Прибор для сравнительного испытания цветных стекол Советский патент 1931 года по МПК G01J3/50 

Изобретение касается приборов для сравнительного испытания цветных стекод, с применением расположенного перед источником света фотоэлемента, на пути между которыми помещается исследуемое стекло.

В предлагаемом приборе, с целью определения прозлачности стекла pjna света различных длин волн, между источником света и фотоэлементом расположены поворотные диски, соответственно с рядом нормальных цветных стекол и рядом светофильтров.

На чертеже фиг. 1 изображает общий вид прибора; фиг. 2-схему электрической части прибора.

Прибор (фиг. 1) состоит из двух ящиков, размещенных на общем основании. В правом ящике I помещается источник света-лампа накаливания в 50 ватт. Перед лампой находится диск 2 с пятью отверстиями, из которых четыре закрыты нормальными сигнальными стеклами (красным, желтым, зеленым и синим), а пятое-остается свободным. Нормальные стекла служат для сравнения результатов измерений, полученных при испытании различных сигнальных стекол. Диск с нормальными стеклами несколько выступает через прорезь в наружной стенке ящика и вращается от руки для установки соответствующего отверстия против фотоэлемента и источника света.

Между правым и левым ящиками имеется зазор 3, в который вставляются испытуемые сигнальные стекла. Б левом ящике 12 собрана электрическая схема прибора с усилительной лампой, фотоэлементом, диском с светофильтрами. Перед отверстием в боковой стенке ящика расположен фотоэлемент в алюминиевом футляре, перед которым помещается диск с светофильтрами, совершенно аналогичный с диском, помещенным в ящике 2, с той лишь разницей, что в нем четыре отверстия закрыты цветными светофильтрами, а пятое не пропускает света и служит для затемнения фотоэлемента при установке микроамперметра на нуль. Диск с светофильтрами также вращается и устанавливается любым отверстием против фотоэлемента. Для проверки правильности установки дисков на требуемые отверстия, выступающие ободки дисков окрашены в различные цвета, соответствующие цветам устанавливаемых фильтров или нормальных стекол.

Электрическа5 часть прибора собрана по изображенной на фиг. 2 схеме. Постоянными сопротивлениями в схеме прибора служат две катушки с проволочными сопротивлениями в 30000 и 15000 ом, а в качестве переменного toпротивления -потенциометр, позволяющий, посредством переключателя 5, включать сопротивления в 3000, 4000,

5000 и 6000 ом, а затем, с помощью последовательно включенного потенциометра б в 1000 ом, плавно регулировать сопротивление до необходимой величины.

В диагональ мостика включён микроамперметр 7 чувствительностью А,

УЮ, -/20

снабженный шунтами на

И YS которые включаются переключателем 8. На передней стенке прибора смонтирован реостат накала 9 и вольтметр 11 на б и 120 вольт с переключателем 10 для измерений напряжений накала, анодного и фотоэлемента. Вся электрическая схема прибора заэкранирована металлическим экраном от возможных внешних влияний. Передняя панель с основанием, на котором смонтирована вся схема, может выдвигаться из ящика, обеспечивая таким образом легкий доступ ко всем деталям прибора для необходимых переключений и исправлений. В качестве источников питания могут служить две сухие 80-вольтовые батареи для питания фотоэлемента и анода усилительной лампы и 4-зольтовая аккумуляторная батарея-дня питания цепи накала лампы. Включение батарей производится посредством специальной колодки, которая вставляется в гнезда боковой панели питания прибора.

При испытаниях сигнальных стекол в отношении их пропускной способности могут применяться два метода работы прибором: 1) метод сравнения абсолютных отклонений микроамперметра от испытуемых и нормальных стекол и 2) нулевой метод сравнения, при котором с нормальными стеклами микро.ампермётр устанавливается на нуль, и при измерениях для испытуемых стекол получают отклонения, представляющие разность показаний микроамперметра для нормального и испытуемого стекла.

При измерениях по первому методу затемняют фотоэлемент с помощью диска с свгтофильтрами, который устанавливается на закрытое отверстие, и затем подают напряжение к усилительной лампе и фотоэлементу. Установив реостатом нормальный накал усилительной , проверяют вольтметром с помощью переключателя анодное напря.тс-зние лампы и напряжение на фотоэлементе. Затем, при минимальной чувствительности микроамперметра (щунт Vse) включают его и подбирают потенциометром сопротивление для равновесия в мостике, для чего вначале переключателем 5 подбирают необходимое сопротивление, а, затем точно потенциометром б устанавливают микроамперметр на нуль. После подготовки электрической схемы для измерений включают лампу накаливания в осветительную сеть. Диск с нормальными стеклами устанавливается на свободное отверстие.

Процесс измерений состоит в следующем. Испытуемое стекло вставляют в щель между ящиками и, вращая диск с светофильтрами, записывают показания микроамперметра для каждого светофильтра. Для сравнения полученных показаний микроамперметра, характеризующих качество испытуемого стекла, с показаниями микроамперметра от нормального стекла соответствующей окраски, вынимают испытуемое стекло и устанавливают диск с нормальными стеклами на соответствующее нормальное стекло. Вращая диск с светофильтрами, записывают показания микроамперметра для каждого светофильтра. При сравнении полученных результатов от испытуемого и нормального стекол находят процент расхождения в показаниях микроамперметра для каждого фильтра. Если этот процент превышает допустимый процент расхождения, испытуемое стекло признается не соответствующим установленным нормам.

Второй нулевой метод измерений отличается от первого только тем, что вначале измерений диске нормальными стеклами устанавливается на соответствующее нормальное стекло и для какого-либо светофильтра потенциометром 5 и б подбирается равновесие в мостике с установкой микроамперметра на нуль. Затем вставляется испытуемое стекло и при том же светофильтре замечают отклонения микроамперметра в ту илч другую сторону, являющиеся разностью гюказаний между отклонениями для нормального и испытуемого стекол.

Повторяя весь процесс измерений для всех четырех светофильтров, сравнивают полученные результаты с установленными допусками.

Предмет изобретения.

1. Прибор для сравнительного испыт§ния цветных стекол с применением расположенного перед источником света фотоэлемента, на пути между которыми вводится исследуемое стекло, отличающийся тем, что с целью определения прозрачности испытуемого стекла для света различных длин волн, соответствующих таковым нормальных стекол, на пути между источником света 1 и фотоэлементом Ф расположены поворотные диск 2 и 4, соответственно с рядом нормальных цветных стекол и рядом светофильтров.

2. При приборе по п. t применение усилительной схемы для усиления фототока.

фиг..

фиг.

AVWWW