СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ДВИЖЕНИЯ КАРЕТОК ВЫСОКОТОЧНЫХ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ ПРИБОРОВ Советский патент 1970 года по МПК G01B9/02 

Изобретение относится к области геодезического приборостроения и предназначено для инструментальных исследований и заводских юстировок высокоточных стерекомпараторов.

Известен способ измерения параметров движения кареток высокоточных измерительных приборов, например стерекомпараторов, при их поступательном перемещении путем построения муаровой картины.

При изготовлении и юстировке точных измерительных приборов очень часто ставится задача определять угол разворота кареток, возникающий при их перемещении вдоль направляющих. Необходимость выполнения этой поверки связана с тем, что при наличии угла разворота в измерениях будет наблюдаться ощибка, значение которой тем больще чем больще этот угол.

Предлагаемый способ отличается тем, что после установки параллельности щтрихов дифракционных рещеток по максимуму фототока устанавливают регистрирующий прибор на ноль и по изменению фотоэлектрического сигнала при движении каретки определяют угол разворота.

Это позволяет получать информацию об. угловых разворотах кареток.

3, лампочки осветителя 4, фотоэлемента 5 и показывающего прибора 6.

Важным элементом измерительного устройства является дифракционная система, состоящая из прозрачной / и отражающей 2 рещеток. Их поверхности устанавливаются параллельно, а щтрихи ориентируются перпендикулярно направлению движения.

При поступательном перемещении одной из рещеток относительно другой интенсивность света А в зрачке фотоэлемента будет изменяться ио следующему за.кону:

A-2 Ay + Ai соз2лр,

где Ло - постоянная составляющая светового

потока;

Л) - амплитуда изменения светового потока;

р - относительное смещение щтрихов рещеток.

Амплитуда колебаний Л не является постоянной величиной и определяется следующим выражением:

sin г. -- f

А, ,(1)