Контактное устройство для контроля интегральных схем на подложке Советский патент 1982 года по МПК H05K1/18 

Описание патента на изобретение SU947974A1

Указанная цель достигеется тем, что контактное устройство для контро ля интегральных схем на подложке, содержащее блок позиционирования подложки, контактируюиий узел с зондами, микроскоп, соединительную печатную плату для соединения измери тельных цепей с зондами, снабжено узлом задания программы контроля, содержащим диэлектрическую пластину с отверстиями и упругими контактами, и широкополосными преобразователями, размещенными на соединительной плате которая расположена между контактирующим узлом и узлом задания программы контроля, при этом одна из попарно соединенных площадок соединиельной платал соединена с широкопоосным преобразователем ц одним коном упругого контакта узла задания рограммы контроля, а другая - с ондом, причем другие концы упруих контактов ;кестко закреплены в тверстиях диэлектрической пластиы и соединены между собой.

На фиг.1 показано предлагаемое устройство, вид сбоку; на фиг.2 то же, вид сверху.

Контактное устройство содержит блок 1 позиционирования для перемещения контролируемой микросхемы, основание 2, соединительную плату -3, контактирующий узел 4 с зондами 5, микроскоп б (для настройки зондов на контактные площадки микpocxeMti) , узел 7 задания программы контроля микросхемы, диэлектрическую пластину 8 узла задания программы контроля, прижимные фиксаторы 9, широкополосные преобразователи 1C, состоящие из высокочастотного акTHBHoio пробника 11, коммутирующих и согласующих элементов 12, эквивалента нагрузки 13 микросхем, высокочастотного соединителя 14, низкочастотного соединителя 15, упругие контакты 16, контактную печатную площадку 17, соединенную с зондом 5, и контактную печатную площадку 18, соединенную с широкополосным преобразователем 10, перемычки 19, печатные проводники 20, отверстия 21 в диэлектрической пластине 8, полупроводниковую пластину 22.

/Устройство работает следующим o6jta3OM.

После подключения устройства через высокочастотные 14 и низкочастотные 15 соединители к измерителю не показан) параметров микросхем и установки на соединительную плату 3 узла 7 задания програмки контроля с соответствующей программой измерения выводов микросхемы, испытательные сигналы от измерителя через широкополосные преобразователи 10

подаются по печатным проводникам 20на узел 7 задания программы контроля. В зависимости от назначения измерительной цепи испытательный сигнал через соответствующую печатную 5 контактную площадку 18, соединительную плату 3, контактирующий с ней упругий контакт 16, перемычку 19 (для примера на фиг.1 показан случай ближайшего расположения измерительной цепи и зонда), второй упругий контакт 16 и контактную печатную

площадку 17 поступает на соответствующий зонд 5 {входной, выходной, питания или корпус| контактирующего

5 узла 4.

Особенностью предлагаемого устройства является расположение вблизи зондов специальных узлов - широкополосных преобразователей 10, воспринимающих информацию с контактных площадок микросхемы через зонды и осуществляющих непосредственно вблизи зондов подключение необходимых 5 измерительных цепей к измерителю, а также их согласование. Измерительная информация о динамических параметрах контролируемых микросхем от преобразователей 10 подается че3Q рез высокочастотный разъем 14 и радиочастотные кабели в измеритель.

Широкополосные преобразователи 10 представляют собой широкополосные коммутируюише и согласующие узлы.

содержащие высокочастотный активный

пробник 11, коммутирующие и согласуюгдае элементы 12 (высокочастотные реле, согласующие широкополосные резиcтopы, эквивалент нагрузки 13 микросхем, высокочастотные 14 и низкочастотные 15 соединители, подключающие в зависимости от функционального назначения зонда по командам от измерителя соответствукодие элементы и

цепи, подающие через зоны на контактные площадки MHKpocxeNM на прддржке н Сходимые исгитательные сигналы и снимающие выходные сигналы с B JXOдов микросхемы.

Переход к изменению параметров . другого типа интегральных схем ( где; контактные площадки имеют уже дгэугие функциональное назначение и расположение J осуществляется узлом 7 заДания программы контроля. На узле 7 задания програм /1Ы контроля установлены соответствующие перемычки 19 таким образом, чтобы каждый зонд 5 контактирующего узла 4, контактные

площадки 17, 18 и входная измерительная цепь измерителя соответствовали своему функциональному назначению.

Узел 7 задания программа ко11троля микросхем состоит из диэлектрической пластины 8, упругих контактов 16, о ,верстий 21 и перемычек 19. Упругие контакты 16 устаночленн на диэлектрической пластине таким образом, чт одни их концы проходят в отверстие 21 в диэлектрической пластине 8 и контактирурэт с печатными контактным Ш1ош,алками 17 или 18, выполненными на соединительной плате 3, другие закреплены в отверстиях 21 и соединены между собой перемычками 19 в зарисимости от типа контролируемой микросхемы. Применение в предлагаемом устройстве узла 7 задания прогр va контроля указанной конструкции позволяет оперативно и без приложения большого усилия к зондам 5 { и соединительной штате з) при установ . ке и снятии програлданого узла 7 изменять программу контроля в зависимости от назначения выводов микросхем, обеспечив при этом необходиму точность и возможность поломки контактирукадих зондов 5 {при повороте прижимных фиксаторов 9) узел 7 без приложения усилия ( за счет подпружинивания контактов выходит из контактирования с соединительной платой 3 и легко снимается. Расположение узла 7 задания программы контроля и широкополосных прео разователей 10 вблизи зондов 5, а такке взаимодействие указанных узлов с зондами 5 и испытательной платой 3 дало возможность существенно уменьшить длину линий связи, улучшить согласование и соответственно, существенно уменьшить искажения подаваемых испытательных и снимаемых с контролируемой микросхеки широкополосных сигналов, что позволило

П

IS

а

Ф1и1 повысить точность измерений динамических параметров микросхем на подложке . Формула изобретения Контактное устройство для контроля интегральных схем на подложке, содержащее блок позиционирования подложки, контактирующий узел с зондами, микроскоп, соединительную печатную плату для соединения измерительных цепей с зондами, отличающееся тем, что, с целью повышения точности контроля динамических параметров, оно снабжено узлом задания програмкы контроля, содержащим диэлектрическую пластину с отверстиями и упругими контактами, и широкополосными преобразователями, размещенными на соединительной плате, которая расположена между контактирующим узлом и узлом задания програмл« контроля, при этом одна из попарно соединенных контактных плсяцадок соединительной платы, соединена с широкополосным.преобразователем и одним концом упругого контакта узла задания программы контроля, а другая - с зондом, причем другие концы упругих контактов жестко закреплены в отверстиях диэлектрической пластины и соединены между собой. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Авторское свидетельство СССР 274232, кл. Н 05 К 1/04, 1970. 2.Патент США № 3849728, л. 324-158, 1974 (прототип).

Похожие патенты SU947974A1

название год авторы номер документа
Контактирующее устройство для контроля динамических параметров микросхем 1975
  • Минченко Владимир Алексеевич
  • Жинь Николай Иванович
SU686107A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ БЕЗВЫХОДНЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ 1993
  • Найда С.М.
  • Гладков П.В.
  • Пырченков В.Н.
RU2083024C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПЕЧАТНЫХ ПЛАТ 1993
  • Павлюк В.И.
RU2097949C1
Устройство для контроля печатных плат 1987
  • Антонов Олег Васильевич
  • Митрофанов Владимир Васильевич
  • Шилин Борис Дмитриевич
SU1510112A1
ДАТЧИК С МИКРОЭЛЕКТРОННЫМ ПЕРВИЧНЫМ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫМ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕМ ИНЕРЦИОННОГО ТИПА 2016
  • Радчик Игорь Иосифович
  • Скворцов Олег Борисович
  • Арестов Сергей Олегович
  • Зенин Андрей Николаевич
  • Фокина Татьяна Павловна
  • Гвоздева Лариса Александровна
  • Сушко Андрей Евгеньевич
  • Шамардина Алла Михайловна
RU2658565C2
СБОРНЫЙ КОРПУС МИКРОСХЕМЫ И СПОСОБ ЕГО ИСПОЛЬЗОВАНИЯ 2013
  • Иванов Евгений Валерьевич
  • Краснов Андрей Александрович
  • Шарков Георгий Борисович
  • Тихомирова Надежда Владимировна
RU2617559C2
Устройство для подключения микросхем к измерительной системе 1980
  • Гонестас Энрикас Юозович
  • Чергелис Антанас-Витаустас Юозо
SU953749A2
КОНТАКТНЫЙ УЗЕЛ НА ВСТРЕЧНЫХ КОНТАКТАХ С КАПИЛЛЯРНЫМ СОЕДИНИТЕЛЬНЫМ ЭЛЕМЕНТОМ И СПОСОБ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ 2008
  • Таран Александр Иванович
  • Белов Андрей Александрович
RU2374793C2
Контактное устройство для контроля микросхем с планарными выводами 1990
  • Гришаков Геннадий Иванович
  • Орлов Алексей Геннадьевич
  • Измайлов Сергей Юрьевич
  • Проневский Владимир Александрович
SU1785085A1
ПЕЧАТНАЯ ПЛАТА ДЛЯ СМЕННЫХ ЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТОВ 2003
  • Кошарновский А.Н.
  • Евтигнеев В.Г.
RU2232447C1

Иллюстрации к изобретению SU 947 974 A1

Реферат патента 1982 года Контактное устройство для контроля интегральных схем на подложке

Формула изобретения SU 947 974 A1

SU 947 974 A1

Авторы

Минченко Владимир Алексеевич

Масленков Виталий Федорович

Коваль Виктор Яковлевич

Даты

1982-07-30Публикация

1980-08-04Подача