ПРОЗРАЧНЫХ ОБЪЕКТОВ Советский патент 1966 года по МПК G01N1/36 G01N21/41 G02B1/10 

Известны способы подготовки прозрачных объектов к микроспектрофотометрическим измерениям в отраженном свете, заключающиеся в изготовлении прозрачно-полированного шлифа (тонкой отполированной с поверхности пластины, закрепленной с помощью канадского бальзама на предметном стекле).

Предложенный способ подготовки прозрачных объектов к микроснектрофотометрическим измерениям в отраженном свете отличается от известных тем, что пластины исследуемого объекта в шлифе полируют с обеих сторон, а шлиф помещают на поглощающую свет подложку с прослойкой иммерсионной среды, обеспечивающей оптический контакт щлифа с подложкой.

Осуществление описываемого способа подготовки объекта к измерениям основано на использовании известной зависимости коэффициента R отражения от показателя п преломления того же вещества. Эта зависимость Может быть записана в следующем виде:

4л

R

п -1-1,54; (я + 1)

п +

Подставляя в приведенную формулу значения показателя п преломления, можно вычислить соответствующие им значения коэффициента R отражения и построить график зависимости R от п. Этот график может быть использован для определения показателя п преломления прозрачных объектов по измеренным значениям коэффициента R отражения.

Предмет изобретения

Способ подготовки прозрачных объектов к микроспектрофотометрическим измерениям в отраженном свете, заключающийся в изготовлении прозрачно-полированного шлифа исследуемого объекта, отличающийся тем, что, с целью увеличения точности результатов измерений, пластины исследуемого объекта в шлифе полируют с обеих сторон, а шлиф цомеща ют на поглощающую свет подложку с про слойкой иммерсионной среды, обеспечиваю-щей оптический контакт щлифа с подложкой.