СПОСОБ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ ИЗДЕЛИЙ из Советский патент 1970 года по МПК G01B7/06 

Известны способы контроля толщины изделий из немагнитных нетокопроводящих изделий, заключающиеся в том, что контролируемый объект приводят в соприкосновение с накладными емкостными преобразователями, обладающими различной глубиной проникновения поля.

Предложенный способ отличается от известных тем, что применяют преобразователи, обеспечивающие равенство относительных изменений емкости от изменення диэлектрической проницаемости

.г - С, , .

dCi

ttf . V-M; J ds

а о толщине изделия судят по отношению сигналов (емкостей) преобразователей ,. Такой способ позволяет устранить погрещность, вызванную изменением диэлектрической нроницаемостп материала.

Способ, контроля толщины изделий из дпэлектрнческих материалов заключается в следующем.

Контролируемый объект приводят в соприкосновение с двумя емкостнь Л1и преобразователями, обладаюпдпми различной глубиной проникновения электрического ноля. Поле одного преобразователя проникает через весь контролируемый объект, и его емкость завнснт от толщины объекта и диэлектрической пронинаемости. Поле второго преобразователя проникает на небольщую глубину поверхностного слоя контролируемого объекта, и

поэтому емкость второго преобразователя практически зависит только от диэлектрической пронпцае.мости.

Математический анализ показывает, что при равенстве отпосительпых изменений емкостей

преобразователей от изменения диэлектрической проницаемости

.г - с,, ..

ас,

Ml - , . Mj 1

dCi

дС;

- чувствительность к нзмегде

гд

нению диэлектрической проницаемости материала;Смц CM. - начальные значения емкостей нрн

среднем значении диэлектрической проницаемости и среднем значеннн толщины контролируемого объекта, отношение сигналов (емкостей) обонх иреобразователей зависит исключительно от контролируемого параметра -

толщины.

Таким образом, при измерении толщины диэлектрических материалов применение преобразователей, обеспечивающих в определенном диапазоне.параметров равенство относительных изменений емкости от изменения диэлектрической проницаемости

дС, f дС.,

2 . ( - : Сщ -

- М. 1

отношение сигналов иреобразователей С)/С; одиозиачно онределяется толщиной контролируемого объекта и свободно от его диэлектрнческой нроницаемости.

Предмет и з о б р е т е н И я

Сиособ контроля толщины изделий из диэлектрических материалов, заключающийся в том, что контролируемый объект ириводят в сонрикосновение с двумя обладающими различной глубииой ироникновеиия ноля накладиыми емкостиымн иреобразователями с текущими емкостями Ci и С., иачаль 1ыми емкостями CM. и См, и чувствительиостями к изме ., дС, нению диэлектрической проницаемости

д г

дС;

и - , отличающийся тем, что, с целью VCTде

ранения ногрещиости, вызванной изменением диэлектрической нроницаемости материала, применяют нреобразователи, обесиечивающие равенство относительных изменений емкости от изменения диэлектрической ироиицаемости

3Ci. дС. . ,

. - - . Ом, ,

а о толщине изделия судят но отиощению сигналов (емкостей) иреобразователей .