БЧЕ.ПИОТЕКЛ Советский патент 1972 года по МПК G01B11/06 

Изобретение относится к текстильной и бумажной промышленности и может быть применено для контроля толщины ткани, бумаги и других илоских изделий.

Известны бесконтактные снособы измерения толщины издел.ий, заключающиеся в том, что о толщине изделия судят по количеству энергии светового пучка, поглощаемой изделием.

Предлагаемый способ отличается от известных тем, что для повыщения точности и чувствительности измерения листовых издели), например тканей, используют астигматический сходящийся пучок двоякой симметрии и располагают изделие в его меридиапальпой плоскости.

Для осуществления описываемого сиособа может быть использовано устройство, принципиальна я схема которого изображена на чертеже.

Устройство содержит осветитель /, оптическую систему двоякой симметрии, например, в виде положительной цилиндрической линзы 2, измерительную обойму, состоящую из элементов 3 VI 4, систему собирающих линз 5, фотоэлементы 6 и регистрирующую аппаратуру 7.

Устройство работает следующим образом. Измеряемое изделие 8 располагают между

элементами 3 -л 4 измерительной обоймы и через него пропускают световой пучок, который попадает на систему собирающих линз, в фокусе последних устаповлены фотоэлементы. Из общего светового потока, попадаюнхего па собирающие линзы, часть потока задерживается измерительной обоймой (постоянная величина) и измеряемым 11здел ем (переменная величина).

Световой поток, попадающий на систему линз, несет информацию о толщине (площади поперечного сечения) изделия, которая преобразуется в электрический сигнал фотоэлементами и фиксируется регистрирующей аппаратурой.

Предмет изобретения

Бесконтактный способ измерения толщины изделий, заключающийся в том, что о толщине изделия судят по количеству энергии светового пучка, поглощаемой изделием, отличающийся тел, что, с целью повыщения точиости и -чувствительности измерения листовых изделий, например тканей, используют астигматический сходящийся пучок двоякой симметрии и располагают изделие в его меридианальной плоскости.

;-л: v-:.

., ; t

ч. .