СПОСОБ ОЦЕНКИ СТЕПЕНИ ОРИЕНТАЦИИ ВОЛОКОН В ПРОЗРАЧНЫХ И ПОЛУПРОЗРАЧНЫХ МАТЕРИАЛАХ Советский патент 1970 года по МПК G01N21/21 G01N33/34 

Известен способ оценки степени ориентации волокон в прозрачных и полупрозрачных материалах, например бумаге, путем лабораторного анализа опт1ических свойств материалов.

Цель изобретения - повысить точность и упростить лроцесс измерения.

|По предложенному способу образец бумаги помещают в скрещенную систему поляризатор- анализатор, поворачивая образец вокруг оптической оси, измеряют интенсивность света, прошедшего сквозь эту систему, и вычисляют отношение максимального и минимального результатов измерения.

Способ осуществляется следующим образом.

Образец бумаги помещают в скрещенную систему поляризатор-анализатор, пропускают через эту систему свет, количество прошедшего света зависит, в частности, от того, как волОКна располагаются относительно плоскости поляризации света. В бумаге, как правило, существует преимущественная ориентация волокон в машинном направлении. Поэтому максимум прохождения света через сиетему достигается тогда, когда образец бумаги повернут вокруг оптической системы таким

образом, что машинное направление расположено под углом 45° к плоскости поляризации света, а минимум - когда оно совпадает или перпендикулярно к ней. Чем больше отношение максимума к минимуму, тем сильнее выражена преимущественная ориентация волокон в машинном направлении.

Измеряют интенсивность прошедшего через систему света, поворачивая образец бумаги вокруг оптической оси системы. Определяют максимальное и минимальное значение интенсивности света и вычисляют отношение первого ко второму.

Предмет изобретения

Способ оценки степени ориентации волокон в прозрачных и нолупрозрачных материалах, например бумаге, путем лабораторного анализа оптических свойств материала, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и упрощения процесса измерения, образец бумаги помещают в скрещенную систему поляризатор-анализатор, поворачивая образец вокруг оптической оси, измеряют интенсивность света, прошедшего сквозь эту систему, и вычисляют отношение максимального и минимального результатов измерения.