СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ толщиныПЛАСТИН из Советский патент 1969 года по МПК G01B11/06 

Описание патента на изобретение SU252624A1

Известен способ бесконтактного измерения толщины пластин из прозрачного материала, заключающийся в том, что через пластину пропускают пучок лучей и измеряют его смещение, по которому судят о толщине пл астины.

предлагаемый способ отличается от извесгного тем, что осуществляют многократное прохождение пучка лучей через пластину при помощи зеркал. Это отличие позволяет повысить точность измерения.

Для упрощения процесса измерения через пластину пропускают сходящийся пучок лучей.

Описываемый способ иллюстрируется чертежом.

Бесконтактное измерение толщины пластины из прозрачного материала по предлагаемому способу производят следующим образом.

Источником света / с помощью конденсорной линзы 2 освещают диафрагму со щелью 3. Микрообъектив 4 при этом дает изображение щели 3 на поверхности вспомогательного зеркала 5. Наклонный сходящийся пучок лучей проходит через контролируемую пластину 6, расположенную вблизи поверхности зеркала 5, отражается от зеркала, еще раз проходит через пластину 6 и микрообъектив 7 и дает вторичное изображение Si щели 3 в фокальной плоскости объектива 8 зрительной трубы.

В этой же плоскости дает изображение S щели 9 оптическая система, содержащая источник света 10, линзу 11, зеркало 12 и призму 13.

При абсолютных измерениях настройка оптических систем производится таким образом, чтобы без пластины 6 изображения Si и S2 щелей располагались на одной линии. После же установки контролируемой пластины с определенными толщиной и показателем преломления изображение Si одной щели смещается относительно изображения Sz другой щели на некоторую величину, по которой и судят о толщине контролируемой пластины.

Предмет изобретения

1.Способ бесконтактного измерения толщины пластин из прозрачного материала, заключающийся в том, что через пластину пропускают пучок лучей и измеряют его смещение, по которому судят о толщине пластины, отличающийся тем, что, с целью повыщения точности измерения, осуществляют многократное прохождение пучка лучей через пластину при помощи зеркал.

Похожие патенты SU252624A1

название год авторы номер документа
Способ измерений линейных размеров стеклянной трубки 1981
  • Лисенков Валерий Петрович
  • Сачук Евгений Игнатьевич
  • Старостин Вячеслав Федорович
SU977945A1
Способ бесконтактного контроля взаимного положения смежных поверхностей двух объектов и устройство для его осуществления 1986
  • Валюс Николай Адамович
  • Кеткович Андрей Анатольевич
SU1366876A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ЛИСТОВОГО СТЕКЛА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1998
  • Артюх Е.В.
  • Буреев Ю.К.
  • Карпов А.И.
  • Румянцев В.Н.
RU2146355C1
ОПТИЧЕСКИЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ МИКРОНЕОДНОРОДНОСТЕЙ ПРОЗРАЧНЫХ СРЕД И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ 1993
  • Мещеряков Н.А.
  • Подъяпольский Ю.В.
RU2094759C1
Способ контроля линейных размеров микропроволоки 1990
  • Александров Владимир Кузьмич
  • Ильин Виктор Николаевич
SU1776986A1
СПОСОБ ГОЛОГРАФИЧЕСКОГО АНАЛИЗА ВЗВЕШЕННЫХ ЧАСТИЦ 2014
  • Семенов Владимир Владимирович
  • Ханжонков Юрий Борисович
  • Асцатуров Юрий Георгиевич
RU2558279C1
Интерферометр для контроля плоскостности отражающих поверхностей 1990
  • Котляр Виктор Викторович
  • Сойфер Виктор Александрович
  • Храмов Александр Григорьевич
SU1760312A1
НЕРАВНОПЛЕЧИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР 2001
  • Иванов Ю.М.
  • Скоробогатов В.В.
  • Нестеров С.Ю.
  • Чунин Б.А.
RU2215988C2
СПОСОБ ОПТИЧЕСКОЙ ТОМОГРАФИИ ТРЕХМЕРНЫХ МИКРООБЪЕКТОВ И МИКРОСКОП ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1999
  • Левин Г.Г.
  • Вишняков Г.Н.
RU2145109C1
СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ОБЪЕКТИВА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1995
  • Богданова Татьяна Львовна
  • Васильев Леонид Иванович
  • Верещагин Владимир Павлович
  • Гаврилов Алексей Александрович
  • Каряки Вадим Георгиевич
  • Колядинцев Владимир Алексеевич
  • Мазяркин Виктор Владимирович
  • Остапчук Валентин Петрович
  • Попов Олег Олегович
  • Савич Наталья Васильевна
  • Сорока Владимир Васильевич
  • Тухов Андрей Александрович
RU2078360C1

Иллюстрации к изобретению SU 252 624 A1

Реферат патента 1969 года СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ толщиныПЛАСТИН из

Формула изобретения SU 252 624 A1

SU 252 624 A1

Даты

1969-01-01Публикация