СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ НЕПАРАЛЛЕЛЬНОСТИ ДВУХ Советский патент 1970 года по МПК G01B7/312 

Описание патента на изобретение SU261704A1

Изобретение относится ;к области электрических из-мерений неэлектрических величин и может . быть применено ;в машиностроении, приборост1роении и других отраслях иромышленности.

Известен способ измерения непараллельности двух металлических .пласти«, закрепленных на диэлектрическом основании с помощью Прямоугольного щупа, Вводимого между Пластинами, пр:и .котором замер емкости производят, перемещая щуп от основания параллельно ему.

При измерении таким способом возникают погрешности от различного рода перекосов щупа.

По предлагаемому способу щуп помещают на .поверхность одной из пластин, устанавливают нуль измерительного устройства я замеряют емкость при перемещении щупа то поверхности пластины, что ловышает точность измерений.

На чертеже показана блок-схема устройства, редлизующего лредложевный способ.

Металлические пластины /, 2, закрепленные на диэлектрическом основании 3, подключают .к колебательному контуру 4-5 высокочастотного генератора 6. Перед измерением ненараллельности пластин щуп 7 помещают параллельно основанию на одну из пластин. Начальное расстояние щупа от основания устанавливают равным расстоянию между пластина.ми. При таком положении щуп находится В равномерном поле. С помощью

«ондепсатора 4 переменной ем1кости устанавливается нулевая девиация частоты дискриминатора 8 по показьгаающему прибору 9, отградуированному в единицах девиации частоты. При измерении непараллельности прямоугольный щуп перемещается по одной из пластин параллельно основанию. Как только щуп достигнет расстояния до свободного края пластин, равного расстоянию между пластинами, измерение заканчивается.

. Одновременно с перемещением щута по показаниям прибора 9 снимается девиация частоты, величина которой пропорциональна непараллельности пластин..

20

Предмет изобретения

Способ измерения непараллельности двух металлических пластин, закрепленных на диэлектрическом основании, образующих конденсатор, заключающийся В том, что между пластинами перемещают прямоугольный щуп В направлении от основания параллельно ему, при этом замеряют ем1кость конденсатора, и о

3

нию емкости, отличающийся тем, что, с делыс повышения точности измерения, щуп помещают на поверхность одной из лластин, устанавливают электрический нуль измерительного устройства и за.меряют емкость при перемещении щупа по поверхности пластины.

Похожие патенты SU261704A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ПЛОЩАДИ ПОПЕРЕЧНОГО СЕЧЕНИЯ КОМПЛЕКСНЫХ НИТЕЙ 1972
SU324478A1
ВЫСОКОЧАСТОТНЫЙ ЕМКОСТНЫЙ ДАТЧИК 1973
  • М. М. Горбов, Э. В. Кузьмин В. К. Федотов
SU373508A1
ГИДРОДИНАМИЧЕСКИЙ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ 1973
  • А. А. Денисов В. С. Нагорный
SU408180A1
СПОСОБ ЕМКОСТНОГО КОНТРОЛЯ ТОКОПРОВОДЯЩЕГО СЛОЯ НА ДИЭЛЕКТРИКЕ 1989
  • Самсонов А.С.
SU1840845A1
ДАТЧИК ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ИЗДЕЛИЙ 2006
  • Шнитковский Олег Евгеньевич
  • Рассомагин Василий Радионович
RU2312305C1
УСТРОЙСТВО для ЁЁСКОИТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ МЙКРОГЕОМЕТРИИ КОЛЛЕКТОРОВ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАШИН 1968
  • Н. В. Волошин Д. М. Титов Научно Иеследовательский Электротехнический Институт
SU221136A1
ДАТЧИК РАСХОДА ГАЗА 2001
  • Дрейзин В.Э.
  • Поляков В.Г.
  • Овсянников Ю.А.
RU2212020C2
ИЗМЕРИТЕЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО 1994
  • Фридман Б.П.
  • Жернаков В.С.
RU2085831C1
СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ 2009
  • Зайцев Борис Давыдович
  • Шихабудинов Александр Магомедович
  • Теплых Андрей Алексеевич
  • Кузнецова Ирен Евгеньевна
RU2442179C2
Емкостный преобразователь перемещений 1990
  • Левицкий Анатолий Станиславович
  • Трушко Александр Александрович
  • Лабузов Александр Евгеньевич
  • Новик Анатолий Иванович
  • Сидоров Виктор Иванович
SU1783285A1

Иллюстрации к изобретению SU 261 704 A1

Реферат патента 1970 года СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ НЕПАРАЛЛЕЛЬНОСТИ ДВУХ

Формула изобретения SU 261 704 A1

SU 261 704 A1

Даты

1970-01-01Публикация