ДЕФЕКТОСКОП СЕЛЕКТИВНОГО КОНТРОЛЯ ПОВЕРХНОСТИ ПРОКАТА Советский патент 1970 года по МПК B21B38/00 G01N27/82 

Известны дефектоскопы селективного контроля иозерхности проката, содержащие механизм вращения сканируюиди.х датчиков, например феррозондовых, канал задержки сигнала, в который входит по одной магнитной головке записи и стирания, а также магнитоноситель, кинематически связанный с механизмом вращения, и электронный блок, включающий в себя формирователь сигналов записи, схему «ИЛИ и схему совнадений.

Предложенный дефектоскоп отличается от известных тем, что канал задержки сигнала снабжен рядом головок воспроизведения, число которых равно принятому минимально необходимому числу пересечений дефекта. Головки размещены между собой в направлении движения магнитоносителя на расстояния, пропорциональные угловым расстояниям между датчиками, и подключены к схеме совпадений.

Такое выполнение позволяет повысить надежность обнаружения продольно-ориентированных дефектов.

На фиг. 1 изображена структурная схема предложенного дефектоскопа; на фиг. 2, 3, 4 изображена схема нанесения магнитных меток при прохождении дефекта под первым. Вторым и третьим датчиками соответственио.

сканирующих датчиков 2, 3, 4, например фсррозондозых; катзал задержки сигнала, состоящий из головки 5 записи, головки 6 стирайся и головок 7, 8, 9 воспропзведения, а также магнитопоситель 10, кинематически связанный через валик 11с .механизмом вращения, и электронный блок, включаюи1ий в себя формирователь 12 сигналов записи, схему 13 «ИЛИ, схему 14 совпадений, индуктор 15 и генератор /6 стирания. Число головок 7-9 воспроизведения равно минимально необходимо.му числу пересечений дефекта и разнесены между собой в наиравлении движения магиитоиосителя 10 на расстояния /, пропорциональные угловым расстояниям между датчиками 2-4. Гсловки 7-9 воспроизведеиия включены на выходы схемы 14 совпадений.

Описываемое устройство работает следующим образом.

В процессе контроля механизм 1 вращает датчики 2-4 вокруг контролируемого проката /7 с постоянной угловой скоростью п через валпк 11 приводит в движение магнитоиоситель 10.

Ири пересечении магнитного поля дефекта 18 датчики 2-4 вырабатывают импульс, иостунающий через схему 13 «ИЛИ на формирователь сигналов записи. Поступление первого сигнала возможио с любого датчика 2-4 дефекгоскопа, который первым пересечет магБитное поле дефекта. С формирователя им;тульс поступает на головку 5 записи, которая наносит магнитную метку на магнитоноситель. Картина нанесения меток изображена ка фиг. 2-4. Магнитные метки нри дальнейшем движении магнитОНосителя вызывают появление сигналов на головках 7-9 -воспроизведения, включенных на входы .схемы 14 совпадений. На выход схемы совпадений включен индикатор, сигнализирующий о наличии продольно-ориентированного дефекта 18, размеры которого превышают допустимые. Индикатор срабатывает только в том случае, когда на все входы схемы совпадений подаются сигналы со всех голоБОК 7-9 воспроизведения. Отсутствие хотя бы одного сигнала на входе схемы совпадений не вызывает срабатывания индикатора.

После воспроизведения информации метки стираются головкой 6, включенной на выход генератора стирания.

Таким образом, из всей информации, записанной на магнитоносителе, выбирается информация, относящаяся только к одному и

тому же дефекту при обнаружении его несколькими датчиками 2-4.

Предмет изобретения

Дефектоскоп селективного контроля поверхности проката, содержащий механизм вращения сканирующих датчиков, например фер.розондовых, канал задерЖки сигнала, в который входит по одной магнитной головке записи

и стирания, а также магнитоноситель, кинематически связанный с механизмом вращения, и электронный блок, включающий в себя формирователь сигналов записи, схему «ИЛИ и схему совпадений, отличающийся тем, что, с

целью повышения надежности обнаружения продольно-ориентированных дефектов, канал задержки снабжен рядом головок воспроизведения, число которых равно принятому минимально необходимому числу пересечений дефекта и которые разнесены между сабой в направлении движения матнитоносителя на расстояния, пропорциональные угловым расстояниям между датчиками, и подключены к схеме совпадений.

15

vl/

V/Фие.2

Фиг

.З