Изобретение относится к области электронной ТС.Х1ИИКИ и предназначено для измерения иара.метров полуироводниковы.х приборов.
Известен способ из.мереиия времеии жизни неосиов1НЕ)х носителей заряда, ири котором из.мерения проводят на начальном линейном участке кривой зависимости полной эквивалентной е.мкости Сэ от тока пря.мого смеи;еиия ирн условии Сб«Сд , где Сб -емкость барьерного перехода, Сд -диффузионная емкость. Для бы стродействующих диодов это условие на линей.нол участке выполняется.
Цель изобретения - повышение точности изльереи.ий иа низких частотах.
Цель достигается те.м, что по предлагаемому способу определяют отношение .макси.мальной емкости диода к соответствуюш,ей ей величине прямого тока с учетом завнсимости времени жизни неосновных носителей от уровня инжекции я особенностей геометрии данного типа
ДНОДОБ.
Сущность опнсываелюго способа заключается в следующем.
Для измерення времеии жизни неосновных носителей заряда измеряют максимальную е.мкость диода и определяют соотвествующую ей величину прямого тока; искомый параметр определяют по фор.муле
где п - коэфф ии1ент, учнтываюнл,нй зависимость вре.менн жизнн от уровня инжекции и особенностей геометрии данного типа диодов. Ц а фиг. 1 представлена блок-схема устройства, реализующего предлагаемый способ.
Устрой.ство содержит испытуемый днод /, разделительную е.мкость 2, измеритель емкости 3, усилитель напряжения 4, преобразователь 5 пилообразного напряЖеиия в ток, двухлучевой осциллограф 6.
Иилообразиое иапряженне |развертки с выхода двухплечсвого осциллографа 6 подается одновременно иа уснлитель 4 и преобразователь 5 пилообразногоиапряжения в то.к пнлообразной
(j)opMbi. Ток, сформнроваиный преобразовате.1ем, протекает через диод /, линейно возрастая io времени; на выходе нзмернтеля е.мкости напряжение .меняется во времени пропорционально за.внсимостн полной эквивалентной емкости диода от тока и. поступая на первый вход осциллографа, дает на экране соответствующую кривую.
Одновременно с выхода уснлнтеля 4 пилообразное напряжение подается на второй вход
осциллографа, в результате чего на экране осциллографа наблюдаются одиовре.менно две кривые, которые иачинаются IB один и тот же момент благодаря синхроииости иапряжений развертки обеих кривых. Регулироваиием конапряжения Лз.мспяюг .макс11.алы1ос значение напряжения таким образом, чтобы обе кривые пересеклись в точке максимума кривой полной эквивалентиой емкоети (фиг. 2); время жизн н отсч;ит 1ваетея по углу поворота :ручки регулировки .максимальиого значения амплитуды пилообразного напряжения.
Предмет и з о б р е т е ипя Способ измерения времени жнзни неоснов1 Ы носителей заряда в базе германиевых полупроводниковых быстродействующих диодов, отличающийся тем, что, с целью обеспечения возможности измерения на низких ча стотах, определяют отношение максимальной емкости диода к соответствующей ей величине прямого тока с учетом зависимости времени жизни иеосновных носителей от уровня лнжекции и особенностей геометрии каждого данного типа диодов.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ измерения времени жизни неосновных носителей заряда в полупроводниковых р-п переходах | 1980 |
|
SU951198A1 |
Способ определения времени жизни неосновных носителей заряда в полупроводниковых приборах с @ - @ переходами | 1982 |
|
SU1092436A1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВ БЕСКОНТАКТНЫМ СВЧ МЕТОДОМ | 2010 |
|
RU2430383C1 |
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЭФФЕКТИВНОГО ВРЕМЕНИ | 1971 |
|
SU306512A1 |
Способ диагностики предпробойного состояния твердых диэлектриков | 1981 |
|
SU1012675A1 |
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР | 1968 |
|
SU213194A1 |
СТРОБОСКОПИЧЕСКИЕ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛИ | 1997 |
|
RU2136006C1 |
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЖИЗНИ НЕОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В АКТИВНОЙ ОБЛАСТИ СВЕТОДИОДА | 1990 |
|
RU2018993C1 |
Способ определения времени жизниНЕОСНОВНыХ НОСиТЕлЕй зАРядА B Об'ЕМЕпОлупРОВОдНиКА | 1979 |
|
SU832625A1 |
Устройство для измерения напряженности магнитного поля | 1982 |
|
SU1035544A1 |
Авторы
Даты
1972-01-01—Публикация