ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ МИКРОСКОП ДЛЯ НАВЕДЕНИЯ НА ШТРИХ ОБЪЕКТА Советский патент 1971 года по МПК G01B9/04 

Описание патента на изобретение SU290165A1

Известны фотоэлектрические микроскопы для наведения на штрих объекта, например штриховой меры, содержащие источник света, оптическую систему для получения изображения штриха, позиционно чувствительный фотоприемник, на чувствительную поверхность которого проецируется изображение штриха объекта, и электронный блок обработки сигнала с фотоприемника.

С целью повышения точности наведения на штрих объекта в предлагаемом микроскопе оптическая система выполнена в виде микроинтерферометра, одним из зеркал котооого является сам объект со штрихом, а позиционно чувствительной Аотоприемник установлен на выходе микроинтерферометра, в плоскости локализации интерференционного изображения штриха.

На чертеже показан предлагаемый фотоэлектрический микроскоп.

Фотоэлектрический микроскоп состоит из микроинтерферометра J, представляюш;его собой двухлучевой интерферометр, одним из .черкал которого является штрих - объект 2.

Интерференционная картина, создаваемая микроинтерферометром, проецируется на рабочую поверхность позиционно чувствительного фотоприемника 3. В качестве фотоприемника используются фотоэлементы с продольным фотоэффектом. Фотоприемник включен

в балансную электрическую схему, с выхода которой сигнал поступает в электронный блок 4 и далее на стрелочный индикатор 5.

Наведение на штрпх объекта производится следующим образом. Если профиль штриха имеет ось симметрии, то его интерференционное изображение имеет вид полос с симметричными искривлениями. Тогда при совпадении оси cи тмeтpии искривлений с нулевой линией сЬптоприемника сигнал на выходе балансной схемы станет равным НУЛЮ. Если проЛиль штриха и изображения полос, ему соответствмошие. РССПММРТРИЧЧЫ, то нулевая литгя совмегиаотся с заланной характерной точкой ппоЛиля. .Момент сов гешения также определяется по нулевому ВЫХОДНОМУ напряжению.

Предмет изобретения

Фотоэле трический МИКРОСКОП для наведения на штрих объекта, наприлтер штриховой меры, солержаший источник света, оптическую систему для получения изображения штриха, позипионно чувствительный сЬотоприемник. на чувствительн ю поверхность которого проецируется изображение штриха объекта, и электронный блок обработки сигнала с фотоприемника, отличаюишйся тем, что, с целью повыигения точности наведения на

на в виде микроинтерферометра, одним из зеркал которого является сам объект со штрихом, а позиционно чувствительный фотоприемник установлен на выходе микроинтерферо метра, в плоскости локализации интерференционного изображения штриха.

Похожие патенты SU290165A1

название год авторы номер документа
Трехканальный фотоэлектрический микроскоп 1971
  • Гаврилкин Анатолий Александрович
SU498591A1
Способ преобразования неэлектрических величин в электрический сигнал 1973
  • Гаврилкин Анатолий Александрович
SU506891A1
Фотоэлектрический микроскоп 1972
  • Сихарулидзе Важа Михайлович
  • Зедгинидзе Георгий Платонович
SU494602A1
Способ определения частоты и амплитуды модуляции фазы волнового фронта, создаваемого колебаниями мембраны клетки 2020
  • Левин Геннадий Генрихович
RU2743973C1
Фотоэлектрический микроскоп 1976
  • Маковский Юрий Александрович
  • Федоров Алексей Дмитриевич
  • Чикинев Николай Михайлович
SU587322A1
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ИНТЕРПОЛЯТОР ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СИГНАЛОВ 1973
SU369423A1
ПРИБОР ТРЕХОСНОЙ ОРИЕНТАЦИИ НА СОЛНЦЕ 1995
  • Черемухин Г.С.
  • Чибисов В.А.
RU2127421C1
ПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ВНУТРИГЛАЗНЫХЭЛЕМЕНТОВ 1969
SU252665A1
Оптический способ измерения линейных перемещений 1986
  • Гладырь Владимир Иванович
  • Голыгин Николай Христофорович
  • Иванов Анатолий Сергеевич
  • Степанов Александр Владимирович
SU1404809A1
ДВУХКООРДИНАТНЫЙ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ЦИФРОВОЙ АВТОКОЛЛИМАТОР 2013
  • Ловчий Игорь Леонидович
  • Жуков Юрий Павлович
  • Петров Леонид Павлович
  • Пестов Юрий Иванович
  • Цветков Виктор Иванович
  • Сергеев Валерий Анатольевич
  • Блинов Сергей Валентинович
RU2535526C1

Иллюстрации к изобретению SU 290 165 A1

Реферат патента 1971 года ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ МИКРОСКОП ДЛЯ НАВЕДЕНИЯ НА ШТРИХ ОБЪЕКТА

Формула изобретения SU 290 165 A1

SU 290 165 A1

Авторы

Б. Кайнер В. И. Телешевский

Даты

1971-01-01Публикация