Известные приборы для измерения малой поверхностной плотности или толщины листовых материалов конструктивно сложны, процесс измерения трудоемок и, кроме того, точность резко падает при измерении тонких пленок.
Предлагаемое устройство позволяет расширить нижний предел измеряемых величин и отличается от известных тем, что в нем используют эффект ослабления обратнорассеянного р-излучения в воздушной среде, находящейся по другую сторону от исследуемого образца. Плотность или толщина тонких пленок и листовых материалов являются функцией измерения интенсивности мягкого р-излучения, регистрируемого детектором.
На чертеже представлена принципиальная блок-схема описываемого устройства, которое включает измерительную головку 1 с источником 2 р-излучения и детектором 3, измерительную схему 4, конечный прибор 5, контейнер 6 с коллиматором, исследуемый образец 7, воздушную среду 8.
В качестве источника используют изотоп мягкого р-излучения, например прометий РПЗ, а в качестве детектора может быть применен торцовый галогенный счетчик или сцинтилляционный счетчик.
раллельно друг другу на расстоянии около 20 мм, а измеряемый материал - в непосредственной близости от них. Источник и детектор устанавливают на сканирующем устройстве, перемещающем их по ширине исследуемого образца. Чтобы повысить эффективность измерения, можно использовать несколько приемников излучения. Источник излучения помещают в защитный контейнер с коллиматором, благодаря чему исключается попадание прямого и отраженного от исследуемого образца излучения на приемник.
р-Излучение от источника при первоначальном прохождении через исследуемый образец,
попадая в воздушную среду, испытывает обратное рассеяние и значительно умягчается (энергия излучения снижается почти в два раза). Умягченное обратнорассеянное излучение,
проходя вторично через исследуемый образец, частично поглощается. Регистрируемое детектором при этом изменение интенсивности и является функцией измеряемой поверхностной плотности или толщины образца.
Изменение величины интенсивности обратнорассеянного излучения после поглощения в исследуемом образце регистрируется самописцем или подается на систему автоматического регулирования АУС или ЭАУС.
Применение предлагаемого устройства позволяет измерять толщину пленок от 1,5 до 50 мк или поверхностную плотность - от 1 до 50 г/м.
Предмет изобретения
Устройство для измерения поверхностной плотности или толщины листовых материалов и пленок, содержащее расположенные по одну сторону от исследуемого образца источник
р-излучения и детектор, соединенный с измерительной схемой и конечным прибором, отличающееся тем, что, с целью упрощения процесса измерения и расширения нижнего его
предела, источник мягкого р-излучения, заключенный в контейнер с коллиматором, установлен на определенном расстоянии параллельно с детектором на сканирующем устройстве для перемещения детектора и источника
в непосредственной близости по одну сторону от исследуемого образца.
