УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КООРДИНАТ Советский патент 1970 года по МПК G01B9/04 

Изобретение относится к области измерительной техники.

В изветных устройствах для измерения координат повышение точности связано с повышением точности Выполнения направляющих стола или каретки. Однако в устройствах высокой точности качество выполнения направляющих соответствует пределу возможности современной техники.

В предлагаемом устройстве для повышения точности измерения путем исключения компараторной ошибки подвижные растры расположены в плоскости измерения и их размеры связаны соотношениями

,

где /1 и /2 - длина первого и второго растра, измеренная вдоль штрихов;&1 и bz - их ширина, измеренная поперек

штрихов.

На фиг. 1 изображена принципиальная схема устройства; «а фиг. 2 - его конструктивная схема.

Устройство содержит стол 7, служащий для помещения объекта и установленный подвижно в направлении оси абсцисс на каретке 2, которая установлена подвижно в направлении оси ординат на основании 3, Визир 4, например микроскоп, служит для подведения контролируемых точек. Отсчетные устройства для измерения по обеидм координатам содержат визиры 5 и б, например микроскопы, расположенные на сторонах прямого угла с вершиной в центре визира 4, и шкалы 7 и S, находящиеся на столе или жестко связаНные с ним.

Виз-иры 5 и б выполнены в виде осветителей, Неподвижно связанных с основанием растровых решеток 9 и 10, фотоэлементов 11 к 12 и фотоэлектрических счетчикоэ 13 перемещения.

На шкале, служащей для измерения по одной координате, нанесены штрихи, длина которых не меньше предела измерения по другой координате (на фиг. 1 - светлое поле, прилегаюшее к координатным осям).

Проведем на подвижном столе оси координат (на фиг. 1 они показаны жирными линиями, причем эта координатная система дана утрировано повернутой на угол а относительно неподвижной координатной системы, показанной осевым пунктиром, определяемой визирами 4, 5 и 5). Контролируемая точка объекта с координатами , у подведена под визир 4. При этом отсчеты по шкалам