Известны компараторы для аттестации штриховых мер путем сличения нроверяемой меры с образцовой, содержащие станину, стол, на котором устанавливают образцовую и проверяемую меры, механизм перемещения стола, каретку с механизмом тонкой подачи, два фотоэлектрических микроскопа с колеблющимися плоскопараллельными пластинками, установленными на каретке, устройство для отсчета относительного положения штрихов образцовой и проверяемой мер.
Однако указанным компаратором наведение фотоэлектрических микроскопов на штрихи (компенсацию взаимного положения штрихов) производят вручную.
Предлагаемый компаратор отличается от известных тем, что каждая система компенсации измерительных импульсов микроскопов выполнена в виде электродвигателя, управляемого сигналом микроскоиа, редуктора, связанного с электродвигателем датчика, воспринимающего перемещение выходного звена редуктора и подающего выработанный им сигнал в обмотку плосконараллельной иластинки микроскопа. Это отличие позволяет автоматизировать совмещение центра колебания изображения щелевой диафрагмы с центром штриха меры.
ройство отсчета относительного положения штрихов образцовой и проверяемой мер мож&т быть выполнено в виде сумматора, осуществляюшего алгебраическое сложение сигналов, подаваемых в обмотки илоскопараллельных пластинок.
Для повышения производительности аттестации редуктор системы компенсации может быть выполнен с переменным передаточным
отношением, а для повышения точности аттестации связь каретки со станиной лшжет быть выполнена гибкой в виде илоских пружин, и опора стола, па котором расположены сличаемые меры, быть выполнена в виде
двух автономных кареток.
Для сужения зоны визирования микроскопов механизм TOHKOII подачи каретки можег быть снабжен приводом, иолучающим питание от одного из микроскопов. .
На фиг. 1 изображена схема комиаратора; на фиг. 2 - схема измерения; на фиг. 3 - схема базирования стола.
Описываемый компаратор содержит станину /, стол 2, на котором устанавливают образцовую и проверяемую меры 3 и 4, механизм 5 перемещения стола, каретку 6 с механизмо.м 7 тонкой иодачи, два фотоэлектрических микроскопа 8 и Я две системы компенсации измерительных импульсов, поступающих от фогоотсчета относительного положения HiTpvixos образцово и проверяемой мер.
Каждая система комиенсацин измерительных имиульсов микроскопов выиолпеиа в виде электродвигателя {иа чертеже не показан), управляемого сигналом микроскопа, редуктора 10, связанного с электродвигателем датчика //, воспринимающего перемепдение выходного звена редуктора и иодающего компенсируюпдего сигналы на обмотку 12 плоскопараллельной пластинки 13 микроскопа.
Устройство отсчета относительного положения штрихов образцовой и нроверяемой мер выполнено в виде сумматора 14, осуществляюпдего алгебраическое сложение сигналов, подаваемых в обмотки плосконараллельных цластинок.
Редуктор 10 выполнен с неременным передаточным отношением, а механизм 7 снабжен приводом (на чертеже не показан), нолучаюндим питание от микроскопа 8. Связь каретки 6 со станиной выполнена гибкой в виде плоских 15 и 16.
Оиора стола 2, на котором расиоложены меры 3 и 4, выполнена в виде двух автономных кареток 17 и 18.
Работает компаратор следующим образом. Световой луч от лампы 19 конденсатором 20 направляется на диафрагму 21. Световая полоса, вырезанная диафрагмой, ироектируегся объективом 22 на поверхность шкалы. На пути светового луча находится плоскопараллельная стеклянная пластинка 13 с обмоткой 12, находящейся в поле постоянного магнита 23. По обмотке течет неременный ток, вызывающий вибрацию пластинки и сканирование изображения щели диафрагмы на поверхности щкалы. Световой луч, отраженный от поверхности шкалы, при помощи иризмы 24 направляется на фотоприемник 25. При периодическом нрохол дении светового луча через штрих 26 на шкале (вследствие затемнения луча на фотонриемнике) возникают импульсы тока.
Время /1 и t.2 между импульсами равпо лишь в том случае, когда центр колебания изображения диаграммы совпадает с центром щтриха. Разность /i-4 характеризует наличие и знак смещения штриха.
Импульсы с фотоприемников фотоэлектрических микроскопов 8 и 9 поступают в электронные блоки 27 и 28, на выходе которых образуются сигналы, пропорциональные разности 1-4 для одного микроскопа и il-/2 для другого микроскопа. Эти сигналы поступают на электродвигатели, которые через редукторы 10 перемещают датчики П, вследствие чего изменяются токи, поступающие с КЭ,1пенсирующих блоков с обмотки 12 цлоскоиараллельных пластинок 13 фотоэлектрических микроскопов. Изменения этих токов будут продолжаться до тех пор, пока под их действием пластинки «е повернутся на такие углы, при которых центры колебаний изобрал ений диафрагм микроскопов совместятся с цеитоами соответствующих штрихов на образцовой и проверяемой мерах и сигналы с выходов злектроиных блоков станут равными нулю. При этом токи в обмотках будут такой величины, что иластинки под нх действием повернутся на углы, определяющие положения штрихов на шкалах.
Если начальные положения микроскопов над нулевыми штрихами выбраны такими, нри
которых постоянные токи в обмотках равны нулю, то иа любых других штрихах алгебраическая сумма токов в обмотках определит положение штриха проверяемой .меры относительно соответствующего щтриха образцовой
меры.
Сумматор 14 суммирует токи и регистрирует результат.
После отсчета положения штриха проверяемой меры относительно соответствующего
штриха образцовой меры стол перемещается на шаг щкалы с повышенной скоростью, а в зону визирования микроскоиов вводится следующая иара штрихов.
Предмет изобретения
1.Компаратор для аттестации штриховых мер нутем сличения нроверяемой меры с образцовой, содержащий станину, стол, на котором устанавливают образцовую и проверяемую меры, механизм перемещения стола, каретку с механизмом тонкой подачи, два фотоэлектрических микроскопа с колеблющимися плоскопараллельными пластинками, установленными на каретке, две системы компенсацин измерительных импульсов, поступающих от фотоэлектрических микроскопов, устройство для отсчета относительного положения штрихов образцовой и проверяемой мер, отличающийся тем, что, с целью автоматизации совмещения центра колебаний изображения щелевой диафрагмы с центром щтриха меры, каждая система комиенсации измерительных имиульсов микросконов выполнена в виде
электродвигателя, унравляемого сигиалом микроскопа, редуктора, связанного с электродвигателем датчика, воспринимающего перемещение выходного звбна редуктора и подающего комиенсирующие сигналы на обмотку
илоскопараллельной пластинки микроскопа.
2.Компаратор по п. 1, отличающийся тем, что, с целью исключения точной установки одного из микроскопов на штрих, устройство отсчета отиосительного положения штрихов образцовой и проверяемой мер выиолнено в виде сумматора, осуществляющего алгебраическое сложение сигналов, подаваемых в обмогки плоскопараллельных пластинок.
3.Компаратор по п. 1, отличающийся тем, что, с целью повыщения производительности
аттестации, редуктор системы комиенсации выполнен с переменным передаточным отношением. роскопов, механизм тонкон подачи каретки снабжен приводом, получающим питание от одного из микроскопов. 5. Компаратор по п. 1, отличающийся гем, что, с целью повышения точности аттестации,5 опора стола, на котором расположены сличаемые меры, выполиена в виде двух автономных кареток. 6. Компаратор по п. 1, отличающийся тем, что, с целью повышения точности аттестации, связь каретки со станиной выиолнена гибкой в виде нлоских пружин.
II
иг /
7////////.
