СПОСОБ КОНТРОЛЯ МИКРОСХЕМ Советский патент 1971 года по МПК G01R3/00 

Контактное устройство для контроля микросхем известно. Новизна изобретения состоит в способе контроля микросхем, заключающемся в том, что с целью уменьшения остаточных параметров и обеспечения контроля работоспособности элементов к измерительному устройству одновременно с микросхемой через систему щупов подключают дополнительную схему, образующую с первой законченный функциональный узел.

На чертеже показано устройство, реализующее описываемый способ.

Головка состоит из основания 1, в котором находится маска 2. В маске сделаны направляющие отверстия точно по координатам контактных площадок микросхемы. Через эти отверстия проходят шупы 3, с помощью которых осуществляется контакт с микросхемой и которые прижимаются к маске упругой подушкой 4, например резиновой. Плата 5 служит для того, чтобы стянуть весь пакет и через регулировочную шайбу 6 поджать резиновую подушку. Концы щупов выведены через промежуточную прокладку 7.

Для более качественной изоляции между подушкой и щупами проложена пленка 8 с высокими изоляционными свойствами, например из фторопласта. К основанию крепится разъем 9 для подключения к измерительному прибору и подачи питающих напряжений. Кроме того, сделана контактная колодка 10 для корпусов 11, в которых находится плата с активными элементами. Вся головка закрыта крышкой 12. Стяжные винты и винты крепления на чертеже не показаны.

Плата с активными элементами, находящаяся в корпусе 11, представляет собой измеряемую микросхему без пассивных элементов, на которой напаяны применяемые в данной схеме транзисторы и диоды. Соответствующие выводы этой микросхемы через разъем связаны с соответствующими щупами.

Для измерения микросхемы по выходным параметрам от щупов, которые контактируют

с контрольными точками, сделана распайка на разъем 9.

Упругая подушка дает возможность при контактировании перемещаться щупам в направляющих отверстиях и обеспечивает надежный контакт с изм.еряемой платой всех щупов.

В процессе измерения контактирующая головка опускается на плату с пассивными элементами так, чтобы обеспечить контактирование щупов с узловыми точками. Тем самым осуществляется подключение к плате недостающих на ней транзисторов и диодов, и после подачи питания схема оказывается в рабочем состоянии и может контролироваться по ее выПредмет изобретения Способ контроля микросхем, основанный па подключении микросхемы к измерительному устройству при помощи щупов, отличающийся 5 тем, что, с целью уменьщения остаточных параметров и обеспечения контроля работоспособности элементов, к измерительному устронству одновременно с микросхемой через систему щупов подключают дополнительную схему, образующую с первой законченньщ функциональный узел., ,

/ 2