СПОСОБ ЛОКАЛИЗАЦИИ ВЫБРАННОГО УЧАСТКА ПРИ ИЗГОТОВЛЕНИИ ПРИЦЕЛЬНОЙ РЕПЛИКИ Советский патент 1971 года по МПК G01N33/38 

Предлагаемое изобретение относится к технике электронно-микроскопических исследований и может быть использовано в цементной промышленности для минералогических исследований цементного клинкера и камня.

Известен способ локализации выбранного участка при получении прицельных реплик.

Этим способом выбранный участок оконтуривают рисками с помощью алмазной пирамидки твердомера типа ПМТ-3.

Однако известный способ характеризуется невозможностью применения для исследований непластичных реплик с высокоразрешающей способностью, например угольных, так как на них невозможно получить отчетливых меток.

Цель изобретения - повышение степени точности исследования при получении высокоразрешающей прицельной реплики, например УГОЛЬНОЙ.

Достигается это тем, что метку наносят красящим веществом.

На острие металлической иглы наносят

красящее вещество, которым оконтуривают выбранный на щлифе участок. В качестве красящего материала можно использовать любой краситель, метки которым сохраняются

после воздействия растворителей и переносятся на реплику (например масляная краска «Краплак).

Применение предлагаемого способа позволит проводить исследования структуры многофазных систем, например, цементного клинкера и камня за счет применения высокоразрещающих реплик.

Предмет изобретения

Способ локализации выбранного участка при изготовлении прицельной реплики путем нанесения метки на поверхность исследуемого образца, отличающийся тем, что, с целью повышения степени точности исследования при получении высокоразрешающей прицельной реплики, например угольной, метку наносят красящим веществом.