ЗЕРКАЛЬНАЯ ПРИСТАВКА К СПЕКТРОМЕТРАМ Советский патент 1968 года по МПК G01J3/42 

Описание патента на изобретение SU219820A1

Известная зеркальная приставка состоит из столика для образцов, двух плоскихи нескольких вогнутых зеркал.

Предложенная приставка отличается от известной тем, что на одной оптической оси со столиком для образцов расположены два плоских зеркала, из которых установлено на входе приставки и направляет падающий световой поток на вогнутое зеркало, другое установлено на выходе, выполнено поворотным и направляет световой поток к приемпику излучения, а вогнутые зеркала расположены симметрично относительно оптической оси устройства и столика для образцов.

Эта приставка позволяет устапавливать зеркальную приставку в кюветную часть однои двухлучевых спектрометров и служит для исследования образцов на пропускание и отражение, а также для измерения абсолютного коэффициента отражения и коэффициента пропускания образцов переменной толщины.

Предложенная оптическая схема зеркальной приставки представлена на чертеже. Изображение источника радиации спектромет. ра проектируется плоским / и вогнутым 2 зеркалами вблизи столика 3 для образцов и далее вогнутым 4 и плоским 5 зеркалами направляется в плоскость а-а приемного устройства, которая в двухлучевых спектрометрах может являться плоскостью фотометрических гребенок, а в однолучевых - плоскостью входной щели монохроматора.

Вогнутые зеркала 2 и 4 могут быть выполнены как сферически.п, так и торическими.

Плоское зеркало 5 выполнено поворотным.

При измерении коэффициента пропускания на столик для образца устанавливается кювета с исследуемой ж 1дкостью или твердое тело. РЬображепие источника радиации проектируется плоским зеркалом 1, вогпутым зеркалом 2 вблизи столика с образцом и далее зеркалами 5 и 5 направляется на приемное устройство. Малые размеры приставки позволяют прпменять ее в одно- и двухлучевых

приборах. В этом случае в каждый канал (для образца и эталона) устанавливается по приставке.

20Пред мет изобретен и я

Зеркальная приставка к спектрометралг, содержащая столик для образцов, плоские и вогнутые зеркала, отличающаяся тем, что, с

25 целью измерения коэффициента отражения и коэффициента пропускания образцов переменной толщины, на одной оптической оси со столиком для образцов расположены два плоских зеркала, одно из которых установлено

ток на вогнутое зеркало, другое установлено на выходе приставки, выполнено поворотным -И направляет световой поток на приемное ус%- -:

А -, ч V « - .- . - :, в.- -

тройство, а вогнутые зеркала расположены снмметрнчно относительно оптической оси приставки и столика для образцов.

Похожие патенты SU219820A1

название год авторы номер документа
ДВУХЛУЧЕВОЙ СПЕКТРОФОТОМЕТРI " ^1':^:-:Я"~скАй I о{.:-иотг.;;д 1967
  • М. В. Лобачев, М. Н. Сокольский, А. Е. Станевич Н. Г. Ярославский
  • Ленинградское Оптико Механическое Объединение
SU190615A1
Рефлектометр для вогнутых зеркал 1991
  • Семенова Галина Петровна
  • Новосельская Ирина Викторовна
  • Барская Евгения Григорьевна
SU1824547A1
Способ определения оптимальных характеристик пищевых продуктов и устройство для его осуществления 1990
  • Бабенко Вячеслав Емельянович
  • Плаксин Юрий Михайлович
  • Арвеладзе Дареджан Георгиевна
  • Кахидзе Назим Амиранович
  • Беридзе Нодари Хусейнович
SU1809381A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРОВ А.Х.КУПЦОВА 2006
  • Купцов Альберт Харисович
RU2334957C2
Устройство для измерения спектральных коэффициентов пропускания и отражения 1980
  • Александров Олег Васильевич
  • Кацнельсон Леонид Борисович
SU894374A1
Осветитель двухлучевого спектрофотометра 1981
  • Александров Олег Васильевич
  • Кацнельсон Леонид Борисович
  • Лебедев Евгений Иванович
SU981832A1
Устройство для измерения абсолютных коэффициентов зеркального отражения 1987
  • Куимов Олег Анатольевич
  • Лагутин Владимир Игоревич
  • Левандовская Лариса Евгеньевна
  • Малый Анатолий Владимирович
SU1529082A1
УСТРОЙСТВО для ИЗМЕРЕНИЯ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК СВЕТОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ СЛОЕВ 1968
SU221961A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТОВ ОТРАЖЕНИЯ И ПРОПУСКАНИЯ 1991
  • Коренцов Александр Иванович
RU2018112C1
Устройство для измерения абсолют-НыХ КОэффициЕНТОВ ОТРАжЕНия и пРОпуС-КАНия 1979
  • Донецких Владислав Иванович
  • Соболев Валентин Викторович
  • Турышев Михаил Валерьевич
SU823989A1

Иллюстрации к изобретению SU 219 820 A1

Реферат патента 1968 года ЗЕРКАЛЬНАЯ ПРИСТАВКА К СПЕКТРОМЕТРАМ

Формула изобретения SU 219 820 A1

SU 219 820 A1

Даты

1968-01-01Публикация