Известны устройства для радиационной дефектоскопии, регистрирующие теневые изооражения контролируемого объекта с помош,ью различных чувствительных к прошедшему излучению элементов.
ледостатком этих устройств при дефектоскопии сложных изделий с неравномерным поглош,ением является невозможность обеспечить равномерную дефектоскопическую чувствительность устройства по всему нолю теневого изображения. Применяемые для выравнивания чувствительности фильтры и компенсаторы часто бывают неудобными в эксплуатации и не дают нужных результатов.
Предложенный дефектоскоп отличается от известных тем, что с целью выравнивания его дефектоскопической чувствительности при контроле изделий с неравномерным поглощением он снабжен диапозитивом контролируемого изделия, обладающим заданными нерезкостью и размерами и помещенным между преобразователем радиационного изображения в оптическое и фоточувствительной поверхностью.
Предлагаемый дефектоскоп изображен на чертеже.
мого изделия 5, который может находиться в двух положениях (см. чертеж), фоточувствительную поверхность t. i aOOTacT предложенный дефектоскоп следующим образом.
па предварительном этапе работы производят фотографирование с заданной нерезкостью эталона контролируемого изделия и изготовляют его диапозитив, на котором плотность потемнения выше на участках изображения, соответствующих более тонким участкам эталона контролируемого изделия. Затем источником проникающего излучения облучают контролируемое изделие 5. Ирошедщее сзвозь
него излучение на преобразователе радиационного теневого изооражения контролируемого изделия (например, сцинтилляторе) преобразуется в оптическое. Оптическое изображепие в дальнейшем через оптическую систему и диапозитив проектируется на поверхность 0. При этом яркость оптического теневого изображения, проектируемого на поверхность 6, оказывается более равномерной из-за паличия диапозитива.
25
Предмет изобретения
ческую систему и фоточувствительную поверхность, отличающийся тем, что, с целью выравнивания его дефектосконической чувствительности при контроле сложных изделий с неравномерным поглощением, он снабжен дианозитивом контролируемого изделия, обладающим заданными нерезкостью и размерами и помещенными между преобразователем радиационного изображения в оптическое и фоточувствительной поверхностью.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ для радиоизотопной дефектоскопии полых тел вращения и устройство для его осуществления | 1978 |
|
SU713249A1 |
СПОСОБ РЕНТГЕНОВСКОЙ ТОМОГРАФИИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | 2020 |
|
RU2745304C1 |
Устройство для рентгеновского контроля дефектов сварных швов | 1979 |
|
SU779865A1 |
Радиационный телевизионный интроскоп по схеме Шпагина А.П. | 1989 |
|
SU1673931A1 |
Способ дефектоскопии и устройство для его осуществления | 1990 |
|
SU1783413A1 |
СПОСОБ ОЦЕНКИ РАЗМЕРА ДЕФЕКТА В НАПРАВЛЕНИИ ПРОСВЕЧИВАНИЯ | 2000 |
|
RU2243541C2 |
СПОСОБ РАДИАЦИОННОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ ПОЛЫХ ТЕЛ | 2010 |
|
RU2436075C1 |
СПОСОБ РАДИАЦИОННОГО ИССЛЕДОВАНИЯ ВНУТРЕННЕЙ СТРУКТУРЫ ОБЪЕКТОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | 2001 |
|
RU2199109C2 |
РЕНТГЕНОТЕЛЕВИЗИОННЫЙ МИКРОСКОП | 1970 |
|
SU266267A1 |
СПОСОБ РЕНТГЕНОТЕЛЕВИЗИОННОГО КОНТРОЛЯ ИЗДЕЛИЙ | 1994 |
|
RU2091775C1 |
11 N/ |М Л I 1 )
- ,, ,/ ,, х.
.-5
х
Авторы
Даты
1970-01-01—Публикация