СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНОЙ ПЛОТНОСТИ ИЛИ ТОЛЩИНЫ ЛИСТОВБ1Х МАТЕРИАЛОВ И ПЛЕНОК Советский патент 1967 года по МПК G01B15/02 G01N23/02 

По известному способу измерения поверхностной плотности или толщины листовых материалов и пленок, использующему эффект ослабления потока излучения при его прохождении через контролируемый материал, источник и детектор размещают с разных сторон контролируемого материала. Бывают случаи, когда этим способол1 нельзя воспользоваться из-за недоступности отдельных контролируемых узлов.

Отличительной особенностью предлагаемого способа является использование для контроля поверхностной плотности или толщины различных материалов и пленок эффекта ослабления обратнорассеянного |3-излучения в воздущной среде, находящейся по другую сторону от исследуемого образца. Это позволяет расщирить нижний предел измеряемых величин и упростить конструкцию устройств, осуществляющих данный способ. Последний заключается в следующем.

Отраженное от слоя воздуха р-излучение, проходя через образец, частично поглощается в его слое, что создает некоторую интенсивность излучения, зависящую от поверхностной плотности исследуемого материала.

метни Рт р-излучение от источника при первоначальном прохождении через исследуемый образец, попадая в воздущную среду, испытывает обратное рассеяние и при этом значительно умягчается.

Геометрия расположения детектора, излучателя и исследуемого материала такова, что излучение, отраженное непосредственно от материала, не попадает в детектор.

Умягченное обратнорассеянное излучение, проходя вторично через исследуемый образец, частично поглощается. Регистрируемое детектором излучение интенсивности и является функцией измеряемой поверхностной нлотности или толщины образца.

Предмет изобретения

Способ измерения поверхностной плотности или толщины листовых материалов и пленок, отличающийся тем, что, с целью расщирения нижнего предела измерений, используют эффект ослабления обратнорассеянного р--излучения в воздущной среде, находящейся по другую сторону от исследуемого образца, регистрацией изменения интенсивности умягченного р-излучения, являющегося функцией поверхностной плотности или толщины исследуемого образца.