ФРАКТОГРАФИЧЕСКАЯ ГОЛОВКА Советский патент 1966 года по МПК G02B21/24 G02B21/00 G02B27/40 

Описание патента на изобретение SU185101A1

Известны фрактографические головки для исследования изломов материалов с помощью микроскопа, содержащие корпус, расположенный в нем узел грубой узловой наводки со сферическим шарниром и оправку для образца.

Предлагаемая головка отличается от известных тем, что она снабжена узлом точной угловой наводки, установленным в сферическом шарнире и содержащим ось, снабженную на концах шаровыми пятами, держатель, в котором закреплена одна пята оси, два взаимно перпендикулярных винта для перемещения держателя в двух взаимно перпендикулярных нанравлениях, гайку и подпружиненную относительно сферического щариира шайбу, расположенные во внутренней полости сферического шарнира, которые фиксируют другую пяту. Это позволяет произвести металлографические иссле.дования изломов мелкозернистых материалов.

Для измерения микротвердости на поверхности излома корпус головки снабжен фланцем для закрепления ее на сменной опоре, которая устанавливается на приборе для измерения микротвердости.

шарнира 5. Узел точной угловой наводки установлен в сферическом щариире и содержит ось 6, снабженную на концах щаровыми пятами 7 и 8, держатель 9, в котором закреплена пята 8, два взаимно перпендикулярных винта 10 для перемещения держателя в двух взаимно перпендикулярных направлеииях, гайку П и подпружииенную относительно сферического шарнира шайбу 12, расположенные во внутренней полости сферического щарнира, которые фиксируют пяту 7.

Корпус 13 головки снабжен фланцем 14 для закрепления ее на сменной опоре, которую устанавливают на прибор для измерения

микротвердости.

Наводка заключается в установлении выбранной поверхности образца перпендикулярно ходу луча в металломикроскопе. Грубой угловой наводки достигают поворотом столика относительно сферической поверхности корпуса 13 через втулки на сферический шарнир 5, в котором закреплен держатель 9 с образцом. Допустимые угловые повороты столика относительно вертикальной оси ±30°.

После грубой угловой наводки выбранного места на образце производят плавную подстройку с помощью двух взаимно перпендикулярных микровинтов 10. Перемещение микровиитов передается на стойку шарнира 15, ось

перемещение шаровой оси относительно вертикальной оси ±7°.

Для измерения микротвердости производится предварительная настройка выбранной поверхности полома в металломикроскопе. Затем головку снимают, переворачивают на 180° и устанавливают в сменную опору. Сменную опору с головкой устанавливают на стол микротвердомера и проводят замер твердости по стандартной методике.

Предмет изобретения

1. Фрактографическая головка для исследования изломов материалов с помощью микроскопа, содержащая корпус, расположенный в нем узел грубой угловой наводки со сферическим щарниром и оправку для образца, отличающаяся тем, что, с целью металлографического исследования изломов мелкозернистых материалов, она снабжена узлом точной угловой наводки, установленным в сферическом шарнире и содержащим ось, снаблсенную на концах щаровыми пятами, держатель, в котором закреплена одна пята оси, два взаимно перпендикулярных винта для перемещения держателя в двух взаимно перпендикулярных направлениях, гайку и подпружиненную относительно сферического шарнира шайбу, расположенные во внутренней полости сферического шарнира, которые фиксируют другую пяту. 2. Головка по п. 1, отличающаяся тем, что, с

целью измерения микротвердости на поверхности излома, корпус головки снабжен фланцем для закрепления ее на сменной опоре, которая устанавливается на приборе для измерения микротвердости.

Похожие патенты SU185101A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРОЧНОСТНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК МАТЕРИАЛА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2011
  • Ненашев Максим Владимирович
  • Калашников Владимир Васильевич
  • Деморецкий Дмитрий Анатольевич
  • Прилуцкий Ванцетти Александрович
  • Ибатуллин Ильдар Дугласович
  • Нечаев Илья Владимирович
  • Журавлев Андрей Николаевич
  • Мурзин Андрей Юрьевич
  • Ганигин Сергей Юрьевич
  • Якунин Константин Петрович
  • Кобякина Ольга Анатольевна
  • Чеботаев Александр Анатольевич
  • Утянкин Арсений Владимирович
  • Шашкина Тамара Александровна
  • Неяглова Роза Рустямовна
  • Трофимова Елена Александровна
  • Галлямов Альберт Хафисович
RU2499246C2
Ячейка для исследования диэлектрических характеристик твердых диэлектриков 1979
  • Подгорный Юрий Владимирович
  • Шахматов Александр Александрович
  • Лущейкин Георгий Акимович
SU894521A2
Наклонно-поворотный юстировочный столик 1980
  • Федорищев Герман Ильич
  • Альперин Леонид Львович
  • Степин Юрий Александрович
  • Братов Валентин Петрович
  • Антонов Виталий Викторович
SU905055A1
ПЬЕЗОЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИДЕНТИФИКАЦИИ ОБРАЗЦА ПО УЧАСТКУ ЕГО ПОВЕРХНОСТИ 1994
  • Квасников Сергей Викторович
  • Нистратов Виктор Филиппович
  • Фальковский Игорь Всеволодович
RU2044399C1
КОМБИНИРОВАННЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ ТУННЕЛЬНЫЙ МИКРОСКОП - РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП 1994
  • Липанов А.М.
  • Шелковников Ю.К.
  • Осипов Н.И.
  • Тарасов А.В.
  • Миронов С.В.
RU2089968C1
УСТАНОВКА ДЛЯ НАСТРОЙКИ И ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ ИНКЛИНОМЕТРОВ 1999
  • Алимбеков Р.И.
  • Заико А.И.
RU2178522C2
ПРИСПОСОБЛЕНИЕ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ МАЛЫХ СИЛ ПРИ ЭЛЕКТРОАЛМАЗНОМ ШЛИФОВАНИИ 2001
  • Янюшкин А.С.
  • Попов В.Ю.
  • Сурьев А.А.
  • Янпольский В.В.
RU2215641C2
Устройство для юстировки оптических элементов 1990
  • Барков Валерий Павлович
  • Марков Игорь Анатольевич
  • Мызников Александр Николаевич
  • Нечаев Николай Викторович
  • Романенко Ольга Николаевна
  • Чередников Олег Руфович
SU1767465A1
СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП С ЖИДКОСТНОЙ ЯЧЕЙКОЙ 2001
  • Быков В.А.
  • Самойленко А.Д.
  • Саунин С.А.
RU2210818C2
АППАРАТ ПОМОЩИ ПРИ ХОДЬБЕ ЧЕЛОВЕКУ С НАРУШЕНИЕМ ОПОРНО-ДВИГАТЕЛЬНЫХ ФУНКЦИЙ (ВАРИАНТЫ) 2015
  • Кузмичев Андрей Викторович
  • Березий Екатерина Сергеевна
RU2658481C2

Иллюстрации к изобретению SU 185 101 A1

Реферат патента 1966 года ФРАКТОГРАФИЧЕСКАЯ ГОЛОВКА

Формула изобретения SU 185 101 A1

/

SU 185 101 A1

Даты

1966-01-01Публикация