СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ ЭЛЕМЕНТОВ ПЛАНЕРА ЛЕТАТЕЛЬНОГО АППАРАТА В ПОЛЕТЕ Советский патент 1971 года по МПК G01M5/00 

Изобретение относится ж испытаниям летательных аппаратов, а именно к способам определения деформаций элементов планера летательного аппарата в полете.

Известны способы определения деформаций элементов лланера летательного аппарата в полете путем непрерывной кадровой кинотеодол.итной съемки накатанных на обшивку реперНых ш;кал. Од«а.ко эти способы характеризуются НИЗКОЙ точностью измерений, большой трудоемкостью подготовки и проведения эксперимента, большими материальными затратами на проведение эксперимента (в частности большим расходом кинопленки) и трудоемкостью обработки полученных данных изза невозможности широкого использования электронной вычислительной техники.

Целью изобретения является повышение точности измерений и снижение трудовых и материальных затрат на проведение эксперимента и обработку .

Предлагаемый способ отличается тем, что перед кинопленкой в фокальной плоскости устанавливают светопроницаемое стекло с тонкими базовыми линиями, расположенными в направлении движения пленки, перед стеклом размеш;аюг светонепроницаемую шторку с узкой щелью, расположенной перпендикуляр-но движению пленки и базовым линиям стекла, направляют объектив пеподвижно установленной кинокамеры так, чтобы ш,ель шторки совпала с -направлением реперной шкалы, а после съемки производят измерения деформаций в направлениях, перпендикулярных накатанной шкале по изменениям толш;ин линий, происходящпм при съемке реперных Шкал через узкую ш,ель шторки.

Этот способ позволяет повысить точность измерений, сократить трудозатраты на подготовку и проведение эксперимента, сократить расход «иноплевки, механизировать процесс обработки полученных данных за счет широкого использования электронно-вычислительных машин.

Предмет изобретения

Способ определения деформаций элементов планера летательного аппарата в полете путем непрерывной кадровой кинотеодолитной съемки накатанных на обшивку реперных шкал, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений и снижения затрат на проведение эксперимента и обработку данных, перед кинопленкой в фокальной плоскости устанавливают светопроницаемое стекло с тонкими базовыми линиями, расположенными в направлении движения пленки, перед стеклом размеш,ают светонепроницаемую 3 шторку с узкой щелью, расположенной перпенднкулярно движению пленки и базовым лнниям стекла, направляют объектив неподвижно установленной кинокамеры так, чтобы щель шторки совпала с направлением репер-5 4 ной шкалы, а после съемки производят измерения деформаций в нанравлениях, перпендикулярных накатанной шкале но изменениям толшин линий, происходящим при съемке репарных шкал через узкую щель шторки.