СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАДЕЖНОСТИ Советский патент 1969 года по МПК H01J9/42 H01J1/15 

Изобретение относитея к электронным нриборам с нрямонакальным катодом, а также к электричееким лампам накаливания и может быть использовано при разработке новы.х тинов ирямонакальных катодов и д.ля рассортнровки ио надежности большой иомеиклатуры готовы.х электронных приборов и электроламп.

Известен способ испытаний ннти накала «острым токолг нлн мгновенным разрядом конденсатора, при котором участки неоднородностей разогреваются сильнее н наблюдаются визуально. Однако этот способ неприменим к электронным приборам, нить накала которых изолирована от непосредственного наблюдения, мала (в мнннатюрных ламиах) или имеет сложную форму.

Кроме того, точность способа весьма неудовлетворительна, что обусловлено,не ннструментальной, а визуальной оценкой стенени дефекта.

Иредлагае.мый способ отлпчается от известного тем, что на нить накала подают одиночные импульсы убываюгцей длительности при условии иостояиства амплитуды тока эмиссии, измеряют эпергию импульсов в непи анода и по зависимости энергии импульсов от длительности импульсов тока накала судят о степени неоднородности катода или иити накала.

Для электрических лами накаливання вместо э.мисспонного тока измеряют световой поток.

Измерения проводят следующим образом. Исиытуемую лампу подключают через анодное соиротивлсн 1е к нсточннку анодного напряжения, а нить накала или прямонакальный катод - к источнику одиночных импульсов 5егулнруемой длительности и энергии. Сигнал (эмиссионный ток) снимают с анодной нагрузки и а н зкочастотный осциллограф.

Амплитуда нервоначалыюго импульса, имеющего длительпость, близкую к стационарном , т. е. постоянно включенно.му режиму, выбирается тако1 величины, чтобы амплитуда тока эмиссии была ие более 0,1-0,3 номинально велнчины, т. е. чтобы рабочая точка катода находнлась в начально части эмиссиоино характеристикн. Уменьша от длнтельиость илшульса ii поддерживают энергию имиульсов таким образом, чтобы амплитуда тока эмиссии анода оставалась постоянной.

Иа чертеже показан график зависимости двух однотиииых лами, построенный по результатам измерений.

Иачиная с некоторого значения т, равного TS для Ло н TI для .7i, для получения того же значения тока эмиссии, что и при более длитель11ом импульсе, иеобходима меньшая энергия 11:мнульса, а в случае ириведоииых ламп -

меньшая раньше для Л-. Таки.м обрамом, лампа Л- менее надежна.

Де1 1Сгвнтельно нолучнть алш.литудл тока эмпесин заданной велнчнны можно нли со веей поверхности интн лакала нрн ее равноAiepiiOM разогреве (для этого нот|к;буется большая энергия), нлн е неоднородности за счет ее локального перегрева.

Извеетно, что локальные неоднородности нагреваются быстрее соседннх областей, так как концентрнруют на еебе большее наденне напряжения.

Из.Ашняя длптельпоеть нмн льеа, регулнруют скорость разогрева Bceir нити накала, а прн налпчнп неоднородноетн - ее преимундественный нагрев.

Такнм образом, чем больше длительность нмпульса, нрн которой начннается епад энергнн, тем раньше выявляет себя неоднородность, т. е. тем опа больше н онаенее.

П р е д Л1 е т н з о б р е т е н н я

Снособ определения надежностп прямонакального катода нлд интн накала электронHoii .чампы путем подачп нмнульеов тока накала, отличающийся тем, что, е целью прогнозирования надежиоетн каждой лампы, им.ггульсь тока накала уменьшают по длительности прн уеловнп постоянства амплитуды тока э.чиссин, измеряют энергию импульсов и по зависимости энергии импульсов от длительности импульсов тока накала судят о степени неоднородпоети катода или нити пакала.

f i

э- const