МАГНИТОГРАФИЧЕСКИЙ ДЕФЕКТОСКОП Советский патент 1971 года по МПК G01N27/85 

.

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а именно к области контроля Качества стыковых сварных соединений или неоднородностей в металлах и диэлектриках.

Известны магнитографические дефектоокопы для контроля качества сварных соединений, содержащие магнитный носитель, выполненный в виде ферромагнитной пленки, источник магнитного поля, считывающее устройство и электроннолучевую трубку, на экраяе которой наблюдается изображение дефекта. Однако конструкция этих дефектоскопов сложна и, кроме того, они применяются лищь для контроля ферромагнитных материалов.

Целью настоящего изобретения является упрощение конструкции и получение возможности контролировать не только ферромагнитные материалы, но и неферромагнитные.

В предлагаемом дефектоскопе магнитный носитель выполнен в виде тонкой магнитной пленки с полосовой доменной структурой, на поверхность которой нанесен магнитный коллоид, а дефектоскоп снабжен источником импульсного магнитного поля, расположенным по отнощению к первому так, что поля их ортогональны и направление силовых линий параллельно плоскости пленки, источником света и защитным экраном, расположенными

в плоскости, нормальной к плоскости пленки и совпадающей с направлением силовых линий второго источника магнитного поля.

Для расщирения области применения дефектоскоп снабжен источником импульсного электрического поля, силовые линии которого параллельны полю второго источника магнитного поля. Описываемый дефектоскоп изображен на

чертеже.

Магнитографический дефектоскоп содержит пластину 1, на которой размещены источник 2 магнитного поля ориентации, источник 3 импульсного магнитного поля записи, источник импульсного электрического поля (не показан), источник света (осветитель 4), защитный экран 5, магнитный носитель 6, представляющий собой тонкую магнитную пленку с полосовой доменной структурой, на поверхность которой нанесен магнитный коллоид, герметизируемый прозрачным покрытием и контролируемый объект 7. Контроль с помощью дефектоскопа ведется наблюдателем 8. Магнитографический дефектоскоп работает

следующим образом.

Дефектоскоп устанавливают на поверхност контролируемого объекта. С помощью импульса тока, длительность которого превыщает 40 мксек, источником магнитного поля

ной не менее 400 э в .плоскости магнитно го носителя. Это поле ориентирует дамены пленки в определенном направлении. После окончания действ1ия поля ориентации в направлении, нормальном к направлению поля ориентации, к магнитной пленке прикладывается поле записи, длительность которого зависит от толщины материала (чем толще контролируемый объект, тем длительность импульса больще) и его авойств (если материал не ферромагнитный, то, чем выше проводимость материала, тем короче импульс). Величина поля записи определяется свойствами пленки: полем старта или полем насыщения.

В процессе приложения поля записи к пленке над ней возникает поле, определяемое реакцией поверхности контролируемого объекта и самим полем записи. В тех местах пленки, где результирующее поле превысит поле старта, произойдет поворот полосовых доменов пленки. Такими местами являются бездефектные места; на тех участках, где имеются неоднородности (по удельному сопротивлению металла или пустоты), суммарное поле имеет меньшее значение, записи не произойдет или угол поворота будет меньшим.

Распределение углов поворота доменов отражает картину распределения неоднородностей в контролируемом объекте.

Таким образом, благодаря тому, что сочетание коллоида и пленки приводит к появлению на ее поверхности магнитоуправляемой

дифракционной решетки, записанное изображение мгновенно переводится в порошковые картины, наблюдаемые под углом дифра кции указанной решетки с помощью осветителя и защитного экрана. Яркость наблюдаемой картины высока, она определяется направленностью излучения с поверхности магнитной пленки.

Предмет изобретения

1.Магнитографический дефектоскоп, содержащий магнитный носитель и источник магнитного поля, отличающийся тем, что, с целью упрощения конструкции, магнитный носитель выполнен в виде тонкой магнитной пленки с полосовой доменной структурой, на поверхность которой нанесен магнитный коллоид, а дефектоскоп снабжен источником импульсного магнитного поля, расположенным по отношению к первому так, что поля их ортогональны и направление силовых линий параллельно плоскости плеЕки, источником света и защитным экраном, расположенными в плоскости, нормальной к плоскости пленки и совпадающей с направлением силовых линий второго источника магнитного поля.

2.Дефектоскоп по п. 1, отличающийся тем, что, с целью расширения области применения, он снабжен источником импульсного электрического поля, силовые линии которого параллельны полю второго источника магнитного поля.