СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАДЕЖНОСТИ ПРЯМОНАКАЛЬНОГО КАТОДА ИЛИ НИТИ НАКАЛА ЭЛЕКТРОННОЙ ЛАМПЫ Советский патент 1968 года по МПК H01J9/42 

Изобретение относится к электронным приборам с прямонакальным катодом, а также к электрическим лампам накаливания и может быть использовано при разработке новых типов прямонакальных катодов, а также для рассортировки по надежности большой номенклатуры потовых электронных приборов и электроламп.

Известен способ испытаний нити накала «острым током» или мгновенным разрядом конденсатора. Участии неоднородностей разогреваются сильнее и наблюдаются визуально.

Однако этот способ не применим к электронным приборам, нить накала которых изолирована от непосредственного наблюдения, или мала (в миниатюрных лампах), или же имеет сложную форму.

Кроме того, точность способа весьма неудовлетворительна, что обусловлено не инструментальной, а визуальной оценкой степени дефекта.

Предлагаемый способ отличается от известного тем, что на нить накала подают одиночные импульсы убывающей длительности при условии постоянства энергии импульса и измеряют амплитуду импульсов тока эмиссии в цепи анода; по зависимости амплитуды эмиссионных импульсов от длительности импульсов тока накала судят о степени неоднородности катода или нити накала.

Для электрических ламп накаливания вместо эмиссионного тока измеряют световой поток.

Порядок проведения измерений следующий.

Испытуемую лампу подключают через анодное сопротивление к источнику анодного напряжения, а нить накала или прямонакальный катод - к источнику одиночных импульсов регулируемой длительности и энергии. Сигнал (эмиссионный ток) снимают с анодной нагрузки на низкочастотный осциллограф. На нить накала подают импульс заданной (определяемой типом лампы) длительности и амплитуды (энергии). Измеряют амплитуду эмиссионного тока. После возвращения нити накала в исходное по температуре состояние (несколько секунд) подается второй импульс меньшей длительности той же (установленной ранее) энергии.

Измеряют амплитуду эмиссионного тока, возникшую под действием второго импульса и т.д.

По результатам измерений строится график, изображенный на чертеже.

При снятии характеристики порядок подачи импульсов по убывающей длительности обусловлен тем, что при меньших длительностях импульса неоднородности проявляют себя интенсивнее и в некондиционных экземплярах ламп могут развиться лавинообразно до разрушения, что не позволит довести процесс измерений до конца.

Поэтому рекомендуется именно порядок подачи импульсов от большей длительности к меньшей.

По мере уменьшения длительности импульса τ зависимость при Е = const при наличии неоднородности в нити имеет резко выраженный загиб, причем в зависимости от степени неоднородности нити накала этот загиб наступает при величине τ, различной для разных экземпляров ламп.

Лампы, у которых этот загиб наступает при большем τ (№1), чем у других ламп (№2), менее долговечны.

Возрастание эмиссионного тока с уменьшением длительности τ объясняется тем, что поскольку первоначальная энергия импульса накала выбирается для работы катода в нижней (восходящей) части эмиссионной характеристики с возрастающей крутизной, происходит преимущественный (по сравнению с соседними областями) разогрев неоднородности.

Этот разогрев идет тем интенсивнее, чем больше степень неоднородности.

Способ позволяет по двум измерениям (при τ₁ и τ₂) оценивать степень неоднородности нити накала электронной лампы и производить отсортировку менее надежных ламп, что повышает совокупную (статическую) надежность партии радиоламп.

Способ определения надежности прямонакального катода или нити накала электронной лампы путем подачи импульсов тока накала, отличающийся тем, что, с целью прогнозирования надежности каждой лампы, импульсы тока накала уменьшают по длительности при условии постоянства энергии импульсов, измеряют амплитуды импульсов тока эмиссия и по зависимости амплитуды тока эмиссии от длительности импульса тока накала судят о степени неоднородности катода или нити накала.