят по формуле:

- f:FВыбираются образцы зондов с квадратом в сечении и с размерами сторон 0,050,07 см. Величина деформации изменяется в пределах 0, 2, 10, что обеспечивает необходимый по величине сигнал, снимаемый с тензорезистора 13. При стороне сечения зонда в месте максимальной деформации менее 0,05 см его деформация достигает предельного значения для полупроводникового материала, увеличение деформации более 0, ведет к его разрушению. При стороне сечения свыше 0,07 см деформация настолько незначительна, что ее преобразование затруднено из-за минимального выходного сигнала тенэорезистора. Например, при длине зонда 2 см, отношение длины к площади поперечного сечения в месте расположения тензорезистора находится в пределах kOQ - 800 в зависимости от при меняемого материала. .

Заданное усилие прижатия зонда k к пластине с интегральными схемами 19 стабилизируется при помощи порогового элемента 7 и вычислительного блока 8 с точностью 0,001 и более, что обеспечивает высокую стабильность и воспроизводимость контактного переходного сопротивления между контактной площадкой ральной схемы и контактирующей частью 11 зонда , вследствие чего воспроизвоцимость результатов измерений высокая.

Регулировку усилия прижатия каждого зонда производят автоматически в динамике процесса измерений интегральных схем и величину стабилизируемого усилия выставляют минималь- . ную, что исключает выход из строя интегральных схем за счет контрактирования, а также повышает процент

выхода годных на операции контроля до 100% и значительно повышает надежность интегральных схем за счет операции функционального контроля.

25

Формула изобретения

Устройство для измерения электрических параметров интегральных схем,

содержащее основание, подпружиненные зондодержатели с зондами в виде стержней и электромагнитами, соединенными с блоком регулировки величины давления зондов, о т л и чающееся тем, что, с целью повышения точности измерения и выхода годных, снабжено диффузионным тензорезистором, соединенным с блоком регулировки величины давления

зондов, а каждый зонд выполнен из двух частей: контактной в виде электропроводного наконечника и диэлектрической, на которой размещен диффузионный тензорезистор.

Источники информации,

принятые во внимание при экспертизе

1. Патент ГДР № 53201,21е 36/10, 1967.

2. Зондовый автомат Зонд-А5, И КН Н-008. Техническое описание и инструкция по эксплуатации БбМ2, 688.007 ТО (прототип).

Похожие патенты SU906045A1

название год авторы номер документа
Зондовая головка 1979
  • Афанасьев Виктор Ильич
  • Борщев Вячеслав Николаевич
  • Гилецкий Нестор Павлович
SU843325A1
ДВУХБАЛОЧНЫЙ АКСЕЛЕРОМЕТР 2006
  • Красюков Антон Юрьевич
  • Погалов Анатолий Иванович
  • Тихонов Роберт Дмитриевич
  • Суханов Владимир Сергеевич
RU2324192C1
МНОГОБАЛОЧНЫЙ АКСЕЛЕРОМЕТР - АНАЛИЗАТОР СПЕКТРА МЕХАНИЧЕСКИХ КОЛЕБАНИЙ НА ОСНОВЕ ТЕНЗОРЕЗИСТИВНЫХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ 2008
  • Гусев Дмитрий Валентинович
  • Красюков Антон Юрьевич
  • Погалов Анатолий Иванович
  • Суханов Владимир Сергеевич
  • Тихонов Роберт Дмитриевич
RU2387999C1
МАТРИЦА ИНТЕГРАЛЬНЫХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ ДАВЛЕНИЯ 2007
  • Амеличев Владимир Викторович
  • Буданов Владимир Михайлович
  • Гусев Дмитрий Валентинович
  • Соколов Михаил Эдуардович
  • Суханов Владимир Сергеевич
  • Тихонов Роберт Дмитриевич
RU2362236C1
Установка для ультразвуковой микросварки 1987
  • Кипаренко Анатолий Павлович
  • Кузуб Юрий Николаевич
  • Дмитриев Виталий Борисович
  • Долгий Анатолий Николаевич
SU1524979A1
МУЛЬТИПЛИКАТИВНЫЙ МИКРОЭЛЕКТРОННЫЙ ДАТЧИК ДАВЛЕНИЯ (ВАРИАНТЫ) 2003
  • Криворотов Н.П.
  • Изаак Т.И.
  • Свинолупов Ю.Г.
  • Ромась Л.М.
  • Иванов Е.В.
  • Бычков В.В.
RU2247342C1
ИНТЕГРАЛЬНЫЙ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ ДАВЛЕНИЯ 2001
  • Бонцаенко В.Е.
  • Виговская Т.В.
  • Кокин Е.П.
  • Смирнов А.А.
  • Сурин Ю.В.
RU2186438C1
Акселерометр 1978
  • Богатов Павел Николаевич
  • Борщев Вячеслав Николаевич
  • Харитонов Виталий Павлович
  • Спалек Юрий Михайлович
SU681376A1
ДАТЧИК ДАВЛЕНИЯ И СПОСОБ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ 1990
  • Михайлов П.Г.
  • Козин С.А.
  • Андреев Е.И.
  • Белозубов Е.М.
SU1771272A1
Зондовое устройство для измерения электрических параметров изделий микроэлектроники 1986
  • Глущенко Виталий Александрович
  • Вилисов Геннадий Трофимович
  • Госсен Иван Иванович
SU1536528A1

Иллюстрации к изобретению SU 906 045 A1

Реферат патента 1982 года Устройство для измерения электрических параметров интегральных схем

Формула изобретения SU 906 045 A1

SU 906 045 A1

Авторы

Харитонов Виталий Павлович

Даты

1982-02-15Публикация

1980-02-26Подача