СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДОБРОТНОСТИ Советский патент 1970 года по МПК H01L21/66 

Изобретение относится к области преобразования тепловой энергии в электрическую.

Известны способы измерения добротности термоэлектрических устройств, которые по изменению перепада температур при постоянном тепловом потоке в холостого хода и короткого за.мыкания требуют заделки термопар в спаи термобатарей, что снижает надежность и точность способа измерения.

Описываемый способ отличается от известных тем, что в качестве параметра, характеризующего Z, выбрано отношение э.д.с. в указанных режимах.

В описываемом способе замеряется э.д.с. термоэлектрического устройства, по отношению которой определяется его добротность.

Отсутствие необходимости заделки термоиар в спаи термобатарей увеличивает надел ность, а определение добротности по э.д.с. - точность эксперимента.

Предмет изобретения

Способ измерения добротности полупроводникового материала термоэлектрического устройства при постоянном тепловом потоке путем измерения параметра, характеризующего Z в режиме холостого хода и короткого замыкания, отличающийся тем, что, с целью увеличения точности измерения, в качестве параметра, характеризующего Z, выбрано отношение э.д.с. в указанных режимах.