Интерферометр фазового сдвига Советский патент 1993 года по МПК G01B9/02 

Описание патента на изобретение SU1816313A3

газом кювета 6 с окнами может быть установлена в ходе либо опорного, либо измерительного пучка излучения. Кювета б снабжена узлом 7 изменения давления газа (в простейшем случае - баллоном с редуктором) и прибором 8 для контроля давления газа. В ходе совмещенных опорного и измерительного пучков излучения установлены объектив 9 и матричное фотоприемное устройство 10, подключенное к входу системы обработки информации ЭВМ 11. При контроле неплоских поверхностей в измеритель- ный пучок излучения вводится формирователь 12 предметного пучка.

Интерферометр работает следующим образом.

Пучок излучения от источника 1 расширяют телескопической системой 2 и направляют на светоделитель 3, где он делится на два пучка, один из которых - измерительный поступает на контролируемый объект 5, а второй - опорный направляют на эталонное зеркало 4. По Пути к эталонному зеркалу 4 пучок проходи кювету 6, наполненную газом. Отразившиеся от контролируемого объекта 5 и эталонного зеркала 4 пучки совмещаются светоделителем 3 и с помощью объектива 9 образуют интерференционную картину на поверхности матричного фотоприемного устройства 10, сигнал с которого обрабатывается ЭВМ 11..

Регулирование давления в кювете может производиться известным способами: либо путем использования специальной конструкции собственно кюветы, либо с помощью дополнительного устройства для регулирования давления.

Для осуществления изменения фазы в опорном канале по заданному закону, например дискретно на А/2, давление в кювете изменяют на величину, определенную из уравнения

2.7822 х Т п-1

х л,

где Р - величина изменения давления, мм рт.ст,- п - величина изменения коэффициента преломления; п - коэффициент преломления в нормальных условиях (Р 760 мм рт.ст., Т 273К), Т - температура среды, К.

Для кюветы с геометрическим расстоянием между выходной гранью светоделителя и отражающей поверхностью зеркала L при Т 293К изменение давления определяется величиной

Р.

2.7822 х 293

.

203 х 7962

п-1

Ј

0

5

0

5

0

5

0

5

0

5

где Л-длина волны источника света.

Сигнал с фотоприемника обрабатывается известными способами. Для случая четырех равных шагов фаза волны в данной точке определяется по формуле

. Ф(х,у) аг«д .

где А, В, С, D - интенсивности излучения в точке с координатами (х.у) при изменении фазы пучка опорного плеча на 0; лг/2,я, 3/2 я.

Использование кюветы с газом для осуществления точного изменения фазы пучка в одной из ветвей интерферометра позволяет повысить точность контроля качества поверхности оптического элемента по сравнению с прототипом за счет исключения механических перемещений узлов интерферометра, которые присутствуют при использовании пьезопривода для перемещения подвижного зеркала, и за счет устранения погрешностей, обусловленных нелинейностью свойств пьезопривода и присущих пьезокерамике анизотропии и временной нестабильности характериртик. Формула изобретения Интерферометр фазового сдвига для контроля формы поверхности оптических элементов и качества оптических систем, содержащий последовательно установленные источник монохроматического излучения, расширитель пучка излучения и светоделитель, предназначенный для формирования опорного и измерительного пучков излучения, эталонный отражатель, установленный в ходе опорного пучка излучения, матричный фотоприемник с системой обработки информации, установленный в ходе совмещенных пучков излучения, и средство для изменения оптической разности хода между опорным и измерительным пучками излучения, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля и упрощения конструкции интерферометра, средство для изменения оптической разности хода между опорным и измерительным пучками излучения выполнено в виде кюветы с газом, установленной после светоделителя в одном из пучков излучения с возможностью изменения давления газа в кювете по ступенчатому закону.

Похожие патенты SU1816313A3

название год авторы номер документа
ИНТЕРФЕРОМЕТР С ФУНКЦИЕЙ ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ 2020
  • Вензель Владимир Иванович
  • Семёнов Андрей Александрович
  • Соломин Станислав Олегович
  • Муравьева Елена Станиславовна
RU2744847C1
Интерференционное устройство для контроля линз 1990
  • Казаков Николай Павлович
  • Крылов Юрий Николаевич
  • Гиргель Сергей Сергеевич
  • Горелый Николай Николаевич
  • Войтенко Игорь Георгиевич
SU1758423A1
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ РЕФРАКТОМЕТР 1991
  • Мищенко Юрий Викторович
  • Ринкевичюс Бронюс Симович
RU2008653C1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ АСФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ ВТОРОГО ПОРЯДКА 2009
  • Ларионов Николай Петрович
RU2396513C1
Интерференционное устройство для измерения перемещений объектов 1989
  • Гужов Владимир Иванович
  • Кузнецова Инна Владимировна
  • Солодкин Юрий Наумович
SU1663416A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МИКРОРЕЛЬЕФА ОБЪЕКТА И ОПТИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ПРИПОВЕРХНОСТНОГО СЛОЯ, МОДУЛЯЦИОННЫЙ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МИКРОСКОП ДЛЯ ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ СПОСОБА 2001
  • Андреев В.А.
  • Индукаев К.В.
  • Осипов П.А.
RU2181498C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ КАЧЕСТВА ПЛОСКИХ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ, РАСПОЛОЖЕННЫХ ПОД УГЛОМ К ОПТИЧЕСКОЙ ОСИ 2014
  • Барышников Николай Васильевич
  • Гладышева Яна Владимировна
  • Животовский Илья Вадимович
  • Денисов Дмитрий Геннадьевич
  • Абдулкадыров Магомед Абдуразакович
  • Патрикеев Владимир Евгеньевич
RU2573182C1
БЫСТРОДЕЙСТВУЮЩИЙ ИЗМЕРИТЕЛЬ ДЛИНЫ ВОЛНЫ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ДЛЯ ВОЛОКОННО-ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ ПЕРЕДАЧИ ИНФОРМАЦИИ 2009
  • Григорьев Василий Викторович
  • Лазарев Владимир Алексеевич
  • Митюрев Алексей Константинович
  • Неверова Наталья Александровна
  • Пнев Алексей Борисович
RU2425338C2
УСТРОЙСТВО КОНТРОЛЯ ПОЛОЖЕНИЯ ОБЪЕКТА НАНО- И СУБНАНОМЕТРОВОЙ ТОЧНОСТИ 2012
  • Кожеватов Илья Емельянович
  • Куликова Елена Хусаиновна
  • Руденчик Евгений Антонович
  • Черагин Николай Петрович
RU2502951C1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ 1997
  • Долгих Г.И.
  • Корень И.А.
RU2146354C1

Иллюстрации к изобретению SU 1 816 313 A3

Реферат патента 1993 года Интерферометр фазового сдвига

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля формы поверхности оптических элементов и качества оптических систем. Цель изобретения - повышение точности контроля и упрощение конструкции интерферометра. Пучок монохроматического излучения расширяют и направляют на светоделитель, где он делится на два пучка, один из которых - измерительный поступаИзобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля формы поверхности оптических элементов и качества оптических систем. Цель изобретения - повышение точности контроля и упрощение конструкции интерферометра. На чертеже приведена функциональная схема интерферометра фазового сдвига. ет на контролируемый объект, а второй - опорный направляют на эталонное зеркало. Отразившиеся от контролируемого объекта и эталонного зеркала пучки совмещаются светоделителем и образуют интерференционную картину на поверхности матричного фотоприемника, сигнал с которого обрабатывается ЭВМ. Для изменения оптической разности хода между опорным и измерительным пучками излучения в ходе одного из них установлена кювета с газом. Для осуществления изменения фазы пучка по заданному закону, например дискретно, регулируют давление в кювете известными способами: либо путем использования специальной конструкции собственно кюветы, либо с помощью дополнительного устройства для регулирования давления при контроле изменения давления соответствующим прибором. Использование кюветы с газом для точного изменения фазы одного из пучков интерферометра позволяет повысить точность контроля и упростить конструкцию интерферометра за счет исключения механических перемещений узлов интерферометра и устранения погрешностей, обусловленных в прототипе нелинейностью и нестабильностью свойств пьезопривода. 1 ил. Интерферометр содержит монохроматический источник 1 излучения (лазер), установленные по ходу излучения расширитель 2 пучка излучения и светоделитель 3, формирующий опорный и измерительный пучки излучения. В ходе опорного пучка излучения установлено эталонное зеркало 4. В ходе измерительного пучка излучения установлен контролируемый объект 5. Наполненная СО с оо сь w 00 00

Формула изобретения SU 1 816 313 A3

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1993 года SU1816313A3

Малакара Д
Оптический производственный контроль,
М.: Машиностроение, 1985,с.42
Applied Optics, vol 22, isfe 21, november, 1983, p
ВЕШАЛКА ДЛЯ ВКЛЮЧЕНИЯ В СИГНАЛЬНУЮ ЦЕПЬ 1925
  • Кожарский И.С.
SU3421A1

SU 1 816 313 A3

Авторы

Иванов Павел Павлович

Агашков Юрий Федорович

Четыркин Николай Борисович

Даты

1993-05-15Публикация

1989-08-18Подача