УСТРОЙСТВО ДЛЯ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИИ СТЕКЛЯННЫХ ОБРАЗЦОВ Советский патент 1971 года по МПК G01B11/16 

Изобретение может быть использовано для измерения деформаций образцов при испытании на изпиб, растяжение или сжатие.

Известные устройства содержат рабочую камеру с нагружающим органом, проектор и измерительный меха низм.

Цель изобретения - повысить точность измерепия.

Это достигается тем, что нагружающий орган жестко авязан с объектом, а измерительный механизм выполнен с фотоэлектрическими преобразователями, Бклюнеиным в мостовую .схему с нуль-1индикатором.

На фиг. 1 изображено предлагаемое устройство; на фиг. 2 - фотоэлектрические преобразователи.

Предлагаемое устройство содержит осветитель 1 с лампой 2, .нагружающий орган 3, который через осветитель / с помощью стоек 4 и гаек 5 жестко связан с а ольцом 6. « объективом 7, рабочую камеру 8 с опорой 9, на которой испытывается образец 10, переходное кольцо 11 основания 12 и зеркало 13.

В нагружающем органе и рабочей камере предусмотрены гер.метичные иллюминаторы 14 и 15, сна1бже;н11ые унлотнительными прокладками 16 и 17. Поджимающие гайки 18 «

Герметизация камеры 8 -позволяет создать в ней разрежение порядка тор.

В крышке камеры имеется направляюн1,ий стакан, по которому перемещается осветитель /. Направляющий стакан создает строго осевое перемещение нагружающего оргапа, на.нример, пуансона.

Образец с контрольными метка.ми размещается на опоре таким образом, чтобы в 1иллюмкнатор пуа нсона были видны контрольные .метки. Затем в рабочей камере создается вакуум, после Чего пуапсон нагружается по заданной програм,ме.

Проектируемое теневое изображение контрольных меток направляется через объектив с увеличепие.м в 150 раз на измерительные фотоэлектрические преобразователи 22.

22

Фотоэлектрические преобразователи

ориентируются относительно изображения меток таким образом, что в .мостовой схеме устанавливается бала«с токов, который регистрируется индикатором иуль-балапса. Преобразователи укреплены на двух не связанных микрометрических винтах 23, установленных с возмоЖНОСтью перемещения по направляюИ1ИМ 24 вдоль измерительной линейки 25.

ние между оистемами фотолреобразо.вателей. При последующем -нагружвнии в результате деформации образца происходит оеремещение контрольных точек, что (вызывает разбалаисировку 1схемы. Вращая микрометрические ви-нты, возвращают схему к бала.нсу.

При этом леремещение преобразователей 21 пропорционально измеряемой дефор.мации А/, раэности показаний на 2-х миырометрических вИНтах до и -после нагрул ения.

Отнооительная деформация образца определяется «aiR 8 100%.

Л)

Общая ошибка в измерении относительной деформации (при е 0,02) составляет около 4%.

Предмет изобретения

Устройство для бесконтактного измерения деформации стеклянных образцов, содержащее рабочую камеру с нагружающим органом, проектор и измерительный механизм, отличающееся тем, что, с целью повыщения точности измерения, нагружающий орган жестко связан с объективом, а измерительный механизм выполнен с фотоэлектрическими преоб|разавателями, включенными в мост-схему с нуль-индикатором.

риг 1

Фиг. 2