СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ИЗЛУЧЕНИЯ НЕМЕТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ Советский патент 1967 года по МПК G01N25/00 G01K7/04 G01R17/10 

Изобретение относится к способу измерения коэффициента излучения неметаллических покрытий.

Известный способ для решения этой задачи заключается в сравнении излучения от исследуемого образца с излучением от абсолютно черного тела.

Особенностью предложенного способа является то, что исследуемое вещество наносят на то ко проводящую проволоку, используемую в качестве термосопротивления в мостовой схеме и помещенную в вакуумную камеру, и по температуре этой проволоки судят о коэффициенте излучения.

Благодаря этому можно повыснть точность измерения коэффициента излучения.

На чертеже показан.один из вариантов устройства для осуществления предложенного способа.

А1еталлическую проволоку / с нанесенным на ее поверхность покрытием нриваривают к металлическим державкам 2 и 3, помещают в вакуумную камеру 4 и нагревают электрическим током от источника постоянного тока, питающего измерительную схему.

пература на концах проволоки контролируется термопарами 5, 9.

Для определения коэффициента излучения камеру 4 откачивают до низких давлений. Тепловой поток свободной конвекции от проволоки должен быть пренебрежимо мал по сравнению с потоком за счет излучения. Подогревателями 6 и 7 температура концов державок 2, 3 устанавливается равной.

Проволоку / нагревают электрическнм током до температуры, определяемой из мостовых измерений тарирозочным графиком. Тенлоотвод с концов проволоки исключается. Измеряют ток, текущий через проволоку и температуру стенок камеры, а также сопротивление проволоки, учитывая сопротивление подводящих проводов. Теплоотвод от н)гги обусловлен только излучением. Коэффициент излучения онределяют из уравнения теплового баланса на нроволоке.

Предмет изобретения

Способ определения коэффициента излучения неметаллических материалов, отличающийся тем, что, с целью цовыщения точности, исследуемое вещество наносят на токопроводящую проволоку, используемую в качестве термосопротивления в мостовой схеме и помещенную в вакуумную камеру, при этом о коэффициенте излучения судят по температуре