СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МЕСТОПОЛОЖЕНИЯ Советский патент 1966 года по МПК G01N23/04 G02B27/22 

Известен способ определения местоположения и размеров дефектов (неоднородностей) в непрозрачных объектах с использованием источников ионизирующего излучения и стереоскопическим просвечиванием объекта.

Предлагаемый способ отличается тем, что изображение дефекта (неоднородности) наблюдают, когда оно находится между экраном преобразователя, ионизирующего излучения в видимый свет, и глазами оператора, и, совмещая с изображением дефекта непрозрачную марку, производят трехмерное измерение относительно центра экрана положения марки, которое определяет координаты дефекта (неоднородности).

Это отличие способа позволяет повысить точность и производительность измерений, а также сделать их более простыми.

Сущность изобретения поясняется чертежом.

Исследуемый объект / с дефектом (неоднородностью) 2 размещают вплотную к входному экрану 3 преобразователя излучения. Перед выходным экраном 4 преобразователя устанавливают масщтабную линейку 5. По ней перемещается вертикальпо расположенный прозрачный экран 6 с сеткой делений. Систему обтюраторов 7 и 5 настраивают таким образом, чтобы левый глаз 9 онератора видел на выходном экране 4 изображение

объекта, получающееся при работе источника излучения 10, а правый глаз 11-изображение, получающееся при работе источника излучеппя 12. В этом случае стереоскопическое

изображение 13 объекта возникает между выходным экраном 4 и глазами оператора.

Экран 6 перемещают по линейке 5 до совпадения его по глубине с изображением 14 дефекта (неоднородностн) и производят отсчет положения экрана, т. е. находят величину, раюкую (с учетом аппаратного фактора) глубине залегания дефекта. Протяженность дефекта (неоднородности) в направлении просвечивания определяется как разность отсчетов по линейке 5. Остальные измерения проводят по сетке экрана 6. Если вместо экрана используется непрозрачная марка и система щкал для измерения ее пространственного положения, то, совмещая марку с изображением 14 дефекта (неоднородности), определяют по трехмерному измерению положения марки относительно центра выходного экрана 4 координаты дефекта, как описано выще. Для дистанционного измерения толщины исследуемого объекта на его новерхности устанавливают прижимной щарик /5 из плотного матернала. Затем, отсчитывая положение непрозрачной марки (или экрана 5), совмещаемой с изображением 16 щарика, находят величиpa) толщине объекта в месте расположения шарика 15.

Предмет изобретения

Способ определения местоположения и размеров дефектов (неоднородностей) в непрозрачных объектах с использованием источников ионизирующего излучения и осуществлением стереоскопического просвечивания объекта, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, производительности и простоты измерений, изображение дефекта (неоднородности) наблюдают, когда оно находится между экраном преобразователя, иони5 зирующего излучения в видимый свет, и глазами оператора, и, совмещая с изображением дефекта (неоднородности) непрозрачную марку, производят трехмерное измерение относительно центра экрана положения марки, кото10 рое определяет координаты дефекта (неоднородности) .

///У////////////// ,

11