Способ может быть использован для нзмереиия многих типов полупроводниковых ириборов корпусной конструкции при нагрузке их пмпульсамп прямого тока.
Известен способ определения мгиовеннон разности температур между р-п-иереходом и корпусом нолупроводнпкового прибора при импульсной нагрузке, заключающийся в измерении разности двух значений: минимального мгновенного значения (напряжение на приборе ирп малом прямом токе) после нагрева диода импульсом тока /„ п значения, установившегося иосле выравнивания температуры в кристалле полупроводника.
Недостатками этого способа измерения являются небольшая разиость напряжений (на порядок меньше ) чередование перподов измерения бпор с периодами«агрева, в течение которых на диоде возникает большое напряжение Ьл.
При импульсном нагреве диода У„ может быть на два иорядка больше измеряемой разиости двух мгиовенных значений ОпорЦель изобретения - повыиление точности измерения. Достигается оиа тем, что снимаемое с измеряемого полупроводникового прибора иапряжение ограничивают по мaкcпмy iy до средпего значения этого напряжения, а разность минимального мгновенного значения п среднего значения, ограниченного по максимуму напряжепия, преобразуют в выходной сигнал. Частоту импульсов иагрузки измеряемого полупроводиикового прибора выбирают такой, чтобы ИХ скважность была более 100, чем дополнительио уменьшается разпость между среднпм значением, ограниченным по максимуму напряження, и установившимся значением LnopHa измеряемом полупроводниковом приборе.
Способ заключается в следуюшем.
Определяют разность минимального мгновенного значения L-nop и среднего зиачення папряжения иа диоде бср после ограничения импульсов напряженпя нагрева f/,,.
и.
результате ограничения LJ,, величина
ср
приближается
к установившемуся значению УПОП . Этому ,ор . iu.Mv же способствует увелпчение скважности импульсов /„ (частоту повторений имиульсов тока иагрева прибора выбирают такой, чтобы скважиость этпх импульсов превышала 100).
Предмет изобретения
Сиособ определения максимальной мгновенной разностп температур между р-п-пере.ходом и корпусо.м полуироводннкового ирибора, работаюи1.его под иагрузкой имиульсами прямого тока, по разности двух мгновенных значений «порогового ирямого напряжения, ог3личающийся тем, что, с целью повышения томности измерений, снимаемое с измеряемого полунроводникового нрибора напрян :ение ограничивают по максимуму до среднего значе4ния этого напряжения, разность минимального мгновенного значения и среднего значения, ограниченного по максимуму напряжения, нреобразуют в выходной сигнал.
