УСТРОЙСТВО для ИЗМЕРЕНИЯ МАКСИМАЛЬНОЙ Советский патент 1970 года по МПК G01K7/30 

Описание патента на изобретение SU287362A1

Настоящее изобретение относится к области создания устройств для контроля пара.метров полупроводниковых приборов, в частности максимальной мгновеиной разности температур между р-п-переходом и корпусом.

Известны устройства для измерения максимальной мгновенной разности те.мператур между р-п-переходом и корпусо.м полупроводникового прибора в условиях воздействия импульсов прямого тока, содержащие генератор импульсов прямого тока нагрева, генератор постоянного измерительного прямого тока и блок из.мерения падения напряжения на р-/г-пере.ходе, вызываемого измертильным током.

В этих устройствах точность измерения недостаточна, так как в .качестве блока измерения, как правило, используют осциллограф.

Кроме того, выходной сигнал ие может быть использован для автоматической сортировки полупроводниковых приборов.

в предлагаемом устройстве для повыщения точности блок измерения выполнен в виде усилителя переменного напряжения с ограничением импульса, соответствующего току нагрева, а к .выходу усилителя через расщиритель и катодный повторитель подключена диодно-емкостная пиковая ячейка с закрытым входом, выходное напряж,ен«-е---кот-орой пропорционально измеряемой величине.

На чертеже показана блок-схема описываемого устройства.

измеряемого полупроводникового 5 прибора, например диода 1, задается генератором 2 и.мпульсов тока нагрева и стабилизатором 3 порогового тока. Неременная составляющая напряжения на диоде 1 ус1 ливаетс.я усилителем 4 переменного напряжения, в котором одновременно частично ограничивается импульс напряжения, соответствующий току нагрева. С помощью диодно-емкостной ппковой ячейки 5 с закрытым -входом амплитудное значение усиленной переменной составляющей напряжения преобразуется в постоянное напряжение, пропорциональное величине максимального мгновенного нагрева р-«.-перехода. В реально выполненном макете устройства для улучшенпя условий работы пиковой

0 ячейки 5 и повыщенпя точности .минимальное мгновенное значение напряжения расщиряегся расщирителем 6, которым управляет генератор 7 импульсов управления, и мощность расщнренного импульса усиливается катодным повторителем 8. Выходное напряжение пиковой ячейки 5-измеряется непосредственно вольтметром 9 постоянного .токд, но молсет быть также использовано для автоматизации сортировки пш1упроведяиковь« -приборов по

Предмет изобретения

Устройство для измерения максимальной мгновенной разности темнератур между р-ппереходом и корпусом полупроводникового прибора в условиях воздействия импульсов прямого тока, содержащее генератор илтульсов пряз,1ого тока нагрева, генератор постоянного измерительного прямого тока п блок из.мерения падения напряжения на р-/г-переходе, вызываемого измерительным током, отличающееся тем, что, с целью повыи1еи11я точности, блок измерения выполнен з виде усилителя переменного напряжения с ограинчением импульса, соответствующего току нагрева, а к выходу усилителя через расширитель и катодный повторитель подключена днодио-емкостиая ииковая ячейка с закрытым входом, выходное напряжение которой проиорнионально измеряемой величине.

Похожие патенты SU287362A1

название год авторы номер документа
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ИМПУЛЬСНОГО 1968
SU217533A1
Пиковый детектор 1956
  • Кукин Н.А.
SU106965A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СРЕДНЕЙ ЧАСТОТЫ ИМПУЛЬСОВ 2004
  • Ещенко Александр Федорович
  • Борисов Максим Евгеньевич
  • Малкин Игорь Давыдович
RU2275644C1
УСТРОЙСТВО для ОПРЕДЕЛЕНИЯ И КОНТРОЛЯ ПОСТОЯННЫХ ВРЕМЕНИ 1971
SU289396A1
Измеритель емкостей полупроводниковых конденсаторов 1977
  • Ефремов Дмитрий Александрович
SU742827A1
УСТРОЙСТВО для ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ р—п-ПЕРЕХОДОВ 1968
  • Б. С. Самойлов, В. П. Скрипников, Н. С. Афанасье В. Э. Осмоловский
  • Томилинский Завод Полупроводниковых Приборов
SU219020A1
ДОЗИМЕТР БЕТАТРОННЫЙR.arJTrlft- . 1g!IbXSlI'it^"'^'^ \ БИ&ЛЯОТЕКА 1969
  • И. К. Табаровский, Ю. Мандельцвайс, В. Т. Введенский, П. Ф. Заблоцкий, Ю. Н. Сизенов, А. А. Пушкарев В. Г. Епишев
  • Всесоюзный Научно Исследовательский Институт Медицинского Приборостроени Министерства Медицинской Промышленн
SU243744A1
Устройство для измерения параметров дефектов в полупроводниковых приборах 1977
  • Гончаров Василий Павлович
  • Гусев Александр Сергеевич
  • Ухин Николай Андреевич
SU746347A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МАКСИМАЛЬНОЙ Л1ГНОВЕННОЙ 1970
SU274234A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВЫДЕЛЕНИЯ И ПРЕОБРАЗОВАНИЯ 1966
SU187332A1

Иллюстрации к изобретению SU 287 362 A1

Реферат патента 1970 года УСТРОЙСТВО для ИЗМЕРЕНИЯ МАКСИМАЛЬНОЙ

Формула изобретения SU 287 362 A1

SU 287 362 A1

Даты

1970-01-01Публикация