УСТРОЙСТВО для КОМПАРИРОВАНИЯ ШТРИХОВЫХ МЕР Советский патент 1971 года по МПК G01B9/04 

Изобретение относится к области измерительной техники в станкостроении и приборостроении.

Известно устройство для компарирования штриховых мер, содержащее два фотоэлектрических микроскопа, вибратор с зеркалами, электронную схему, включающую усилители, триггеры и временной дискриминатор, счетчик импульсов и механизмы перемещения стола и наведения на щтрих образцовой меры.

Предложенное устройство отличается от известного тем, что оно снабжено интерферометром с фотоэлектрическим приемником света, включенным на вход усилителя, выход которого связан с одним из входов временного дискриминатора, причем интерферометр установлен так, что одним из его зеркал является зеркало вибратора.

Такое выполнение устройства позволяет повысить точность измерения.

На чертеже изобрал ена блок-схема предложенного устройства.

Оно содержит два фотоэлектрических микроскопа, каждый из которых состоит из источника 1 света, зеркал 2 и 3, линзы 4, двустороннего зеркала 5 вибратора, щели 6 и фотоэлемента 7. Интерферометр включает источник 8 света, коллиматор Я разделяющую пластину W, зеркала //, одним из которых является зеркало 5, линзу 12, щель 13 и фотоэлемент 14.

Электронная схема имеет усилители 15, электронные ключи 16, ограничители 17, триггеры 18 и временной дискриминатор 19, связанный через реверсивный счетчик 20 с цифропечатающим устройством 21 и через вибратор 22 и усилитель 23 с фотоэлементом 14 интерферометра. Предлагаемое устройство также содержит фазовращатель 4, усилительноограничительный каскад 25, электронные ключи 26 и 2J, пересчетное устройство 28, схему 29 перемещения стола с мерами, схему 30 остановки стола компаратора и исполнительный

механизм 31, управляемый схемами 29 и 30. Работает устройство следующим образом. Изображение щтрихов образцовой и проверяемой мер 32 и 33 при помощи двойного микроскопа и зеркала и проектируется в плоскости щелей 6. При колебании зеркала 5 изображения штрихов колеблятся относительно щелей 6.

За один период колебания на выходе фотоэлементов 7 появляются два импульса прямого и обратного ходов луча. Измеряя временной интервал между импульсами при прямом и обратном ходах, определяют расстояние между штрихами мер. Для этого импульсы с фотоэлементов 7 подают на усилители 15, а